信息记录介质和信息记录/再现装置制造方法及图纸

技术编号:3070904 阅读:131 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
提供了一种高可靠混合卡和与这种卡一起使用的记录/再现装置。信息记录介质有与信用卡相当的尺寸,且包括透明基片、光记录层、IC芯片和天线线圈,所说天线线圈用于至少在记录信息于IC芯片上或再现存储于IC芯片的信息时的信息互换操作,使IC芯片和信息记录/再现装置彼此不直接相互接触,其中透明基片、光记录层和天线线圈按上述顺序设置。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及信息记录介质和使用该介质的信息记录/再现装置。本专利技术特别涉及包括有不同记录特性的信息记录区,并适于用不同模式记录和再现信息的信息记录介质,以及用该介质来记录和再现信息的信息记录/再现装置。在包括最近几年提出的光盘库(optical file)和光盘等种种光信息记录介质中,光卡特别引人注意,因为它们重量轻、便于携带、且尽管体积较小但有大的存储容量。光卡的优点是大的存储容量、容易制造、成本低。如果光卡有一次型写入记录区,使写入的信息实际上没有错误,存储在光卡中的信息的可靠性将很高。从这些和其他优点来看,光卡有很大的需求量。下面参照附图简单说明典型光卡的构型。图5A是典型的已知光卡50的示意平面图,图5B是图5A的光卡沿图5A的线5B-5B的示意剖面图。参照图5A和5B,光卡包括透明基片51、作为光记录区59的光记录层53、粘结层55、和保护层57。光记录层53由如银膜、氧化碲或染料等能通过光能而改变其形态或颜色的材料构成。透明基片51和保护层57通常由丙烯酸树脂、聚碳酸酯树脂或氯乙烯树脂构成。光卡50在光记录层53上记录信息,用光辐照时再现存储在光记录层53上的信息。更具体地,通过使一个或多个精细会聚的光点在其上往复运动来从光记录层53再现记录的信息,通过根据要记录的信息调制光点,在其上记录作为记录坑的光可探测阵列的信息。用称为自动跟踪(此后称为AT)控制和自动调焦(此后称为AF)的技术在光卡层53的预定区域精确记录每个信息。AT控制是在与光卡平面上的扫描方向垂直的方向上定位控制光点的技术,AF控制是在与光卡平面垂直的方向定位控制光点的技术。最好这些技术还用于为信息再现操作来控制光点。附图中的图6是光卡50的示意平面图,表示其格式。大量信息轨道2和跟踪轨道4交替设置在光卡的记录平面上。另外光卡有给存取信息轨道2提供参考位置的起始位置3。信息轨道2从最靠近参考点(起始位置3)起依次表示为2-1、2-2、2-3等。如图6所示,跟踪轨道4-1、4-2、4-3…与各信息轨道2相邻设置。跟踪轨道用于控制和引导光点的AT控制,使它们在记录或再现信息的扫描操作中不从信息轨道偏离。更具体地,用伺服控制电路来进行AT控制操作,以便用光头探测光点与信息轨道的偏差(AT偏差),并将探测操作得到的信息反馈到在跟踪方向驱动物镜的跟踪调节器。换句话说,控制光点使它不偏离通过在跟踪方向(D方向)相对光头主体驱动物镜正被扫描的信息轨道。在另一方面,当光点扫描信息轨道来再现信息时,通过AF控制相对物镜控制它们,使它们在光卡的记录平面占据合适的面积(聚焦)。这样,在AF控制操作中,用光头可以探测到光点从聚焦状态的偏离(AF偏差),探测信号反馈回聚焦调节器,以便沿光轴驱动物镜,这样,在聚焦方向相对光头主体驱动物镜时,便可以控制光点使其聚焦在光卡的记录层上。参照图7,参考符号S1、S2和S3表示形成在光卡上的光点。用部分辐照跟踪轨道4-2和4-3的光点S2和S3来进行AT控制操作。用光点S1来进行AF控制操作和读取信息坑的操作。在图7中,参考符号5-1到5-3表示信息坑阵列,参考符号6-1到6-3表示分别设置在信息坑阵列5-1到5-3相对侧的轨道的轨道数(地址)。信息轨道配备有表示其地址的各自的轨道数。