光学拾取装置制造方法及图纸

具有单个的光束路径的光学拾取装置，其中用于相应的记录密度和／或多种光束（例如在波长上彼此不同）中的至少一个或两个中的一个光束向着光学记录介质的一个表面行进并在被该表面反射之后向着一个光束检测器行进。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光学拾取(pickup)装置，用于把信息记录到光学记录介质和/或从光学记录介质上读取信息。在现有技术中，当需要把信息记录到具有不同记录密度和/或介质厚度的多种光学记录介质上或者从不同的光学记录介质上读取信息时，需要采用多种光学系统—它们每一个都包括用于相应的记录密度和/或介质厚度的光束源、准直器、分束器、四分之一波片、以及物镜。本专利技术的目的，是提供一种用于具有彼此不同的记录密度和/或记录介质厚度的光学拾取装置，且该光学拾取装置的尺寸得到了减小。根据本专利技术的一种光学拾取装置具有单个的光束路径—其中用于相应的记录密度和/或记录介质厚度的光束(例如在波长上彼此不同)向着一个光学记录介质的表面行进或者在被该表面反射之后向着一个光束检测器行进。由于多种光束中的至少一种或任一种之一在单个的光束路径中沿着相反的方向行进，换言之，单个的光束路径被用来通过沿着相反方向的多种光束，光学记录介质与光束发射元件之间的结构和体积能够得到减小，以减小光学拾取装置的尺寸。图1是横截面图，显示了根据本专利技术的第一实施例的光学路径和光学拾取器的封装结构。图2是根据本专利技术的第一实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学拾取装置，用于在光学记录介质上记录信息和／或从该光学记录介质读取信息，包括： 第一光束源，用于向记录介质的表面发射第一光束， 第二光束源，用于向该表面发射第二光束，以及 一个光束检测器，用于接收被该表面反射之后的第一和第二光束中的至少一个，从而从被反射之后的该第一和第二光束中的至少一个读取信息， 其中该光学拾取装置具有单个的光束路径－沿着该路径第一和第二光束向着该表面行进并在被该表面反射之后向着光束检测器行进。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 1997-1-27 012169/97;JP 1997-2-17 031621/97;JP 11.一种光学拾取装置，用于在光学记录介质上记录信息和/或从该光学记录介质读取信息，包括第一光束源，用于向记录介质的表面发射第一光束，第二光束源，用于向该表面发射第二光束，以及一个光束检测器，用于接收被该表面反射之后的第一和第二光束中的至少一个，从而从被反射之后的该第一和第二光束中的至少一个读取信息，其中该光学拾取装置具有单个的光束路径—沿着该路径第一和第二光束向着该表面行进并在被该表面反射之后向着光束检测器行进。2.根据权利要求1的光学拾取装置，进一步包括一个容器—其中容纳有第一和第二光束源和光束检测器并包括一个孔径，通过该孔径第一和第二光束之一向着该表面行进并在被该表面反射之后向着光束检测器行进；以及一个光束引导部件，它覆盖了该孔径以便以这样的方式引导第一和第二光束—即第一和第二光束之一沿着单个的光束路径行进且第一和第二光束中的至少一个从该单个的光束路径被光束检测器所接收。3.根据权利要求2的光学拾取装置，其中容器被光束引导部件所密封。4.根据权利要求1的光学拾取装置，进一步包括一个光束直径改变率调节部件，用于调节第一和第二光束之一沿着第一和第二光束之一的光束轴的直径改变率，该光束直径改变率调节部件具有一个暴露表面—通过它第一和第二光束之一得以通过，且与该暴露表面接触的物质的折射率小于光束直径改变率调节部件的折射率。5.根据权利要求4的光学拾取装置，其中该物质与光束直径改变率调节部件的折射率之差不小于0.35至0.5。6.根据权利要求1的光学拾取装置，进一步包括一个电接地部件—第一和第二光源都与它相电连接。7.根据权利要求6的光学拾取装置，进一步包括一个容器—在其中接收有第一和第二光束源和光束检测器，其中电接地部件被装在该容器上。8.