内存电性测试器制造技术

一种内存电性测试器，用以电性连接内存多测试接脚的任意二者，并供同时短路二个该测试接脚，该电性测试器包括二个电性接头、以及分别电性连接各该电性接头的电路开关，该电路开关并供切换短路与断路的其中一者，由此同时短路任二个接脚以降低单位信号所造成的干扰，进而提高多位元信号电性测试的准确性。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

内存电性测试器
5 本技术涉及一种电性测试器，尤指一种可任意短路内存的任两组测试接脚的内存电性测试器。
技术介绍
内存是用以配合电脑装置中的中央处理单元高速储存正在处理的 程序及数据，所以成为电脑系统中的重要元件，因此对于该内存的可 10 靠性及容错能力等电性特性，也成为业界研究的重要课题，有鉴于此，业界大多将错误检查与纠错程序(Error Correcting Code ; ECC)应用于 伺服器、工作站等电子装置中，用以测试配置于该电子装置中的内存 的电性。然而要应用上述错误检查与纠错技术需配合使用一个内存电 性测试器，通过该内存电性测试器令一个待测内存产生内存脚位错误15 (memory single - bit error),从而供后续通过该错误检查与纠错程序执行 内存性能测试，以获得该电子产品的电性数据。现有内存的电性测试，是通过短路待测内存的测试接脚，触发相 对应的电路信号进行该内存的电性判断，于测试单一测试接脚时，将 电性接头套设于待测试的接脚上，从而使该测试接脚产生错误信号。20 于同时测试两组测试接脚时，必须同时短路任二个接脚，方可产生正 确的多位信号，然而本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种内存电性测试器，用于测试内存的多测试接脚的任意二者，其特征在于该电性测试器包括：　二个电性接头，分别用以电性连接其中一个测试接脚；以及　　电路开关，分别电性连接各该电性接头的一端，以切换短路与断路的其中一者。

【技术特征摘要】
1.一种内存电性测试器，用于测试内存的多测试接脚的任意二者，其特征在于该电性测试器包括二个电性接头，分别用以电性连接其中一个测试接脚；以及电路开关，分别电性连接各该电性接头的一端，以切换短路与断路的其中一者。2. 根据权利要求1所述的内存电性测试器，其特征在于，每一个 电性接头...

【专利技术属性】
技术研发人员：章熙朗，陈志丰，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]