一种集成式便于快速对准测量的结构制造技术

本实用新型专利技术涉及激光测量技术领域，具体为一种集成式便于快速对准测量的结构，包括装置本体，所述装置本体包括光学底板，所述光学底板上设有光束质量分析仪，所述光束质量分析仪一侧的光学底板上通过阻尼转轴安装有反射镜，所述反射镜一面的光学底板上通过阻尼转轴安装有偏振片，所述偏振片一侧的光学底板上安装有光束收集器。本实用新型专利技术通过设置有反射镜、偏振片、光束收集器和半波片，这样利用可调节的反射镜和偏振片来实现改变入射光的偏振态，进而控制进入光束质量分析仪的功率大小，这样就减少了来回添加衰减片控制入射功率的过程，从而达到快速调试，让本装置的测量效率更高，同时本装置结构简单、操作简便，更加便于工作人员进行操作。人员进行操作。人员进行操作。

【技术实现步骤摘要】
一种集成式便于快速对准测量的结构


[0001]本技术涉及激光测量
，具体为一种集成式便于快速对准测量的结构。

技术介绍

[0002]随着激光技术不断发展,激光的应用已经遍及科技、军事、社会发展等领域，同时如何对其参数测量进行测量已经成为激光技术研究中的热点问题。
[0003]通过激光技术应用的拓宽,先进的激光光束质量分析仪已然成为激光应用领域的关键，目前光束质量分析仪器结构种类繁多，其中结构简单测量参数较多的光束质量分析仪市场价格高，而价格较低的产品却存在着对准测量慢等问题，以及在使用光束质量分析仪时需要对光进行一定程度地衰减，不仅增加了工作人员的测量难度，且调试时间过长，影响了测量效率，因此需要设计一种集成式便于快速对准测量的结构。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种集成式便于快速对准测量的结构，以解决上述
技术介绍
中提出的目前光束质量分析仪器结构种类繁多，其中结构简单测量参数较多的光束质量分析仪市场价格高，而价格较低的产品却存在着对准测量慢等问题，以及在使用光束质量分析仪时需要对光进行一定程度地衰减，不仅增加了工作人员的测量难度，且调试时间过长，影响了测量效率的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成式便于快速对准测量的结构，包括装置本体，所述装置本体包括光学底板，所述光学底板上设有光束质量分析仪，所述光束质量分析仪一侧的光学底板上通过阻尼转轴安装有反射镜，所述反射镜一面的光学底板上通过阻尼转轴安装有偏振片，所述偏振片一侧的光学底板上安装有光束收集器，所述偏振片另一侧的光学底板上通过阻尼转轴安装有半波片。
[0006]优选的，所述光学底板上均匀开设有螺孔，且各个螺孔之间的距离为2.5cm，所述光学底板四个顶点的螺孔中皆插入有M6螺丝，且M6螺丝的规格和螺孔的规格相适配。
[0007]优选的，所述光束质量分析仪和光束收集器通过压块和M6螺丝进行安装，且M6螺丝规格和压块规格相适配。
[0008]优选的，所述光学底板和压块的材质皆为铝制，所述光学底板的大小型号为40*60cm。
[0009]优选的，所述反射镜和偏振片的初始安装角度皆为45
°
，所述偏振片和反射镜直径为50mm。
[0010]优选的，所述光束质量分析仪和反射镜内侧的光学底板上安装有衰减片架，所述衰减片架的一端开设有衰减片槽，且衰减片槽的数量为三个。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0012]1、通过设置有反射镜、偏振片、光束收集器和半波片，这样利用可调节的反射镜和
偏振片来实现改变入射光的偏振态，进而控制进入光束质量分析仪的功率大小，这样就减少了来回添加衰减片控制入射功率的过程，从而达到快速调试，让本装置的测量效率更高，同时本装置结构简单、操作简便，更加便于工作人员进行操作。
[0013]2、通过设置有多个螺孔和M螺丝，这样旋转M螺丝就可以将本装置整体进行高度提升，从而使得光束质量分析仪的进光孔高度就与待测光源高度一致，进而增加了本装置的适用性和实用场景，让本装置更加实用以及受到环境的约束更小。
[0014]3、通过设置有衰减片架和三个衰减片槽,这样使得工作人员在特定情况下依旧可以使得衰光片进行调配，增加了本装置调配时的多样性，进一步提升了本装置的适用范围，以及可以进行配合适用，让工作人员可进行多种调试模式进行选择，使得本装置更加具有人性化。
附图说明
[0015]图1为本技术的结构左侧俯视立体示意图；