根据权利要求1的光学拾取装置，其中光束检测器在一个公共平面上检测第一和第二光束之一。9.根据权利要求8的光学拾取装置，其中在该公共平面检测第一光束的位置不同于在该公共平面上检测第二光束的另一位置。10.根据权利要求8的光学拾取装置，进一步包括一个容器—在其中接收了第一和第二光束源和光束检测器，其中该公共平面被设置在该容器中。11.根据权利要求1的光学拾取装置，进一步包括其上安装有第一光束源的第一光束源基座，以及其上安装有第二光束源的第二光束源基座，第一光束的功率大于第二光束的功率，且第一光束源基座的热能吸收值大于第二光束源基座的热能吸收值。12.根据权利要求11的光学拾取装置，其中第一光束源基座的体积大于第二光束源基座的体积。13.根据权利要求11的光学拾取装置，其中第一光束源基座的表面积大于第二光束源基座的表面积。14.根据权利要求11的光学拾取装置，其中自第一光束源基座的热能传导速率大于自第二光束源基座的热传导速率。15.根据权利要求11的光学拾取装置，其中从第一光束源基座的辐射热能速率大于从第二光束源基座的辐射热能速率。16.根据权利要求1的光学拾取装置，进一步包括其上安装有第一光束源的一个第一光束源基座，以及其上安装有第二光束源的一个第二光束源基座，第一光束的功率大于第二光束的功率，其中在彼此相对的第一和第二光束源基座的表面之间至少部分地形成了一个距离。17.根据权利要求16的光学拾取装置，其中在彼此相对的第一和第二光束源基座的表面之间部分地形成了一个接触区。18.根据权利要求1的光学拾取装置，进一步包括其上安装有第一光束源的第一光束源基座、其上安装有第二光束源的第二光束源基座、以及一个光学处理部件—该部件用于接收第一和第二光束中的至少一个从而使至少第一和第二光束中的一个的光束直径、行进路径、光束直径改变率、偏振和色差之一得到改变，第一光束的功率大于第二光束的功率，其中该光学处理部件被装在第二光束源基座上。19.根据权利要求18的光学拾取装置，其中光学处理部件被防止被支撑在第一光束源基座上。20.根据权利要求1的光学拾取装置，进一步包括其上装有第一光束源的第一光束源基座、其上安装有第二光束源的第二光束源基座、以及一个光学处理部件—该部件用于接收第一和第二光束中的至少一个从而使第一和第二光束中的至少一个的光束直径、行进路径、光束直径改变率、偏振和色差之一得到改变，且该光学处理部件被安装在第一和第二光束源基座之一上并被防止被支撑在第一和第二光束源基座的另一个上。21.根据权利要求1的光学拾取装置，进一步包括用于聚焦第一和第二光束之一的物镜，以及设置在第一和第二光束源中的至少一个与该物镜之间的一个色像差补偿装置—该装置用于对来自第一和第二光束源的至少一个的光束进行色像差补偿。22.根据权利要求21的光学拾取装置，其中色像差补偿装置是一个全息图。23.根据权利要求21的光学拾取装置，其中色像差补偿装置被设置在第一和第二光束源之一与物镜之间。24.根据权利要求21的光学拾取装置，其中用于第一光束的色像差补偿度不同于用于第二光束的色像差补偿度。25.一种光学拾取装置，用于在一种光学记录介质上记录信息和/或从该光学记录介质读取信息，包括一个光束源，用于向光学记录介质的表面发射一个光束，一个光束检测器，用于接收被该表面反射之后的光束，从而从反射之后的光束读取信息，一个容器，在其中接收有该光束源和光束检测器并包括一个孔径—通过该孔径光束向着该表面行进并在被表面反射之后行进向光束检测器，以及安装在该容器上并覆盖该孔径的一个光束引导部件，用于以这样的方式引导光束—即使得该光束向着该表面行进并在被该表面反射之后被光束检测器所接收。26.根据权利要求25的光学拾取装置，其中光束引导部件包括一个倾斜表面和在该倾斜表面上以改变光束的行进方向的一个光学元件。27.根据权利要求25的光学拾取装置，进一步包括设置在该容器上并在与光束引导部件相反的一侧覆盖了孔径的一个遮蔽部件。2...

【专利技术属性】
技术研发人员：深草雅春，森泰一，谷川浩，河野治彦，富崎干雄，伊东清二，中岛一幸，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]