在光记录介质上记录或从其重放的记录或重放装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及当在记录介质上记录和／或从其重放信息时用于信息的校正聚焦扫描的装置，并基于一个提供扫描光束的光源，一个聚焦物镜和一个光敏检测器系统。一个衍射元件以预定的固定距离设置在聚焦物镜和检测器系统之间的间隙中，用于导出聚焦误差信号，衍射元件被设计成产生实际上彼此分离的两个聚焦平面。检测器系统位于分离的聚焦平面之间，从而在散焦情况下改变的对称成像的聚焦点大小比率能够被用于导出聚焦误差信号。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及当在光记录介质上记录或从光记录介质重放信息时用来进行校正的聚焦光扫描的记录或重放装置，包括提供扫描光束的光源、聚焦物镜以及光敏检测器系统，光敏检测器系统基本上在一个平面上，和至少一个衍射元件，用来产生辅助光束以获得一个聚焦误差信号。众所周知，当从被称为光盘或CD的光记录介质重放时，在光电扫描系统的帮助下数字信息被读取，当光记录介质以200到500转/分的速度旋转时，排列在数据介质上的被称为凹坑的凸起或凹陷通过来自光源的聚焦光束无任何接触地被检测，光源如半导体激光器。光源产生的光束经一个光学系统到达光记录介质，光学系统可以具有反射镜、透镜和/或棱镜。当光束照射一个凹坑时，与平面上或各个凹坑之间的表面上的反射相对照，产生衍射和/或干扰现象，并且这些现象导致反射光束的调制。被现存记录介质的信息模式调制的光束经一个半反射棱镜等被送到检测器系统，例如，一个光电二极管。检测器系统用来把调制的光束转换成电信号，后级的求值电子线路用于从电信号获得出现在记录介质上的信息，用于进一步的处理。一个电子伺服电路以光束精确地跟随凹坑的轨迹的方式保证所述光束的跟踪，并不管任何通常不可避免的记本文档来自技高网...

【技术保护点】
当在光记录介质（１）上记录或从其重放信息时进行校正聚焦光扫描的装置，包括一个提供扫描光束的光源，一个聚焦物镜（２）以及基本上位于一个平面上的光敏检测器系统（５），和至少一个用于导出聚焦误差信号的衍射元件（４），其特征在于衍射元件（４）具有规定第一聚焦平面（７ａ）的第一分区，和规定第二聚焦平面（７ｂ）的第二分区，聚焦平面（７ａ、７ｂ）实际上彼此分离，衍射元件（４）以一个预定的、固定的距离位于物镜（２）和检测器系统（５）之间的间隙中，物镜（２）、衍射元件（４）和检测器系统（５）沿一个公共光轴排列，而且，检测器系统被设置在分开的聚焦平面（７ａ、７ｂ）之间。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】DE 1996-9-23 19638878.31.当在光记录介质(1)上记录或从其重放信息时进行校正聚焦光扫描的装置，包括一个提供扫描光束的光源，一个聚焦物镜(2)以及基本上位于一个平面上的光敏检测器系统(5)，和至少一个用于导出聚焦误差信号的衍射元件(4)，其特征在于衍射元件(4)具有规定第一聚焦平面(7a)的第一分区，和规定第二聚焦平面(7b)的第二分区，聚焦平面(7a、7b)实际上彼此分离，衍射元件(4)以一个预定的、固定的距离位于物镜(2)和检测器系统(5)之间的间隙中，物镜(2)、衍射元件(4)和检测器系统(5)沿一个公共光轴排列，而且，检测器系统被设置在分开的聚焦平面(7a、7b)之间。2.根据权利要求1的装置，其特征在于衍射元件(4)包括两个具有不同的光学厚度和不同的光栅常数的基本上平面的光栅板。3.根据权利要求1的装置，其特征在于衍射元件(4)具有两个不同光学厚度和相同光栅常数的平面光栅板，设置第一板的光栅表面面对检测器系统(5)，设置第二板的光栅表面背对检测器系统(5)。4.根据权利要求2或3的装置，其特征在于光栅板的平面基本上平行于检测器系统(5)的平面。5...

【专利技术属性】
技术研发人员：克里斯琴比克勒，邓辽金，
申请(专利权)人：德国汤姆逊布朗特公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]