[0016]图2为本技术的结构背面俯视立体示意图；
[0017]图3为本技术的M6螺丝结构立体示意图；
[0018]图4为本技术的衰减片架结构立体示意图。
[0019]图中：1、装置本体；110、光学底板；111、光束质量分析仪；112、光束收集器；113、反射镜；114、偏振片；115、半波片；116、螺孔；117、M6螺丝；118、衰减片架；119、衰减片槽。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]请参阅图1
‑
4，本技术提供的一种实施例：
[0022]一种集成式便于快速对准测量的结构，包括装置本体1，本申请中使用的光束质量分析仪111和光束收集器112为市场上可直接购买到的产品，其原理和连接方式均为本领域技术人员熟知的现有技术，故在此不再赘述，装置本体1包括光学底板110，光学底板110上设有光束质量分析仪111，光束质量分析仪111一侧的光学底板110上通过阻尼转轴安装有反射镜113，反射镜113一面的光学底板110上通过阻尼转轴安装有偏振片114，偏振片114一侧的光学底板110上安装有光束收集器112，偏振片114另一侧的光学底板110上通过阻尼转轴安装有半波片115，这样利用可调节的反射镜113和偏振片114来实现改变入射光的偏振态，进而控制进入光束质量分析仪111的功率大小，这样就减少了来回添加衰减片控制入射功率的过程，从而达到快速调试，让本装置的测量效率更高，同时本装置结构简单、操作简便，更加便于工作人员进行操作。
[0023]进一步的，光学底板110上均匀开设有螺孔116，且各个螺孔116之间的距离为2.5cm，光学底板110四个顶点的螺孔116中皆插入有M6螺丝117，且M6螺丝117的规格和螺孔116的规格相适配，这样旋转M6螺丝117就可以将本装置整体进行高度提升，从而使得光束质量分析仪111的进光孔高度就与待测光源高度一致，进而增加了本装置的适用性和实用
场景，让本装置更加实用以及受到环境的约束更小。
[0024]进一步的，光束质量分析仪111和光束收集器112通过压块和M6螺丝117进行安装，且M6螺丝117规格和压块规格相适配，这样便于对光束收集器112和光束质量分析仪111进行拆卸更换，以及安装时更加快速，间接提升了本装置在测量准备时的工作效率。
[0025]进一步的，光学底板110和压块的材质皆为铝制，光学底板110的大小型号为40*60cm，这样使其有更大的工作面板，同时更为轻便，便于工作人员进行转运和携带。
[0026]进一步的，反射镜113和偏振片114的初始安装角度皆为45
°
，偏振片114和反射镜113直径为50mm，使得光更容易让光照射在偏振片114上，让工作人员在使用本装置时调配过程更加快速，对准时更加方便。
[0027]进一步的，光束质量分析仪111和反射镜113内侧的光学底板110上安装有衰减片架118，衰减片架118的一端开设有衰减片槽119，且衰减片槽11本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成式便于快速对准测量的结构，包括装置本体(1)，其特征在于：所述装置本体(1)包括光学底板(110)，所述光学底板(110)上设有光束质量分析仪(111)，所述光束质量分析仪(111)一侧的光学底板(110)上通过阻尼转轴安装有反射镜(113)，所述反射镜(113)一面的光学底板(110)上通过阻尼转轴安装有偏振片(114)，所述偏振片(114)一侧的光学底板(110)上安装有光束收集器(112)，所述偏振片(114)另一侧的光学底板(110)上通过阻尼转轴安装有半波片(115)。2.根据权利要求1所述的一种集成式便于快速对准测量的结构，其特征在于：所述光学底板(110)上均匀开设有螺孔(116)，且各个螺孔(116)之间的距离为2.5cm，所述光学底板(110)四个顶点的螺孔(116)中皆插入有M6螺丝(117)，且M6螺丝(117)的规格和螺孔(116)的规格相适配。3.根据权利要求2所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：王章鹏，邢雪冰，方磊，朱国山，胡召意，查根胜，
申请(专利权)人：安徽华创鸿度光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：