本发明专利技术涉及一种来自拾波器（ｐｉｃｋｕｐ）（２）、环境变化检测器（１１）、以及振动检测器（１２）的使用环境信息等数据是表示规定的变化的数据，而且相对于来自出错率测定手段（８）的出错率存储于出错率存储手段（１０）形成的最小出错率，劣化超过规定量时，根据再调整判断手段（１４）的判断，用出错率比较.参数决定手段（９）再度决定使出错率为最小的参数，将决定的参数从参数设定手段（６）再度设定于读取手段（３）的盘片重放装置。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及能够将读取盘片上记录的信息数据时的出错率设定为最小的盘片重放装置。
技术介绍
读取盘片上记录的信息数据时的出错率的大小是左右作为盘片重放装置的基本性能的重要事项。能够使该出错率为最小的已有的盘片重放装置有以下所述的装置(参照例如专利文献1)。装该盘片重放装置具备读取通过拾波器输入的盘片记录数据的读取手段、对该读取手段读取的数据进行订正的错误订正手段以及对订正错误之后的数据进行译码再输出图像和声音等各种数据的译码手段构成的重放系统、对所述读取手段设定决定其读取动作特性的参数的参数设定手段、预先存储各种所述参数，利用该参数设定手段读出的参数存储手段、根据所述错误订正手段的错误订正数和不能订正数等数据测定出错率的出错率测定手段、以及从该出错率测定手段的测定数据检索决定出错率为最小的参数的出错率比较·参数决定手段。在上述结构中，出错率最小的参数的检索·决定如下所述处理。参数设定手段依序读出在参数存储手段中预先存储的各种参数，依序变更对于读取手段的参数的设定。该参数的依序变更由出错率比较·参数决定手段对参数设定手段进行指令。根据该指令，参数设定手段从参数存储手段读出指定的参数。对于每一这样依序变更的参数，在出错率测定手段进行出错率测定。测定的各参数的出错率被送往出错率比较·参数决定手段暂时存储。依序设定规定种类的参数，分别用各参数测定出错率后，出错率比较·参数决定手段对存储的每一参数的出错率数据进行比较，检索决定出错率最小的参数。利用参数设定手段将决定的参数设定于读取手段。借助于此，读取手段被设定于出错率最小的读取动作。以上说明的参数设定通常只在盘片重放装置出厂时进行一次。专利文献日本特开平7-78302号公报已有的盘片重放装置如上所述构成，具有使读取手段的数据读取出错率为最小地设定参数的功能，但是对该参数进行的设定通常只是在出厂时进行一次。因而，设定的参数是在限定的环境条件下固定的，因此除了例如实际重放的盘片上的部分性缺陷外，还存在着环境温度、环境湿度、磁或振动等对盘片的重放有影响的因素，还有设定的参数对于盘片的替换等不合适的情况，在这样的情况下不能够对参数进行再设定是一个问题。
技术实现思路
本专利技术是为解决上述问题而作出的，其目的在于，得到具备检测盘片上的部分性缺陷、环境温度、环境湿度、磁或振动等使用环境条件和盘片替换的手段，能够根据该检测手段的信息对一度设定的参数进行再设定，经常确保重放性能的盘片重放装置。本专利技术的盘片重放装置，其特征在于，具备对于读取盘片记录的数据的读取手段，设定多个参数中使出错率为最小的参数的出错率比较·参数决定手段、存储最小出错率的出错率存储手段、发生使用环境信息的数据的使用环境信息手段、在设定实现所述最小出错率的参数之后，判定所述使用环境信息的数据是表示规定的变化的数据，而且测定的出错率相对于所述存储形成的最小出错率劣化超过规定量时，用出错率比较·参数决定手段再度决定使出错率为最小的参数，利用所述参数设定手段将决定的参数再度设定于所述读取手段的再调整判断手段。从而，采用本专利技术的结构，在设定实现最小出错率的参数之后，测定的出错率相对于所述最小出错率劣化超过规定量时，能够再度设定使出错率为最小的参数，因此在盘片的重放中，即使由于该盘片上的部分性缺陷、环境温度、环境湿度、磁或振动等使用环境的关系，出错率比当初的设定更差，也能够对读取手段进行参数的再设定，以此可以确保出错率的最小化，在盘片的重放中能够总是确保其重放性能。附图说明图1是本专利技术实施形态1的盘片重放装置的结构方框图。图2是本专利技术实施形态1的盘片重放装置的动作说明用的流程图。具体实施例方式下面对本专利技术的一实施形态进行说明。实施形态1图1是本专利技术实施形态1的盘片重放装置的结构方框图。图1中，该盘片重放装置具备取得记录于盘片1的信息数据的拾波器(pickup)2、读取通过该拾波器2输入的盘片记录数据的读取手段3、对该读取手段3读取的数据进行错误订正的错误订正手段4以及对订正错误之后的数据进行译码再输出图像和声音等各种数据的译码手段5构成的重放系统、对所述读取手段3设定决定其读取动作特性的参数的参数设定手段6、预先存储各种所述参数，利用该参数设定手段6读出的参数存储手段7、以及根据错误订正手段4的错误订正数和不能订正数等数据测定出错率的出错率测定手段8。