光盘缺陷管理区信息的验证方法技术

一种验证光盘的缺陷管理区（ＤＭＡ）信息的方法，验证在在测试模式下，用于在／从带有ＤＭＡ信息的光盘记录／重现信息的记录和重现装置执行了测试ＤＭＡ信息生成和更新过程后，ＤＭＡ信息被正确生成和更新。该方法包括读取并通过使用预先设定的用于测试模式的参考ＤＭＡ信息，验证生成或更新的ＤＭＡ信息，并提供验证的结果。因此，容易验证该记录和重现装置通过使用带有预定的与实际缺陷无关的缺陷信息的不同的测试光盘，而不使用实际具有缺陷的光盘，并通过执行各种测试模式，准确地生成或记录缺陷信息。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光盘记录和重现技术，更具体地说，是涉及一种验证(verifying)可记录和可重现光盘的缺陷管理区信息的方法。数字多功能光盘-随机存储存储器(DVD-RAM)光盘具有缺陷管理功能，即用正常的可记录的区替换有缺陷的区，并将管理缺陷区(defective area)所必需的信息存储在被称为缺陷管理区(DMA)的部分。DMA被重复地记录在光盘的四个部分中两个部分在导入区，两个部分在导出区。DMA信息包括光盘定义结构(DDS)、主缺陷列表(PLD)和次缺陷列表(SLD)。DMA信息除了缺陷信息之外，还包括备用区信息和每一区域(zone)的起始逻辑扇区号(start logical sector number)的重要信息，而该DMA信息是在光盘初始化时或在光盘使用中所执行的确认(certification)中检测出来的。包含在DMA中的某些信息可以被立即读取和使用。另一方面，DMA包括随光盘上的位置和缺陷的数量而变化的信息。即，根据登记在DMA中的缺陷信息的给定的算法，仅通过执行复杂的计算就能获得例如每一区域起始逻辑扇区数的位置信息或第一逻辑扇区号的位置信息的某些信息。因为这种DMA信息与物理数据记录位置密切相关，所以当DMA信息错误时，对其可以在给定的记录和重现装置中使用的例如光盘的这种记录介质，即使该光盘上的DMA信息已经在另一记录和重现装置中生成或更新，也不能与两种记录和重现装置都兼容。为了克服这个问题，需要一种验证记录和重现装置从光盘正确地读取了DMA信息并在光盘上正确地记录了DMA信息的手段或方法。为解决上述问题，本专利技术的第一个目的是提供一种验证方法，该验证方法用来验证光盘上的缺陷管理区(DMA)信息在光盘记录和重现装置中被正确地记录和更新，该光盘记录和重现装置检测光盘上的缺陷并将该缺陷信息记录在DMA中。本专利技术的第二个目的是提供一种验证方法，该方法用来验证光盘上的缺陷管理区(DMA)信息在用于可重复记录和重现的DVD-RAM光盘的光盘记录和重现装置中被正确地记录和更新，该光盘记录和重现装置检测光盘上的缺陷并将该缺陷信息记录在DMA中。本专利技术的第三个目的是提供一种验证方法，该验证方法用来验证光记录和重现装置使用包含与实际缺陷无关的预定的缺陷信息的测试光盘，不受光盘有缺陷信息的实际状态的影响，在相同的条件下总能正确读取和处理缺陷信息。本专利技术另外的目的和优点的一部分将在下文的描述中给予阐述，一部分从下文的描述中明显可以看出，或从本专利技术的应用中得出。为实现本专利技术的上述和其它目的，本专利技术提供了一种验证在向具有DMA信息的光盘记录信息或从具有DMA信息的光盘重现信息记录和重现装置中，在测试模式下执行了测试DMA信息生成和更新的处理后，DMA信息被正确地生成或更新的方法。该方法包括读取生成的或被更新的DMA信息，通过使用用于测试模式的预先设定的参考DMA信息验证生成的或更新的DMA信息，并提供验证的结果。