光拾取器制造技术

提供可以记录，再现不同记录密度的光盘，并且实现了小型化，薄型化的光拾取器。具有：具有出射第１波长光的第１光源和检测光盘反射光的第１光检测器的第１光学单元；具有出射第２波长光的第２光源和检测光盘反射光的第２光检测器的第２光学单元；将第１波长光和第２波长光引导至大约同一光轴上，并将光盘的反射光分别引导到第１光检测器和第２光检测器的束分离器１０；以及ＮＡ是０．６以上，焦距是２．５ｍｍ以下的物镜。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于记录和再现高密度光盘、只读光盘等具有不同记录密度的记录介质的光拾取器。下面对传统的用于记录和再现高密度光盘及低密度光盘的光拾取器进行说明。为便于说明，用DVD(数字视盘)说明高密度光盘例，用CD(只读光盘)说明低密度光盘例。附图说明图11A、图11B是传统光拾取器的平面图和其主要部分断面图。图11A、图11B中，50是高密度光盘用光拾取器，用于在高密度光盘52上聚集激光5 3的高密度光盘用物镜连接固定在物镜保持筒51上。另外，在物镜固定保持筒51上连接并固定着用于在聚焦方向和道跟踪方向上动作的、由聚焦线圈和道跟踪线圈组成的线圈部55。其它方面，线圈部55嵌合在永久磁铁上，构成用于驱使物镜保持筒51在聚焦方向和道跟踪方向上动作的磁路。物镜保持筒51用非磁性的导电的线状弹性部件57保持在中立位置，并向线圈部55供给电力。这里，高密度光盘用物镜使用的是数值孔径为0.6，焦距为3.3mm左右的物镜。对如上构成的高密度光盘用光拾取器50的光学系统进行说明如下。61是高密度光盘用光学单元，内藏有波长为635～650nm激光53的发光元件和感光接收元件。激光53经过准直透镜本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种再现光盘记录介质信息的光拾取器，其特征在于该光拾取器具有： 出射第１波长光的第１光源和检测光盘反射光的第１光检测器； 出射第２波长光的第２光源和检测光盘反射光的第２光检测器； 将前述第１波长光和前述第２波长光引导至大约同一光轴上，并且将光盘的反射光分别引导到前述第１光检测器和前述第２光检测器的光路变更装置； 使前述第１波长光和前述第２波长光会聚在光盘上的物镜； 前述物镜在前述第１波长光中数值孔径（ＮＡ）是０．６以上，焦距是２．５ｍｍ以下。

