基于光学C-lens一光基片快速分析的设备制造技术

本实用新型专利技术公开了基于光学C

【技术实现步骤摘要】
基于光学C
‑
lens一光基片快速分析的设备


[0001]本技术涉及光学元件仪器
，尤其涉及基于光学C
‑
lens一光基片快速分析的设备。

技术介绍

[0002]任何一个用于形成光路，组成光学或者跟光学有关的仪器、器件都是光学元件，比如透镜，光纤，平面镜，光栅，光隔离器，分束器，光栅等。这样通过光学元件的折射反射能力，从而可以对物质进行分析，在对光基片快速分析时，这样就可以采用基于光学C
‑
lens一光基片快速分析的设备，从而提高整体的检测分析精确度。
[0003]现有装置还存在有以下不足之处：目前，现有基于光学C
‑
lens一光基片快速分析的设备在分析时，采用人工进行光学检测板的推移，使得在分析时不是很方便，而且在分析时容易受到外侧光学影响的问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的基于光学C
‑
lens一光基片快速分析的设备。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]基于光学C
‑
lens一光基片快速分析的设备，包括固定面板和底座外壳，所述固定面板安装固定在底座外壳的上端后侧位置上，所述底座外壳的下端拐角处设置有防滑支撑脚，所述底座外壳的内部设置有内部凹槽，所述内部凹槽的内侧位于底座外壳上设置有电机驱动内座，所述电机驱动内座的上方位于底座外壳的滑槽中设置有光学检测锯齿板，所述光学检测锯齿板的上方位于底座外壳上设置有遮光保护罩，所述固定面板的上端前侧中间设置有分析机体，所述分析机体的外端设置有检修盖板，所述分析机体的下端设置有光学检测探头，所述光学检测探头的外侧位于分析机体上设置有探头检测保护套，所述电机驱动内座和分析机体通过连接线与外部电源电性连接。
[0007]进一步的，所述遮光保护罩包括焊接连接板、中空外壳、内部套环和遮光内板，所述中空外壳的内侧一周设置有遮光内板，所述中空外壳和遮光内板的上端中间设置有内部套环，所述中空外壳的两端下侧设置有焊接连接板，所述焊接连接板连接在底座外壳上。
[0008]进一步的，所述探头检测保护套包括插接短柱、上侧金属环、折叠波纹管和喇叭套块，所述插接短柱的下端设置有上侧金属环，所述上侧金属环的下端设置有折叠波纹管，所述折叠波纹管的下端设置有喇叭套块，所述上侧金属环通过插接短柱连接在分析机体上。
[0009]进一步的，所述光学检测锯齿板包括内部光板、滑动转轮块、金属外壳和底部齿轮板，所述金属外壳的内部中间设置有内部光板，所述金属外壳的两端外侧设置有滑动转轮块，所述金属外壳的下端设置有底部齿轮板，所述底部齿轮板啮合连接在电机驱动内座上，所述滑动转轮块连接在底座外壳上。
[0010]进一步的，所述电机驱动内座包括金属内板、转动齿轮、驱动电机和支撑短柱，所
述金属内板的下端拐角处设置有支撑短柱，所述金属内板的上端凹槽处设置有驱动电机，所述驱动电机的上端设置有转动齿轮，所述转动齿轮啮合连接在光学检测锯齿板上，所述支撑短柱连接在底座外壳上。
[0011]进一步的，所述防滑支撑脚共设置有四个，且所述防滑支撑脚对称固定在底座外壳的下端四个拐角处上。
[0012]进一步的，所述探头检测保护套套接固定在光学检测探头的外侧一周上，且所述光学检测探头位于探头检测保护套的内侧中间位置上。
[0013]与现有技术相比，本技术提供了基于光学C
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lens一光基片快速分析的设备，具备以下有益效果：
[0014]1.该基于光学C
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lens一光基片快速分析的设备，通过设置有遮光保护罩结构，使得起到很好的遮光保护作用，遮光保护罩的中空外壳通过焊接连接板焊接固定在底座外壳上，这样在使用的时候不易脱落，从而中空外壳起到很好的遮挡与保护作用，而在检测时，因中空外壳内部一周的遮光内板，从而有效遮挡外侧光学，这样有效避免外部光线的干扰，使得检测更加精确，而检测时，光学检测探头因中空外壳和遮光内板内部的内部套环，从而便于通过检测使用。
[0015]2.该基于光学C
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lens一光基片快速分析的设备，通过设置有光学检测锯齿板结构，这样便于驱动移动，光学检测锯齿板的金属外壳通过滑动转轮块套接固定连接在底座外壳上，这样便于限位滑动使用，从而便于移动，内部光板上端物品在移动检测时，因内部光板外侧金属外壳下端的底部齿轮板，从而便于通过电机驱动内座的电机正反转动进行前后移动，使得在放置检测物进行检测时更加方便。
[0016]3.该基于光学C
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lens一光基片快速分析的设备，通过设置有电机驱动内座结构，从而便于调节驱动，电机驱动内座的金属内板通过支撑短柱焊接固定连接在底座外壳上，这样在使用的时候不易脱落，而在使用时，金属内板的驱动电机通过转动齿轮啮合连接在光学检测锯齿板上，从而便于驱动调节使用，使得光学检测锯齿板便于前后移动使用。
[0017]该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。
附图说明
[0018]图1为本技术提出的基于光学C
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lens一光基片快速分析的设备的立体结构示意图；
[0019]图2为本技术提出的基于光学C
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lens一光基片快速分析的设备的遮光保护罩结构示意图；
[0020]图3为本技术提出的基于光学C
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lens一光基片快速分析的设备的探头检测保护套结构示意图；
[0021]图4为本技术提出的基于光学C
