一种LTCC滤波器测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种LTCC滤波器测试装置，包括PCB板和导电胶，所述导电胶位于所述PCB板表面，所述LTCC滤波器通过所述导电胶与所述PCB板电性连接，所述PCB板上不同微带线的导体层厚度t具有高度差。本实用新型专利技术通过对PCB板的微带线做加镀处理，使不同微带线之间形成高度差，测试时，与LTCC滤波器不同引脚电极的引脚长度相配合，解决了LTCC滤波器不同引脚电极电镀过程产生镀层厚度差而引起的电性能测试过程中易倾斜、测试精度差及导电胶损耗大的问题。问题。问题。

【技术实现步骤摘要】
一种LTCC滤波器测试装置


[0001]本技术涉及一种测试装置，尤其涉及一种LTCC滤波器测试装置。

技术介绍

[0002]目前LTCC滤波器产品由于存在引脚高低不平的问题，特别是对于多端子产品，电极引脚共面度差，在对其进行电性能测试过程中，产品容易产生歪斜，导致稳定性差使得测试结果不准确。
[0003]以上
技术介绍
内容的公开仅用于辅助理解本技术的构思及技术方案，其并不必然属于本专利申请的现有技术，在没有明确的证据表明上述内容在本专利申请的申请日已经公开的情况下，上述
技术介绍
不应当用于评价本申请的新颖性和创造性。

技术实现思路

[0004]本技术目的是为了解决现有技术中LTCC滤波器产品电极引脚共面度差导致测试结果不准确.的问题，提出一种LTCC滤波器测试装置。
[0005]本技术提出的一种LTCC滤波器测试装置，所述LTCC滤波测试装置包括PCB板和导电胶，所述导电胶位于所述PCB板表面，所述LTCC滤波器通过所述导电胶与所述PCB板电性连接，所述PCB板上不同微带线的导体层厚度t 具有高度差。
[0006]优选地，所述微带线的导体层厚度t为0.03～0.1mm。
[0007]优选地，所述微带线的导体层线宽W为0.6～1.2mm。
[0008]优选地，所述PCB板的基材厚度H为0.1～1mm。
[0009]优选地，所述PCB板的基材介电常数为4.4
±
0.2。
[0010]优选地，所述PCB板的微带线的导体层采用喷镀的方式覆盖在微带线表面。
[0011]本技术的有益效果包括：通过对PCB板的微带线做加镀处理，使不同微带线之间形成高度差，测试时，与LTCC滤波器不同引脚电极的引脚长度相配合，解决了LTCC滤波器不同引脚电极电镀过程产生镀层厚度差而引起的电性能测试过程中易倾斜、测试精度差及导电胶损耗大的问题。
附图说明
[0012]图1是本技术非等高微带线PCB测试装置中PCB板的俯视图。
[0013]图2是图1的局部侧视图。
具体实施方式
[0014]下面结合具体实施方式并对照附图对本技术作进一步详细说明。应该强调的是，下述说明仅仅是示例性的，而不是为了限制本技术的范围及其应用。
[0015]参照以下附图，将描述非限制性和非排他性的实施例，其中相同的附图标记表示相同的部件，除非另外特别说明。
[0016]实施例1：
[0017]如图1
‑
图2所示，本实施例提出一种LTCC滤波器测试装置，包括PCB板和导电胶，导电胶位于PCB板表面，LTCC滤波器通过导电胶与PCB板电性连接，PCB板上不同微带线的导体层厚度t具有高度差。通过对PCB板的微带线做加镀处理，使不同微带线之间形成高度差，测试时，与LTCC滤波器不同引脚电极的引脚长度相配合，解决了LTCC滤波器不同引脚电极电镀过程产生镀层厚度差而引起的电性能测试过程中易倾斜、测试精度差及导电胶损耗大的问题。
[0018]具体的，微带线的导体层厚度t为0.03～0.1mm；微带线的导体层线宽W为 0.6～1.2mm；PCB板的基材采用玻璃纤维板(FR4)，PCB板的基材厚度H为 0.1～1mm，基材介电常数为4.4
±
0.2。PCB板的微带线的导体层采用喷镀的方式覆盖在微带线的表面，具体地，PCB板的制作过程如下：
[0019]S1、测量LTCC滤波器的多个引脚的高度，并计算出不同引脚之间的高度差；
[0020]S2、根据LTCC滤波器的产品阻抗设计对应的PCB板；
[0021]S3、制作微带线等高的PCB板；
[0022]S4、针对S1中LTCC滤波器的多个引脚之间的高度差，对S3中的微带线进行喷镀处理形成具有厚度差的导体层，在本实施例中，微带线的不同厚度的导体层位置如图1中的t0、t1、t2、t3和t4及图2中的t所示，使喷镀处理后的微带线与LTCC滤波器的引脚通过导电胶进行电性能测试时，LTCC滤波器不发生倾斜。
[0023]通过测量出滤波器的各个引脚的高度，反向计算出PCB板上与对应的引脚配合的微带线的厚度，解决了LTCC滤波器因引脚高度不同在进行电性测试时易发生倾斜导致测量结果不准确的问题。
[0024]本领域技术人员将认识到，对以上描述做出众多变通是可能的，所以实施例和附图仅是用来描述一个或多个特定实施方式。
[0025]尽管已经描述和叙述了被看作本技术的示范实施例，本领域技术人员将会明白，可以对其做出各种改变和替换，而不会脱离本技术的精神。另外，可以做出许多修改以将特定情况适配到本技术的教义，而不会脱离在此描述的本技术中心概念。所以，本技术不受限于在此披露的特定实施例，但本技术可能还包括属于本技术范围的所有实施例及其等同物。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LTCC滤波器测试装置，其特征在于，所述LTCC滤波器测试装置包括PCB板和导电胶，所述导电胶位于所述PCB板表面，所述LTCC滤波器通过所述导电胶与所述PCB板电性连接，所述PCB板上不同微带线的导体层厚度t具有高度差。2.如权利要求1所述的LTCC滤波器测试装置，其特征在于，所述微带线的导体层厚度为0.03～0.1mm。3.如权利要求1所述的LTCC滤波器测试装置，其特征在于，所述微...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈长财，王清华，施素立，吴木荣，匡爱群，汤洋，
申请(专利权)人：顺络上海电子有限公司，
类型：新型
国别省市：