一种尺寸测量仪的实时测量方法技术

本发明专利技术公开一种尺寸测量仪的实时测量方法，1)初始化步骤、2)实时测量步骤、3)匹配步骤；本发明专利技术提供了高兼容、标准化、高效实时匹配检测的一种尺寸测量仪的实时测量方法。检测的一种尺寸测量仪的实时测量方法。检测的一种尺寸测量仪的实时测量方法。

【技术实现步骤摘要】
一种尺寸测量仪的实时测量方法


[0001]本专利技术涉及尺寸测量领域，更具体地说，它涉及一种尺寸测量仪的实时测量方法。

技术介绍

[0002]在自动化生产过程中，为了保证产品质量，需要使用尺寸测量仪对产品的尺寸进行测量操作。
[0003]传统的尺寸测量仪，难以很好的在保证自动化程度的前提下保证测量的精准度，容易出现由于测量误差过大而导致的不合格产品占有比例过大，增加成本的同时降低了工作效率，给使用者的使用带来不便。
[0004]因此图像尺寸测量仪成为一种趋势，其常用于测量二维尺寸。广泛应用在各种不同的精密产业中。目前主要用于在卡尺、角度尺很难测量到或根本测量不到的但在装配中起着重要的零部件尺寸、角度等，如硅胶、电路板的爬电距离、电器间隙、控制面板的灯孔、塑料件的某些尺寸等等，还可用于对某些零部件的图片进行拍摄用于分析不良原因。
[0005]但是现有的图像尺寸测量仪在实际使用时，仍旧存在较多缺点，目前难以做到全自动化检测，检测的过程五花八门没有一定的标准，使得最终检测结果也容易出现偏差，使得工作效率不高，对于高精度产品的检测，反而大大增加了工作人员的劳动强度，难以有效的帮助工作人员降低工作量，提高工作效率。尤其在实时测量过程中对图片的测量，难以对只是反转放置、已经移动等特殊情况下的检测判断。