图8是用来从光卡50再现信息的光信息再现装置的光头部分的示意侧视图,表示其结构。在图8中,参考数字10表示作为光源的半导体激光器。参照图8,光头部分包括准直透镜11、束成形棱镜12、衍射光栅13、和偏振束分离器14、以及四分之一波板15、物镜16、球面透镜17、圆柱透镜18、和光探测器19。如图9所示,光探测器19包括具有光接收元件19-1、19-2、19-3、19-4的四端部件以及一对光接收元件19-5、19-6。从半导体激光器10发射出的光束被还原成发散束,进入准直透镜11,变成一束准直光线,然后在进入衍射光栅之前用束成形棱镜12将它转变为剖面基本为圆形的光束。衍射光栅13将光束分为三个有效光束(一个零级衍射束和一对±1级光束)。所得到的三束光然后进入偏振束分离器14成为P偏振光,当它通过偏振束分离器14和四分之一波板15时转变为圆偏振光。然后用物镜16将转变为圆偏振光的三束光会聚成细光点,并聚焦在光卡50上。光的聚焦束对应细光点S2(+1级衍射束)、S1(0级衍射束)和S3(-1级衍射束)。如上所述,光点S1用来再现信息及AF控制,光点S2和S3用于AT控制。在光点中,光点S2和S3在彼此邻近的相应跟踪轨道上,如图7所示,而光点S1在信息轨道2上,该信息轨道2用来存储信息,其两侧是两跟踪轨道。当光点辐照光卡时,它们被光卡平面部分反射并进入物镜16。当反射光线通过物镜16时重新准直,在进入偏振束分离器14之前,当它们通过四分之一波板15时转换为与入射到光卡上的光束成90度偏振的光束,作为S偏振光,并被反射到光探测器的探测光的光系统一侧,与半导体激光器10出来的光束分离。探测光的光系统包括球面透镜17、圆柱透镜18和光探测器19,其中球面透镜17和圆柱透镜18一起用于使用象散方法的AF控制操作。由包括多个光接收元件的光探测器19探测光卡50反射的三束光。图9是光信息再现装置的信号处理电路的示意电路图。在图9中,参考数字19表示图8中包括前面所说的具有光接收元件19-1、19-2、19-3、19-4的四端部件以及一对光接收元件19-5、19-6的光探测器。光接收元件表面的光点S1、S2和S3分别代表光卡反射的光束。用于AT控制的光点S2和S3分别由光接收元件19-5、19-6来接收,而用于AF控制和信息再现的光点由四端部件的光接收元件19-1到19-4来接收。光接收元件19-5、19-6的输出信号送到减法电路216,通过探测它们之间的差别来产生AT控制信号。由加法电路208把四端部件的光接收元件19-2和19-4的输出信号相加,而由另一加法电路210把光接收元件19-1和19-3的输出信号相加。加法电路208和210的输出信号送到另一减法电路214,通过探测它们之间的差别来产生AF控制信号。还用另一加法电路212把加法电路208和210的输出信号相加,以给四端部件的光接收元件产生累加信号,该信号然后作为信息再现信号RF输出。在包括日本专利申请特许公开昭61-103287和62-194591的很多文献中公开了在光卡中引入CPU和/或半导体存储器来实现的混合信息记录介质(混合卡),这种卡有很多附加的功能特性,如能进行算术运算。图10A是表示已有混合卡20的一侧的示意平面图,图10B是表示卡的另一侧的示意平面图。图11是图10A和10B中的卡沿图10B的线11-11的示意剖面图。参照图10A、10B和11,该卡有光记录区21和包括嵌在卡的基片25中的电元件的IC模块22,所说电元件包括IC芯片和布线电路作为其集成部分。卡的表面还有电极部分23,包括连接外电源与IC模块22的电极和用来记录/再现信息的电极。可以挖空卡基片25,形成适于容纳IC模块22的凹槽,并将模块连接在凹槽底部,由此可以将IC模块22嵌在卡基片25中。在图11中,卡还包括属于光记录区21的光记录层27、透明基片28、粘结层26、IC基片25、包括用于连本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信息记录介质,包括透明基片、光记录层、IC芯片、和天线线圈,所说天线线圈用于至少在记录信息于IC芯片上或再现存储于IC芯片的信息时的信息互换操作,使IC芯片和信息记录/再现装置彼此不直接相互接触,其中透明基片、光记录层和天线线圈按所述顺序设置。