通过参考附图对实施例进行详细描述，本专利技术的上述目的和优点将变得更清楚，其中附图说明图1是表示为验证缺陷管理区(DMA)的结构所安排的检查项目表；图2是表示为验证光盘定义结构(DDS)所安排的检查项目表；图3是表示为验证主缺陷列表(PDL)的结构所安排的检查项目表；图4是表示为验证次缺陷列表(SDL)的结构所安排的检查项目表；图5A至5D是根据本专利技术的一个实施例的一种验证DMA信息的方法的流程图。详细参照本专利技术的优选实施例，说明附图中的示例，其中相同的数字标号在全文中指相同的部件。通过参照附图对本专利技术的实施例进行描述以对本专利技术进行说明。本专利技术中所用的光盘是具有4.7千兆字节(GB)容量的相位变化记录DVD-RAM光盘。DVD-RAM光盘在“2.0版可重写光盘DVD规范”中定义。对于DVD-RAM光盘的情况，假设每一缺陷管理处理是由驱动器执行的，这使得文件系统或主机接口能够记录或重现不含有与物理缺陷管理相关的信息的文件。因此，大多数驱动器不能在缺陷管理区(DMA)中记录信息或重现信息，此外，大多数驱动器没有提供用于在缺陷管理区(DMA)中记录信息或重现信息的标准命令。但是，必须通过这样的方法准备一种环境，即，数据能够由能对DMA进行分析信息的计算机读取，以确定DMA信息是否被正确地形成，并且必须能够在对应的DMA中准确地记录信息以形成标准测试光盘。这里，DVD-RAM记录和重现装置的记录和重现结构被分为文件系统层、用于主计算机与记录和重现装置接口的主机接口层、用于记录和重现物理信号的物理驱动层和记录介质层。光盘的物理扇区数由记录介质和物理驱动分配，光盘的逻辑扇区数由主机接口和文件系统分配。因此，DMA信息的写入和读取是在物理驱动层和其以下的层执行的。但是，当用户数据实际上由文件系统记录时，仅使用逻辑扇区号将用户数据传输到记录和重现装置，并且该记录和重现装置使用缺陷管理信息将逻辑扇区号变换为指示数据实际被记录的位置的物理扇区号。因此，当光盘中含有的缺陷管理信息在给定的记录和重现装置中被错误地读取和写入时，在另一记录和重现装置中不能准确地从光盘中读取或向光盘写入数据。通过在不含信息的空盘上形成已知的物理缺陷所得到的第一测试光盘，被用于没有确认的初始化(initialization without certificate)和确认的初始化中。通过将具有预定内容的DMA和第一镜像文件记录在第一测试光盘上得到的第二光盘，被用于确认的再初始化、第二缺陷列表(SDL)转换的再初始化(reinitialization)和清除G2列表和SDL的再初始化中，该第一镜像文件满足补充备用区未满的状态。通过将具有预定内容的DMA和第二镜像文件记录在第一测试光盘上得到的第三光盘，被用于验证补充备用区延伸的模式，该第二镜像文件满足具有足够的SDL缺陷来填充补充备用区的状态。通过将第三镜像文件记录在第一测试光盘上得到的第四光盘，被用于验证记录是否是根据错误的DMA信息执行的模式，该第三镜像文件满足在预定的DMA内容中每一区的起始逻辑扇区数故意错误记录的状态。因此，验证在上述的每一模式下DMA信息是否被正确地生成或更新。SDL转换的再初始化和清除G2列表和SDL的再初始化可以称为没有确认的再初始化。在没有确认的再初始化中，可以使用第一测试光盘，即，没有记录数据的空盘。只要没有“信息”记录在第一测试光盘或第一测试光盘仅有“已知物理缺陷”，则第一测试光盘可以被认为是空盘。在上述的每一验证模式下，生成的或更新的DMA信息包含DMA结构、光盘定义结构(DDS)、主缺陷列表(PLD)结构和SDL结构。如图1所示，用于验证DMA结构的检查项目包括DMA1至DMA4的错误条件、在DDS1至DDS4中和在SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新计数器、在SDL1至SDL4中的SDL更新计数器和DMA1至DMA4的内容。