【技术特征摘要】
JP 1996-12-16 335354/961.一种再现光盘记录介质信息的光拾取器，其特征在于该光拾取器具有出射第1波长光的第1光源和检测光盘反射光的第1光检测器；出射第2波长光的第2光源和检测光盘反射光的第2光检测器；将前述第1波长光和前述第2波长光引导至大约同一光轴上，并且将光盘的反射光分别引导到前述第1光检测器和前述第2光检测器的光路变更装置；使前述第1波长光和前述第2波长光会聚在光盘上的物镜；前述物镜在前述第1波长光中数值孔径(NA)是0.6以上，焦距是2.5mm以下。2.权利要求1所述的光拾取器，其特征在于前述物镜的动作距离是1.2mm以下。3.权利要求1所述的光拾取器，其特征在于前述物镜在前述第1波长光中的动作距离是1.4mm以下，在前述第2波长光中的动作距离是1.2mm以下。4.一种再现光盘记录介质信息的光拾取器，其特征在于该光拾取器具有出射第1波长光的第1光源和检测光盘反射光的第1光检测器；出射第2波长光的第2光源和检测光盘反射光的第2光检测器；将前述第1波长光和前述第2波长光引导至大约同一光轴上，并且将光盘的反射光分别引导到前述第1光检测器和前述第2光检测器的光路变更装置；有效入射直径是3.0mm以下，在前述第1波长光中数值孔径(NA)是0.6以上焦距是2.5mm以下的，使前述第1波长光和前述第2波长光会聚在光盘上的物镜。5.权利要求4所述的光拾取器，其特征在于前述物镜的动作距离是1.2mm以下。6.权利要求4所述的光拾取器，其特征在于前述物镜在前述第1波长光中的动作距离是1.4mm以下，在前述第2波长光中的动作距离是1.2mm以下。7.一种再现光盘记录介质信息的光拾取器，其特征在于该光拾取器具有出射第1波长光的第1光源和检测光盘反射光的第1光检测器；出射第2波长光的第2光源和检测光盘反射光的第2光检测器；将前述第1波长光和前述第2波长光引导至大约同一光轴上，并且将光盘的反射光分别引导到前述第1光检测器和前述第2光检测器的光路变更装置；使相对于前述第1波长光的透过光束直径和相对于前述第2波长光的透过光束直径具有不同的透过光束直径的光束直径变更装置；有效入射直径是3.0mm以下，在前述第1波长光中数值孔径(NA)是0.6以上，焦距是2.5mm以下的，使前述第1波长光和前述第2波长光会聚在光盘上的物镜。8.权利要求7所述的光拾取器，其特征在于前述物镜的动作距离是1.2mm以下。9.权利要求7所述的光拾取器，其特征在于前述物镜在前述第1波长光中的动作距离是1.4mm以下，在前述第2波长光中的动作距离是1.2mm以下。10.一种再现光盘记录介质信息的光拾取器，其特征在于该光拾取器具有出射第1波长光的第1光源和检测光盘反射光的第1光检测器；出射第2波长光的第2光源和检测光盘反射光的第2光检测器；将前述第1波长光和前述第2波长光引导至大约同一光轴上，并且将光盘的反射光分别引导到前述第1光检测器和前述第2光检测器的光路变更装置；把前述第1波长光由发散光变换成平行光，并减少前述第2波长光的发散角度的准直透镜；在前述第1波长光中数值孔径(NA)是0.6以上、焦距是2.5mm以下的，前述第1波长光和前述第2波长光会聚在光盘上的物镜；透过前述准直透镜后的平行光束直径是3.8mm以下，前述物镜的有效入射直径是3.0mm以下。11.权利要求10所述的光拾取器，其特征在于前述准直透镜在前述第1波长光中的数值孔径为0.1到0.14，焦距为11mm到18mm范围内。12.权利要求10所述的光拾取器，其特征在于前述物镜的动作距离是1.2mm以下。13.权利要求10所述的光拾取器，其特征在于前述物镜在前述第1波长光中的动作距离是1.4mm以下，在前述第2波长光中的动作距离是1.2mm以下。14.一种再现光盘记录介质信息的光拾取器，其特征在于该光拾取器具有以下结构具有出射第1波长光的第1光源和检测光盘反射光的第1光检测器的第1光学单元；具有出射第2波长光的第2光源和检测光盘反射光的第2光检测器的第2光学单元；将前述第1波长光和前述第2波长光引导至大约同一光轴上，并且将光盘的反射光分别引导到前述第1光检测器和前述第2光检测器的光路变更装置；动作距离是1.2mm以下，有效入射直径是3.0mm以下，在前述第1波长光中数值孔径(NA)是0.6以上，焦距是2.5mm以下的，使前述第1波长光和前述第2波长光会聚在光盘上的物镜；从光盘下面起算的光拾取器整体厚度是7.5mm以下。15.一种再现光盘记录介质信息的光拾取器，其特征在于该光拾取器具有以下结构具有出射第1波长光的第1光源和检测光盘反射光的第1光检测器的第1光学单元；具有出射第2波长光的第2光源和检测光盘反射光的第2光检测器的第2光学单元；将前述第1波长光和前述第2波长光引导至大约同一光轴上，并且将光盘的反射光分别引导到前述第1光检测器和前述第2光检测器的光路变更装置；在前述第1波长光中的动作距离是1.4mm以下，在前述第2波长光中的动作距离是1.2mm以下，有效入射直径是3.0mm以下，在前述第1波长光中数值孔径(NA)是0.6以上，焦距是2.5mm以下，且使前述第1波长光和前述第2波长光会聚在光盘上的物镜。从光盘下面起算的光拾取器整体厚度是7.5mm以下。16.一种再现光盘记录介质信息的光拾取器，其特征在于该光拾取器具有以下结构具有出射第1波长光的第1光源和检测光盘反射光的第1光检测器的第1光学单元；具有出射第2波长光的第2光源和检测光盘反射光的第2光检测器的第2光学单元；将前述第1波长光和前述第2波长光引导...

【专利技术属性】
技术研发人员：小岛光喜，古川文信，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]