【技术特征摘要】
JP 1998-5-21 139741/98;JP 1997-7-17 192366/97;JP 11.一种信息记录介质,包括透明基片、光记录层、IC芯片、和天线线圈,所说天线线圈用于至少在记录信息于IC芯片上或再现存储于IC芯片的信息时的信息互换操作,使IC芯片和信息记录/再现装置彼此不直接相互接触,其中透明基片、光记录层和天线线圈按所述顺序设置。2.一种信息记录介质,包括透明基片、光记录层和IC模块,IC模块具有IC芯片和天线线圈,所说天线线圈用于至少在记录信息于IC芯片上或再现存储于IC芯片的信息时的信息互换操作,使IC芯片和信息记录/再现装置彼此不直接相互接触,其中光记录层和天线线圈设置在不同的平面,天线设置于与光记录层占有的区域不重叠的区域。3.如权利要求2的信息记录介质,其特征是光记录层是透光的。4.一种信息记录介质,包括非接触型IC模块和作为信息存储装置的光记录层,IC模块具有IC芯片和内部天线线圈,所说内部天线线圈用于至少在记录信息于IC芯片上或再现存储于IC芯片的信息时的信息互换操作,使IC芯片和信息记录/再现装置彼此不直接相互接触,光记录层和内部天线线圈按下面方式设置在不同的平面,当信息记录介质于信息记录/再现装置中设置就位时,其中信息记录/再现装置有分别置于信息记录介质相对端的外部天线线圈和光头,外部天线线圈作为向或从IC模块记录或再现信息的装置,此时,外部天线线圈和光头不相对放置,而使信息记录介质插在其间。5.一种信息记录介质,包括透明基片、光记录层和IC模块,IC模块具有IC芯片和天线线圈,所说天线线圈用于至少在记录信息于IC芯片上或再现存储于IC芯片的信息时的信息互换操作,使IC芯片和信息记录/再现装置彼此不直接相互接触,透明基片、光记录层和IC模块按所述顺序设置,在透明基片一侧远离天线线圈设置电磁波阻挡层。6.一种信息记录介质,包括透明基片、光记录层和IC模块,IC模块具有IC芯片和天线线圈,所说天线线圈用于至少在记录信息于IC芯片上或再现存储于IC芯片的信息时的信息互换操作,使IC芯片和信息记录/再现装置彼此不直接相互接触,透明基片、光记录层和IC模块按所述顺序设置,在透明基片一侧远离天线线圈设置电磁波阻挡层,在要与用于记录/再现信息的信息记录/再现装置接触的位置设置导电端子,并使之电连接到电磁波阻挡层。7.如权利要求6的信息记录介质,其特征是导电端子设置在信息记录介质的边缘。8.如权利要求6的信息记录介质,其特征是导电端子包括含导电材料的硬化的光固化树脂。9.如权利要求5或6的信息记录介质,其特征是电磁波阻挡层设置在透明基片与光记录层之间,且为透明的。10.如权利要求5或6的信息记录介质,其特征是电磁波阻挡层设置在光记录层与IC模块之间。11.如权利要求5或6的信息记录介质,其特征是电磁波阻挡层设置在透明基片的外表面。12.如权利要求10的信息记录介质,其特征是电磁波阻挡层设置在光记录层一侧,与面对基片的一侧相对。13.如权利要求5或6的信息记录介质,其特征是电磁波阻挡层暴露于外部。14.如权利要求13的信息记录介质,其特征是电磁波阻挡层暴露于信息记录介质的边缘。15.如权利要求14的信息记录介质,其特征是在其边缘有圆形剖面,且电磁波阻挡层暴露于剖面最外部分。16.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员:井上正人太田信一小川善广田村知元长野和美田边浩
申请(专利权)人:佳能株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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