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lens一光基片快速分析的设备的光学检测锯齿板结构示意图；
[0022]图5为本技术提出的基于光学C
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lens一光基片快速分析的设备的电机驱动内座结构示意图。
[0023]图中：1
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检修盖板、2
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探头检测保护套、21
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插接短柱、22
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上侧金属环、23
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折叠波纹管、24
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喇叭套块、3
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遮光保护罩、31
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焊接连接板、32
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中空外壳、33
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内部套环、34
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遮光内
板、4
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光学检测锯齿板、41
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内部光板、42
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滑动转轮块、43
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金属外壳、44
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底部齿轮板、5
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电机驱动内座、51
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金属内板、52
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转动齿轮、53
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驱动电机、54
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支撑短柱、6
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分析机体、7
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固定面板、8
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光学检测探头、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于光学C
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lens一光基片快速分析的设备，包括固定面板（7）和底座外壳（9），其特征在于，所述固定面板（7）安装固定在底座外壳（9）的上端后侧位置上，所述底座外壳（9）的下端拐角处设置有防滑支撑脚（10），所述底座外壳（9）的内部设置有内部凹槽（11），所述内部凹槽（11）的内侧位于底座外壳（9）上设置有电机驱动内座（5），所述电机驱动内座（5）的上方位于底座外壳（9）的滑槽中设置有光学检测锯齿板（4），所述光学检测锯齿板（4）的上方位于底座外壳（9）上设置有遮光保护罩（3），所述固定面板（7）的上端前侧中间设置有分析机体（6），所述分析机体（6）的外端设置有检修盖板（1），所述分析机体（6）的下端设置有光学检测探头（8），所述光学检测探头（8）的外侧位于分析机体（6）上设置有探头检测保护套（2），所述电机驱动内座（5）和分析机体（6）通过连接线与外部电源电性连接。2.根据权利要求1所述的基于光学C
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lens一光基片快速分析的设备，其特征在于，所述遮光保护罩（3）包括焊接连接板（31）、中空外壳（32）、内部套环（33）和遮光内板（34），所述中空外壳（32）的内侧一周设置有遮光内板（34），所述中空外壳（32）和遮光内板（34）的上端中间设置有内部套环（33），所述中空外壳（32）的两端下侧设置有焊接连接板（31），所述焊接连接板（31）连接在底座外壳（9）上。3.根据权利要求1所述的基于光学C
‑
lens一光基片快速分析的设备，其特征在于，所述探头检测保护套（2）包括插接短柱（21）、上侧金属环（22）、折叠波纹管（23）和喇叭套块（24），所述插接短柱（21）的下端设置有上侧金属环（22），所述上侧金属环（22）的下端设置有...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈禄村，
申请(专利权)人：福州科斯联光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：