一种机匣同轴度辅助测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种机匣同轴度辅助测量装置，包括芯轴、轴段A和轴段B，所述的轴段B设置在芯轴底端，所述的轴段A设置在芯轴上，且轴段A靠近芯轴顶端，所述的轴段A、轴段B的直径均大于所述芯轴的直径，利用本实用新型专利技术可以实现机匣内部有双层孔，且下层孔为深盲孔的同轴度测量，解决目前采用三坐标测量机无法测量问题，实现了机匣以及类似工件结构的同轴度测量。量。量。

【技术实现步骤摘要】
一种机匣同轴度辅助测量装置


[0001]本技术涉及机匣同轴度测量
，特别涉及一种机匣同轴度辅助测量装置。

技术介绍

[0002]飞机机匣同轴度是一种比较常见的形位公差，目前测量方法以三坐标测量最为常见，如图1所示的结构为飞机机匣，需要检验机匣上相对应的深盲孔φB以及通孔φC的同轴度，如图1所示的φB孔对φC孔的同轴度φE，ΦA为过渡孔，在图1所示中的结构，存在的问题是φC与φB孔间距L较大(L≥150mm)；φC、φA、φB孔径小，最大的孔径φC≤φ18mm；且孔φB为盲孔；由于三坐标测量机安装测针的测杆直径较大，无法深入进φC孔中，同时由于测针长度不够，在与φA、φC孔同方向上无法采集到φB孔的相关尺寸，同时由于φB孔底部不通，机匣即使横向放置，也无法同时采集φA孔和φB孔的相关尺寸，进而导致机匣同轴度φE无法测量。

技术实现思路

[0003]本技术的目的：本技术提供机匣同轴度辅助测量装置，解决上述机匣同轴度无法测量的难题，实现机匣的同轴度测量。
[0004]本技术的技术方案：
[0005]一种机匣同轴度辅助测量装置，包括芯轴、轴段A和轴段B，所述的轴段B设置在芯轴底端，所述的轴段A设置在芯轴上，且轴段A靠近芯轴顶端，所述的轴段A、轴段B的直径均大于所述芯轴的直径。
[0006]所述的芯轴长度大于(L+10)mm，L为机匣上相对应的深盲孔与通孔之间的距离。
[0007]所述的轴段A设置在机匣上的过渡孔内，轴段A与机匣上的过渡孔间隙配合，公差范围为0～Mmm，M＝0.00026a+0.025，8mm≤a≤20mm，其中a为轴段A的直径。
[0008]所述的轴段B设置在机匣上的深盲孔内，轴段B与机匣上的深盲孔间隙配合，公差范围为0～Mmm，M＝0.00026b+0.025，mm8≤b≤20mm，其中b为轴段B的直径。
[0009]所述的轴段A底部进行倒角处理。
[0010]所述的轴段B底部进行倒角处理。
[0011]本技术的有益效果：
[0012]利用本技术可以实现机匣内部有双层孔，且下层孔为深盲孔的同轴度测量，解决目前采用三坐标测量机无法测量问题，实现了机匣以及类似工件结构的同轴度测量。
附图说明
[0013]图1机匣结构示意图；
[0014]图2为本技术结构示意图；
[0015]图3是本技术测量机匣同轴度安装示意图；
[0016]其中：1
‑
芯轴，2
‑
轴段A，3
‑
轴段B。
具体实施方式
[0017]下面对照附图，通过对实施例的描述，对本技术的具体实施方式如所涉及的各构件的形状、构造、各部分之间的相互位置及连接关系、各部分的作用及工作原理、制造工艺及操作使用方法等，作进一步详细的说明，以帮助本领域的技术人员对本技术的构思、技术方案有更完整、准确和深入的理解：
[0018]如图1所示的结构为飞机机匣，需要检验机匣上相对应的深盲孔φB以及通孔φC的同轴度，如图1所示的φB孔对φC孔的同轴度φE，ΦA为过渡孔，在图1所示中的结构，存在的问题是φC与φB孔间距L较大(L≥150mm)；φC、φA、φB孔径小，最大的孔径φC≤φ18mm；且孔φB为盲孔；由于三坐标测量机安装测针的测杆直径较大，无法深入进φC孔中，同时由于测针长度不够，在与φA、φC孔同方向上无法采集到φB孔的相关尺寸，同时由于φB孔底部不通，机匣即使横向放置，也无法同时采集φA孔和φB孔的相关尺寸，进而导致机匣同轴度φE无法测量。
[0019]如图2所示，一种机匣同轴度辅助测量装置，包括芯轴1、轴段A 2和轴段B 3，所述的轴段B3设置在芯轴1底端，所述的轴段A2设置在芯轴1上，且轴段A2靠近芯轴1顶端，所述的轴段A2、轴段B3的直径均大于所述芯轴1的直径。
[0020]所述的芯轴1长度大于(L+10)mm，L为机匣上相对应的深盲孔与通孔之间的距离。
[0021]所述的轴段A2设置在机匣上的通孔内，轴段A2与机匣上的通孔间隙配合，公差范围为0～Mmm，M＝0.00026a+0.025，8mm≤a≤20mm，其中a为轴段A2的直径，所述的轴段B3设置在机匣上的深盲孔内，轴段B3与机匣上的深盲孔间隙配合，公差范围为0～Mmm，M＝0.00026b+0.025，mm8≤b≤20mm，其中b为轴段B3的直径。
[0022]所述的轴段A2、轴段B3底部进行倒角处理。
[0023]使用时，通过将本技术的辅助测量装置装入被测机匣内，如图3所示，辅助测量装置轴段A2与机匣的过渡孔φA配合，轴段B2与机匣的深盲孔φB配合。检验机匣的通孔φC与图中所示“测量位置”的同轴度来判定机匣所要求的同轴度是否合格。在测量时将机匣被测基准D的实际情况反馈到辅助测量装置上，而轴段A2与机匣的过渡孔φA配合起到辅助支撑的作用，可以避免由于辅助测量在被测基准D处倾斜而导致的测量误差(由于L尺寸较大，稍稍倾斜将导致测量误差在上端被放大数倍)，提高测量的准确度。
[0024]上面结合附图对本技术进行了示例性描述，显然本技术具体实现并不受上述方式的限制，只要采用了本技术的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进，或未经改进将本技术的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种机匣同轴度辅助测量装置，其特征在于：包括芯轴(1)、轴段A(2)和轴段B(3)，所述的轴段B(3)设置在芯轴(1)底端，所述的轴段A(2)设置在芯轴(1)上，且轴段A(2)靠近芯轴(1)顶端，所述的轴段A(2)、轴段B(3)的直径均大于所述芯轴(1)的直径。2.根据权利要求1所述的一种机匣同轴度辅助测量装置，其特征在于：所述的芯轴(1)长度大于(L+10)mm，L为机匣上相对应的深盲孔与通孔之间的距离。3.根据权利要求1所述的一种机匣同轴度辅助测量装置，其特征在于：所述的轴段A(2)设置在机匣上的过渡孔内，轴段A(2)与机匣上的过渡孔间隙配合，公差范围为...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙海龙，刘百成，蔡明，周礼旎，刘双，张月，王军，王君禹，
申请(专利权)人：中国航发哈尔滨东安发动机有限公司，
类型：新型
国别省市：