而且具有从该出错率测定手段8测定的数据检索决定出错率变为最小的参数的出错率比较·参数决定手段9、存储与出错率比较·参数决定手段9决定的参数对应的最小出错率的出错率存储手段10、检测温度、湿度或磁性等环境变化的环境变化检测手段11、检测振动的振动检测手段12、以及检测盘片的替换的盘片替换检测手段13。而且具备在设定形成最小出错率的参数之后，判定来自出错率测定手段8的出错率比存储在所述出错率存储手段10形成的最小出错率劣化超过规定量时，根据来自环境变化检测手段11、振动检测手段12或盘片替换检测手段13等的数据，用出错率比较·参数决定手段9再度决定使出错率为最小的参数，利用参数设定手段6将决定的参数再度设定于读取手段3的再调整判断手段14。又，上述再调整判断手段14除了输入环境变化检测手段11、振动检测手段12、以及盘片替换检测手段13来的信息数据外，还从拾波器2输入监视盘片上的缺陷用的信息数据。在各种信息中，将来自环境变化检测手段11、振动检测手段12、以及拾波器2的信息数据总称为“使用环境信息”，将这些信息的发生源总称为“使用环境信息手段”。又，环境变化检测手段11由检测环境温度的温度传感器、检测环境湿度的湿度传感器、检测磁的磁传感器等构成，振动检测手段12可以用检测振动的强度的G传感器等构成，盘片替换检测手段13可以用光传感器构成，只要能够检测出盘片的替换即可。作为盘片上的缺陷信息的其他取得方法，也可以由再调整判定手段14经常监视出错率测定手段8测定的出错率，在该出错率大于规定值以上时判断为盘片上发生缺陷。下面用图2对图1的盘片重放装置的动作进行说明。在这里，图2是动作说明用的流程图。在图2，在步骤ST1中，在本重放装置的动作开始的初期(例如出厂时等)利用参数设定手段6对读取手段3设定决定其读取动作的特性的参数。在设定该参数的基础上，读取手段3读取通过拾波器2输入的盘片1的记录数据。读取手段3读取的数据在错误订正手段4进行错误的订正。经过订正错误的数据被输入到译码手段5，经过译码后输出图像和声音等各种数据。在步骤ST2，将错误订正手段4的错误订正信息、即错误订正数和不能订正数等数据传送到出错率测定手段8，出错率测定手段8根据这些数据进行出错率测定。测定的出错率存储于出错率比较·参数决定手段9。在步骤ST3，出错率比较·参数决定手段9判断是否对规定的全部参数测定了出错率，在还没有对全部参数完成出错率测定的情况下(步骤ST3判断为NO)，进入步骤ST4。在步骤ST4，出错率比较·参数决定手段9指示参数设定手段6对读取手段3选择设定下述参数。根据上述指示，参数设定手段6从参数存储手段7读出规定的参数，对读取手段3进行设定(步骤ST1)。下面经过步骤ST2进入步骤ST3，进行与上面所述相同的判断。反复进行上面所述的步骤ST1～步骤ST4，依序变更规定种类的全部参数，对变本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种盘片重放装置，其特征在于，具备读取盘片记录的数据的读取手段、存储多种决定所述读取手段的读取动作特性用的参数的参数存储手段、从所述参数存储手段读出所要的参数，然后设定于所述读取手段的参数设定手段、对于所述读 取手段读取的数据，在进行错误订正之后通过译码手段输出译码数据的错误订正手段、以所述错误订正手段的错误订正结果为依据，测定出错率的出错率测定手段、决定使所述测定的出错率为最小的参数，由所述参数设定手段将其设定为对所述读取手段决 定的参数的出错率比较.参数决定手段、从所述出错率比较.参数决定手段取得最小出错率并加以存储的出错率存储手段、发生使用环境信息的数据的使用环境信息手段、以及在设定实现所述最小出错率的参数之后，判定来自所述使用环境信息手 段的使用环境信息的数据是表示规定的变化的数据，而且来自出错率测定手段的出错率相对于存储在所述出错率存储手段形成的最小出错率，劣化超过规定量时，用出错率比较.参数决定手段再度决定使出错率为最小的参数，利用所述参数设定手段将决定的参数再度设定于所述读取手段的再调整判断手段。...
【技术特征摘要】
JP 2003-10-3 2003-3460381.一种盘片重放装置，其特征在于，具备读取盘片记录的数据的读取手段、存储多种决定所述读取手段的读取动作特性用的参数的参数存储手段、从所述参数存储手段读出所要的参数，然后设定于所述读取手段的参数设定手段、对于所述读取手段读取的数据，在进行错误订正之后通过译码手段输出译码数据的错误订正手段、以所述错误订正手段的错误订正结果为依据，测定出错率的出错率测定手段、决定使所述测定的出错率为最小的参数，由所述参数设定手段将其设定为对所述读取手段决定的参数的出错率比较·参数决定手段、从所述出错率比较·参数决定手段取得最小出错率并加以存储的出错率存储手段、发生使用环境信息的数据的使用环境信息手...
【专利技术属性】
技术研发人员：武藤英树，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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