一种双光束相位差调制方法及调制装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种双光束相位差调制方法及调制装置，基于光学斩波器调制激光束原理，通过控制光学斩波器的位移量，来获得双光束的相位差。本发明专利技术采用机械式位移控制激光束相位差，且不受激光波长的影响，可控制任意波长分束后双光束的相位差。本发明专利技术调制装置可在不改变原光路的前提下，作为部分光路添加于光路中，且方法简单快速，克服了多波长激光束相位差控制难、成本高的问题。成本高的问题。成本高的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种双光束相位差调制方法及调制装置


[0001]本专利技术涉及光学检测领域，具体是一种双光束相位差调制方法及调制装置。

技术介绍

[0002]近年来，光束相位调制和光束整形等问题成为当今学者们的研究热点，其主要应用于光束传输变换、光通信及光学微操控等领域。通过对激光光束加载不同的相位，来获得不同特殊性质的调制光束，利用这些调制光束的特性，可以更好的应用于各个领域。
[0003]用于调制激光束相位的光学器件有电光相位调制器、空间光调制器、数字微镜器件、光学快门、光弹调制器等。这些光学器件的优点是调制精度高、调制频率高、光学响应时间快，其应用在精密仪器研究中越来越广泛。但这些激光相位调制器件一般只应用于特定波长或者特定窄波段范围内，当仪器设备中需要进行相位调制的激光束波段较宽时，所需要的激光相位调制器件数量就会随之增加，这就大大增加了仪器设备的成本和调制难度。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题是提供一种双光束相位差调制方法及调制装置，基于光学斩波器调制激光束技术，可以对双光束的相位差进行精确控制，克服了多本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双光束相位差调制方法，其特征在于：首先在光学斩波器的斩波片上建立XY轴坐标系，斩波片的圆心即为XY轴坐标系的中点，然后将双光束同时入射到斩波片上，双光束入射到斩波片上的光斑A和B位于斩波片沿X轴延伸的径线上且沿斩波片的圆心对称，光斑点A和B距离斩波片圆心的距离均为α，然后带动光学斩波器沿Y轴平移，即斩波片同时沿Y轴平移，平移的位移量为δ
y
，此时双光束入射到斩波片上的光斑由A和B变换为C和D，光斑C的相位角为θ1，光斑D的相位角为θ2，得到方程：，得到方程：光斑D和光斑C的相位差为：θ2‑
θ1＝180
°‑
2arctan(δ
y
/α)，通过带动光学斩波器沿Y轴平移不同的位移量δ
y
,即得到双光束不同的相位差值；其中，所述的双光束入射的同时，光学斩波器的斩波片始终处于持续旋转的过程，保证双光束正常穿过斩波片。2.根据权利要求1所述的一种双光束相位差调制方法，其特征在于：所述的双光束垂直入射到斩波片上，形成光斑A和B或光斑C和D。3.根据权利要求1所述的一种双光束相位差调制方法，其特征在于：所述的双光束进行相位差调制时，斩波片沿Y轴正向平移位移量δ
y
...

【专利技术属性】
技术研发人员：张健，余霞，陈坚，周海峰，
申请(专利权)人：合肥知常光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：