光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法技术

本发明专利技术公开一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法，按如下步骤进行：使光学头处于聚焦状态；调整聚焦误差信号生成参数，在聚焦误差信号Ｓ字线性区确定至少３个等距的聚焦点；在每个聚焦点上分别进行聚焦增益自动调整，根据聚焦增益自动调整值，计算每个聚焦点的斜率值；计算聚焦点斜率的最大值与最小值之间的比值，即得到线性度指标。可在１～２秒钟内完成线性度的自动测量，具有操作简单、结果准确、劳动强度低及检测效率高等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光盘刻录机或播放器光学头性能的测量方法，尤其是一种 操作简单、结果准确、劳动强度低、检测效率高的光学头聚焦误差信号线性度 的自动测量方法。
技术介绍
光学头聚焦误差信号(FE)是由伺服信号经过聚焦误差信号生成单元，再经过生成参数(l-balance、 l+balance)调整而形成，通过变化调整生成参数可 使光学头的聚焦点沿聚焦误差信号(FE)的S字形移动。S字的线性度既光学 头聚焦误差信号的线性度，是一个重要的性能指标，如线性度差就会影响光学 头聚焦伺服的稳定性，通常用KINK值来表示，以l为基准，KINK值大则 说明聚焦误差信号(FE)的线性度差。目前，对于光学头KINK值的测量均使 用目测方法，即通过观察示波器上测得的光学头聚焦误差信号(FE)的图形来 判断。此方法操作复杂、劳动强度高、效率低，因此在实际生产中并不能对光 学头进行全数检査。即便这样还存在着检测结果受人为因素影响大、精确度低 等问题，直接影响了产品的可靠性。
技术实现思路
本专利技术是为了解决现有技术所存在的操作复杂、劳动强度高、效率及精确 度低等技术问题，提供一种操作简单、结果准确、劳动强度低、检测效率高的 。本专利技术的技术解决方案是 一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方 法，其特征在于按如下步骤进行a. 使光学头处于聚焦状态；b. 调整聚焦误差信号生成参数，在聚焦误差信号S字线性区确定至少3 个等距的聚焦点；c. 在每个聚焦点上分别进行聚焦增益自动调整，根据聚焦增益自动调整 值，计算每个聚焦点的斜率值；e.计算聚焦点斜率的最大值与最小值之间的比值，即得到线性度指标。本专利技术是用计算机进行操作，在聚焦误差信号S字线性区确定至少3个等 距的聚焦点，在每个聚焦点上分别进行聚焦增益自动调整，通过计算每个聚焦 点的斜率值，并将聚焦点斜率的最大值与最小值相比，其比值即光学头聚焦误 差信号线性度，可在1 2秒钟内完成线性度的自动测量，具有操作简单、结果 准确、劳动强度低及检测效率高等优点。附图说明图l是本专利技术实施例的流程图。图2是本专利技术实施例确定聚焦点的示意图。具体实施例方式下面将结合附图说明本专利技术的具体实施方式。如图l所示具体操作步骤 如下a. 通过聚焦伺服控制，使光学头处于聚焦状态；b. 调整聚焦误差信号生成参数balance,使光学头的聚焦点在聚焦误差信 号S字线性区移动，如图2所示确定至少2n+l个等距的聚焦点(11=1、2、3……)， 2n+l个等距的聚焦点应上下均匀分布，且当n=l时，两端的聚焦点不应是最高 或最低点；c. 按照现有技术在每个聚焦点上分别进行聚焦增益自动调整，即使聚焦伺 服系统经数字PID校正后的幅频特性曲线的截至频率c满足设计值；测量前 应通过实验，列出自动增益调整值与聚焦误差信号S字线性区斜率的对应关系， 并将对应关系存储于计算机中；测量时根据每个聚焦点自动增益调整值与聚焦 误差信号S字线性区斜率的对应关系，即可计算出每个聚焦点的斜率值并将所 得到的斜率值进行存储；d. 找出聚焦点斜率的最大值及最小值，计算聚焦点斜率的最大值与最小值 之间的比值，即得到线性度指标。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法，其特征在于按如下步骤进行：　ａ．使光学头处于聚焦状态；　ｂ．调整聚焦误差信号生成参数，在聚焦误差信号Ｓ字线性区确定至少３个等距的聚焦点；　ｃ．在每个聚焦点上分别进行聚焦增益自动调整，根据聚焦增益自动调整值，计算每个聚焦点的斜率值；　ｄ．计算聚焦点斜率的最大值与最小值之间的比值，即得到线性度指标。

【技术特征摘要】
1. 一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法，其特征在于按如下步骤进行a. 使光学头处于聚焦状态；b. 调整聚焦误差信号生成参数，在聚焦误差信号S字线性区确定至少3个等...

【专利技术属性】
技术研发人员：余永立，郭文健，
申请(专利权)人：中国华录松下电子信息有限公司，
类型：发明
国别省市：91[中国|大连]