DMA项目的错误条件是用于检查在DMA中是否存在错误，其中两个DMA位于导入区，两个DMA位于导出区。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA4这四个DMA任何一个中，不能存在不可校正的错误。如果在任何一个DMA中检测出不可校正的错误，则确定相关的验证失败，并且需要使用新的测试光盘重新进行测试。为了验证在没有确认的初始化下本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种验证在测试模式下，用于在带有ＤＭＡ信息的光盘中记录信息或从带有ＤＭＡ信息的光盘中重现信息的记录和重现装置中执行了测试ＤＭＡ信息生成和更新过程后，ＤＭＡ信息被正确生成和更新的方法，该方法包括：读取所生成或更新的ＤＭＡ信息；和通过使 用预先设定的用于测试模式的参考ＤＭＡ信息，验证生成或更新的ＤＭＡ信息，并提供验证的结果。

【技术特征摘要】
KR 2000-4-8 18508/00;US 2000-4-10 60/195,467;US 201．一种验证在测试模式下，用于在带有DMA信息的光盘中记录信息或从带有DMA信息的光盘中重现信息的记录和重现装置中执行了测试DMA信息生成和更新过程后，DMA信息被正确生成和更新的方法，该方法包括读取所生成或更新的DMA信息；和通过使用预先设定的用于测试模式的参考DMA信息，验证生成或更新的DMA信息，并提供验证的结果。2．如权利要求1所述的方法，其中，所生成的或更新的DMA信息以DMA镜像文件的形式被读取。3．如权利要求1所述的方法，其中，所生成的或更新的DMA信息直接从测试光盘上的DMA中读取。4．如权利要求1所述的方法，其中，测试模式是第一测试模式、第二测试模式、第三测试模式和第四测试模式中的一种，第一测试模式包括确认的初始化和没有确认的初始化，第二测试模式包括确认的再初始化、第二缺陷列表(SDL)转换的再初始化和清除G2列表和SDL的再初始化，第三测试模式包括验证补充备用区扩展的初始化，第四测试模式包括验证记录是否根据错误的DMA信息被执行。5．如权利要求4所述的方法，还包括通过在不含信息的空盘上形成已知的缺陷获得第一测试盘，并在第一测试模式下使用该第一测试盘；通过在第一测试盘上记录预定DMA内容获得第二测试盘，并在第二测试模式下使用第一镜像文件，其中DMA信息记录在第一测试盘上时，补充备用区未满；通过在第三测试模式下，在第一测试盘上记录预定DMA内容获得第三测试盘，并在第三测试模式下使用第二镜像文件，当DMA记录在第一测试盘时，第二镜像文件具有足够的SDL缺陷填充补充备用区；和通过在第四测试模式下，在第一测试盘上记录第三镜像文件获得第四测试盘，其中在DMA的预定的内容中的每一区的起始扇区数故意被错误地写入。6．如权利要求1所述的方法，其中该验证包括验证在光盘的多个位置上写入的具有相同数据的多个DMA。7．如权利要求1所述的方法，其中该验证包括验证DMA中的光盘定义结构(DDS)。8．如权利要求7所述的方法，其中DDS的验证包括检查DDS标识符、光盘确认标志、DDS/主缺陷列表(PDL)更新计数器、组数、区域数、主备用区的位置、每一区域的第一逻辑扇区号和起始逻辑扇区号的位置。9．如权利要求8所述的方法，其中DDS标识符的检查包括检查DDS标识符是否是预定的值；光盘确认标志的检查包括根据预定的测试模式检查在光盘标志位中指示在进行的位的值、指示用户确认的位的值和指示光盘制造商确认的位的值；DDS/PDL更新计数器的检查按照预定的测试模式包括检查DDS/PDL更新计数器的值和的DDS/PDL更新计数器的增量，该增量表示DDS/PDL更新计数器在预定的测试之前和之后的差；组数的检查包括按照光盘类型检查组数；区域数的检查包括按照光盘类型检查区域数；和主备用区的位置的检查包括检查主备用区的第一和最后扇区号。