技术实现思路

[0006]本专利技术克服了现有技术的不足，提供了高兼容、标准化、高效实时匹配检测的一种尺寸测量仪的实时测量方法。
[0007]为了解决上述技术问题，本专利技术的技术方案如下：
[0008]一种尺寸测量仪的实时测量方法，具体包括如下步骤：
[0009]1)初始化步骤：启动测量仪，打开操作软件后，进入开机初始化界面，进入模板选择界面，先根据数据库读取的数据在界面中进行显示；进入模板选择界面时，选择“进入测量”进入实时测量界面；
[0010]2)实时测量步骤：实时测量界面内的实时测量模块执行时，包括单张图像实时尺寸测量，其具体处理如下：
[0011]对待测图进行像素合并，再对像素合并后的待测图进行出界检测；接着判断自动对焦标志位是否有效，若有效，调用用于自动对焦区域选择的测量类型，执行实时测量自动对焦清晰度评价函数，返回清晰度值，再根据当前帧掩膜信息进行相关测量类型的尺寸测量；若无效，直接根据当前帧掩膜信息进行相关测量类型的尺寸测量；
[0012]若出界检测为未出界，对上一帧待测图进行像素合并，再进行帧间图像比较，接着判断自动对焦标志位是否有效，若有效，调用用于自动对焦区域选择的测量类型，执行实时测量自动对焦清晰度评价函数，返回清晰度值，再根据上一帧掩膜信息进行相关测量类型
的尺寸测量；若无效，直接根据上一帧帧掩膜信息进行相关测量类型的尺寸测量；若两者不一致，表明待测物已移动，再遍历所有勾选的模板信息，其中优先匹配模板编号对应的模板信息先进行，把相应的模板源图进行像素合并，对像素合并后的待测图和模板源图进行差分处理，若两者一致，终止遍历，直接根据当前模板源图的旋转平移结果进行当前帧图像的旋转平移；
[0013]3)匹配步骤：执行待测物匹配过程，若待测物未匹配成功，过待测物最小外接圆圆心做垂直轴线，以此轴线对待测物图像进行水平镜像，得到水平镜像图像，做为输入参量，跳转到待测物匹配流程执行；若匹配成功，则提示用户待测物放反，结束本流程；若未匹配成功，则输出待测物未匹配成功，结束单张图像实时测量。
[0014]本专利技术相比现有技术优点在于：
[0015]本专利技术的单张图像实时尺寸测量提供了高兼容、标准化、高效实时匹配检测，对于多种特种情况下如反转放置、已经移动等情况，也进行了合理判断，大大提高判断的准确度。
[0016]本专利技术的临时测量功能，实现通过临时制作实现临时测量工件的快速模板制作。还可实现超视场工件测量，当待测工件尺寸较大超出相机视场范围时，保持当前工件位置不变进行临时模板制作并进行尺寸测量，通过此方法可实现超视场工件的尺寸快速测量。
附图说明
[0017]图1为本专利技术的系统框图；
[0018]图2为本专利技术的系统初始化流程图；
[0019]图3为本专利技术的数据库操作流程图；
[0020]图4为本专利技术的光源检测流程图；
[0021]图5为本专利技术的模板选择界面图；
[0022]图6为本专利技术的模板选择流程图；
[0023]图7为本专利技术的模板搜索流程图；
[0024]图8为本专利技术的实时测量界面图；
[0025]图9为本专利技术的参数配置界面图；
[0026]图10为本专利技术的参数配置流程图；
[0027]图11为本专利技术的权限管理流程图；
[0028]图12为本专利技术的模板操作流程图；
[0029]图13为本专利技术的模板信息提取操作流程图；
[0030]图14为本专利技术的自动对焦模块的流程图；
[0031]图15为本专利技术的单张图像实时测量流程图；
[0032]图16为本专利技术的自动跳帧和帧率自适应流程图；
[0033]图17为本专利技术的连续测量流程图；
[0034]图18为本专利技术的自动跳帧和帧率自适应流程图；
[0035]图19为本专利技术的获取相机畸变参数和内参矩阵流程图；
[0036]图20为本专利技术的获取放大率流程图；
[0037]图21为本专利技术的模板制作界面测量结果显示示意图；
[0038]图22为本专利技术的自动曝光量调节流程图；
[0039]图23为本专利技术的设备示意图；
[0040]图24为本专利技术的图23的部分结构示意图；
[0041]图25为本专利技术的图23的升降调整部分的示意图。
具体实施方式
[0042]下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进一步说明。
[0043]实施例一：
[0044]如图15所示，一种尺寸测量仪的实时测量方法，首先启动测量仪，打开操作软件后，进入开机初始化界面，进入模板选择界面，先根据数据库读取的数据在界面中进行显示；进入模板选择界面时，选择“进入测量”进入实时测量界面；
[0045]再实时测量界面内的实时测量模块执行时，包括单张图像实时尺寸测量，其具体处理如下：
[0046]首先对待测图进行像素合并，再对像素合并后的待测图进行出界检测；若检测结果为出界，遍历所有勾选的模板名称，判断有无临时模板名称；若无临时模板名称，则输出待测物出界，结束单张图像实时测量流程；若有临时模板名称，对临时模板源图进行像素合并，再将像素合并后的待测图和像素合并后的临时模板源图做差分处理，若不一致，则输出待测物出界，结束单张图像实时测量流程；若一致，则根据临时模板源图的旋转平移结果进行当前帧图像的旋转平移；
[0047]接着判断自动对焦标志位是否有效，若有效，调用用于自动对焦区域选择的测量类型，执行实时测量自动对焦清晰度评价函数，返回清晰度值，再根据当前帧掩膜信息进行相关测量类型的尺寸测量；若无效，直接根据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种尺寸测量仪的实时测量方法，其特征在于，具体包括如下步骤：1)初始化步骤：启动测量仪，打开操作软件后，进入开机初始化界面，进入模板选择界面，先根据数据库读取的数据在界面中进行显示；进入模板选择界面时，选择“进入测量”进入实时测量界面；2)实时测量步骤：实时测量界面内的实时测量模块执行时，包括单张图像实时尺寸测量，其具体处理如下：对待测图进行像素合并，再对像素合并后的待测图进行出界检测；接着判断自动对焦标志位是否有效，若有效，调用用于自动对焦区域选择的测量类型，执行实时测量自动对焦清晰度评价函数，返回清晰度值，再根据当前帧掩膜信息进行相关测量类型的尺寸测量；若无效，直接根据当前帧掩膜信息进行相关测量类型的尺寸测量；若出界检测为未出界，对上一帧待测图进行像素合并，再进行帧间图像比较，接着判断自动对焦标志位是否有效，若有效，调用用于自动对焦区域选择的测量类型，执行实时测量自动对焦清晰度评价函数，返回清晰度值，再根据上一帧掩膜信息进行相关测量类型的尺寸测量；若无效，直接根据上一帧帧掩膜信息进行相关测量类型的尺寸测量；若两者不一致，表明待测物已移动，再遍历所有勾选的模板信息，其中优先匹配模板编号对应的模板信息先进行，把相应的模板源图进行像素合并，对像素合并后的待测图和模板源图进行差分处理，若两者一致，终止遍历，直接根据当前模板源图的旋转平移结果进行当前帧图像的旋转平移；3)匹配步骤：执行待测物匹配过程，若待测物未匹配成功，过待测物最小外接圆圆心做垂直轴线，以此轴线对待测物图像进行水平镜像，得到水平镜像图像，做为输入参量，跳转到待测物匹配流程执行；若匹配成功，则提示用户待测物放反，结束本流程；若未匹配成功，则输出待测物未匹配成功，结束单张图像实时测量。2.根据权利要求1所述的一种尺寸测量仪的实时测量方法，其特征在于，步骤2.1)中的出界检测，若检测结果为出界，遍历所有勾选的模板名称，判断有无临时模板名称；若无临时模板名称，则输出待测物出界，结束单张图像实时测量流程；若有临时模板名称，对临时模板源图进行像素合并，再将像素合并后的待测图和像素合并后的临时模板源图做差分处理，若不一致，则输出待测物出界，结束单张图像实时测量流程；若一致，则根据临时模板源图的旋转平移结果进行当前帧图像的旋转平移。3.根据权利要求1所述的一种尺寸测量仪的实时测量方法，其特征在于，步骤2.1)中的若两者不一致，具体的可以先将相应的模板源图特征信息按像素合并系数缩小，再执行待测物匹配流程，若待测物匹配成功，终止遍历，将待测物匹配流程中得到的像素合并后的待测物平移量按像素...

【专利技术属性】
技术研发人员：林建宇，潘凌锋，陈浙泊，陈一信，余建安，陈镇元，叶雪旺，陈龙威，吴荻苇，颜文俊，林斌，郑军，
申请(专利权)人：浙江大学台州研究院，
类型：发明
国别省市：