10．如权利要求9所述的方法，其中光盘确认标志的检查包括检查指示在光盘确认标志位中的进行/未进行的位位置b7的值是否为“0b”，并当位位置b7的值为“1b”时，通知用户格式化失败，因为位位置b7的值为“0b”指示格式化已完成，位位置b7的值为“1b”指示格式化在进行；检查在光盘确认标志位中保留位位置b6至b2的值是否均为“0b”；检查在光盘确认标志位中指示用户确认标志的位位置b1值，在没有确认的初始化的模式下是否为“0b”，在确认的初始化的模式、没有确认的再初始化的模式和确认的再初始化的模式下是否为“1b”；和检查在光盘确认标志位中指示光盘制造商确认标志的位位置b0值，在没有确认的初始化的模式和确认的初始化的模式下是否为“0b”，在没有确认的再初始化的模式和确认的再初始化的模式下是否为“1b”。11．如权利要求9所述的方法，其中检查在没有确认的初始化的模式下，DDS/PDL更新计数器的值和DDS/PDL计数器增量是否均为“0”，检查在确认的初始化的模式下，DDS/PDL更新计数器的值是否为“0”，及表示DDS/PDL更新计数器在预定的测试之前和之后的差的DDS/PDL更新计数器的增量是否为“1”，检查在没有确认的再初始化的模式下，DDS/PDL更新计数器的值是否为“原先的值”，及DDS/PDL更新计数器的增量是否为“1”，并检查在确认的再初始化的模式下，DDS/PDL更新计数器的值是否为“原先的值”，及表示DDS/PDL更新计数器在预定的测试之前和之后的差的DDS/PDL更新计数器的增量是否为“2”。12．如权利要求1所述的方法，其中该验证包括验证DMA中的主缺陷列表(PDL)结构。13．如权利要求12所述的方法，其中PDL结构的验证包括检查PDL标识符、PDL中的条目数和PDL条目的完整性。14．如权利要求13所述的方法，其中标识符的检查包括检查PDL标识符是否是预定的值；条目数的检查包括检查PDL中的条目数是否为预定的值；PDL条目的完整性包括检查第一逻辑扇区号的位置是否根据登记在PDL中的条目数被正确地设定；和检查每一区域的开始逻辑扇区号是否根据登记在PDL中的条目数被正确地设定。15．如权利要求14所述的方法，其中条目数的检查包括在没有确认的初始化的模式下，检查PDL中的条目数是否为“0”，在确认的初始化的模式、没有确认的再初始化的模式和确认的再初始化的模式下，检查PDL中的条目数是否为已知的物理缺陷和在制造过程中光盘上出现的不同的缺陷的数量。16．如权利要求14所述的方法，其中PDL条目完整性的检查包括在没有确认的初始化的模式下，检查用于PDL条目类型和PDL条目区是否有指示未使用区的值，在确认的初始化的模式下，检查PDL条目类型是否为指示在用户确认中检测出的缺陷扇区的G1列表的“10b”，在确认的再初始化的模式下，检查PDL条目类型是否为指示已知的P列表“00b”或指示在用户确认中产生的缺陷扇区的G1列表“10b”，在清除G2列表和第二缺陷列表(SDL)的再初始化的模式下，检查PDL条目类型是否为指示P列表的“00b”和指示在用户确认中检测出的缺陷扇区的G1列表的“10b”，或在SDL转换的再初始化模式下指示在SDL转换后得到的G2列表的“11b”，并在确认的初始化模式、确认的再初始化模式、SDL转换的再初始化模式和清除G2列表和SDL的再初始化模式下，检查在对应于已知的物理缺陷数量的PDL条目被写入后，剩下的未使用的区是否为“FFh”，和关于在制造中产生的不同的缺陷扇区的所有信息是否被写入。17．如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：高祯完，郑铉权，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]