本实用新型专利技术提供一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，包括：支撑机构；至少一组测试机构，安装在所述支撑机构的一侧，并能够沿所述支撑机构的侧面上下滑动，以固定半导体泵浦。本实用新型专利技术提供的用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，可以同时对多个半导体泵浦进行老化拷机测试，提高了半导体泵浦的测试效率，为半导体泵浦批量化生产奠定了基础。同时，本实用新型专利技术提供的用于半导体泵浦老化拷机测试的装置利用测试机构自由下落来固定半导体泵浦，提高了半导体泵浦的安装效率。提高了半导体泵浦的安装效率。提高了半导体泵浦的安装效率。
【技术实现步骤摘要】
用于半导体泵浦老化拷机测试的装置
[0001]本技术涉及半导体泵浦
，尤其涉及一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置。
技术介绍
[0002]随着半导体激光器在通讯、军事、医疗等领域的应用越来越广泛，半导体泵浦作为一种半导体激光器的核心元器件，在制作过程中需要经过可靠性的验证，让半导体泵浦加速老化，并且通过老化测试获取相关技术参数。因此很多厂家都要提前通过电应力或者电应力与热应力同时作用，把生产中的半导体激光器的潜在缺陷和达不到要求的一些性能指标提前暴露出来，这就是半导体激光器生产过程中的老化拷机测试。
[0003]通过高功率半导体泵浦的长期可靠性验证，可以判断半导体泵浦的失效机制，进而优化产品性能、改进工艺。为保证高功率半导体激光器的正常工作寿命，提高高功率半导体泵浦的可靠性，对半导体泵浦进行定时且长期的多种激光器性能老化测试是必须的。
[0004]但是目前市场上很多进口或者品牌定制的用于半导体泵浦老化系统测试的设备价格偏高，加工成本较大，并且操作也复杂，不适合大规模生产，无法对批量半导体泵浦进行老化拷机测试，严重制约了半导体泵浦的生产效率。
技术实现思路
[0005]本技术提供一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，用以解决现有技术中用于半导体泵浦老化拷机测试的设备无法对批量半导体泵浦进行老化拷机测试的缺陷。
[0006]本技术提供一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，包括：支撑机构；至少一组测试机构，安装在所述支撑机构的一侧，并能够沿所述支撑机构的侧面上下滑动，以固定半导体泵浦。
[0007]根据本技术提供的一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，所述支撑机构包括：水冷板，所述水冷板的顶面形成第一水路结构，用于对设置在其顶面上的所述半导体泵浦进行散热；支撑座，所述支撑座的底面安装在所述水冷板的顶面。
[0008]根据本技术提供的一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，每组所述测试机构包括：安装组件，所述安装组件的底面安装在所述水冷板的顶面，所述安装组件的侧面安装在所述支撑座的一侧，并能够沿所述支撑座的侧面上下滑动，所述安装组件用于固定所述半导体泵浦；测试组件，其一端端面开设有通光孔，用于接入所述半导体泵浦的光纤，其内腔组成封闭腔体，且所述通光孔与所述封闭腔体连通，所述封闭腔体内设置有光电监测器，用于对所述半导体泵浦的老化拷机进行测试。
[0009]根据本技术提供的一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，每组所述测试机构还包括：光纤盘绕架，设置在所述安装组件与所述测试组件之间。
[0010]根据本技术提供的一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，所述测试组件包括：收光座，其一端端面开设有所述通光孔，其内部形成有第一腔体，所述第一腔体与所
述通光孔连通，且所述第一腔体沿所述通光孔向远离所述通光孔的方向延伸形成渐扩结构；吸光座，其内部形成有第二腔体，所述第二腔体的形状与所述第一腔体的形状呈镜像对称结构；其中，所述第一腔体与所述第二腔体组合成所述封闭腔体，所述光电监测器设置在所述第一腔体内。
[0011]根据本技术提供的一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，所述测试组件还包括光纤固定棒，安装在所述通光孔内。
[0012]根据本技术提供的一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，所述收光座和所述吸光座的内壁与外壁之间形成连通的第二水路结构，以带走测试过程中的热量。
[0013]根据本技术提供的一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，所述安装组件包括：推拉架，安装在所述支撑座的一侧，并能够沿所述支撑座的侧面上下滑动；连接压块，安装在所述推拉架的底面；压板，安装在所述连接压块的底面；多个支撑圆柱，每个所述支撑圆柱安装在所述压板的底面，以及所述水冷板的顶面之间，且多个所述支撑圆柱之间构造成设置所述半导体泵浦的空间。
[0014]根据本技术提供的一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，所述连接压块内设置有弹簧。
[0015]根据本技术提供的一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，其特征在于，还包括放置平台，所述光纤盘绕架和所述测试组件安装在所述放置平台。
[0016]本技术提供的用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，可以同时对多个半导体泵浦进行老化拷机测试，提高了半导体泵浦的测试效率，为半导体泵浦批量化生产奠定了基础。同时，本技术提供的用于半导体泵浦老化拷机测试的装置利用测试机构自由下落来固定半导体泵浦，提高了半导体泵浦的安装效率。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1是本技术提供的用于半导体泵浦老化拷机测试的装置的结构示意图；
[0019]图2是本技术提供的用于半导体泵浦老化拷机测试的装置的一个方向的视图；
[0020]附图标记：
[0021]1：半导体泵浦；
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11：支撑座；
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12：水冷板；
[0022]21：收光座；
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22：吸光座；
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23：光纤固定棒；
[0023]31：推拉架；
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32：连接压块；
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33：压板；
[0024]34：支撑圆柱；
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40：光纤盘绕架；
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50：放置平台。
具体实施方式
[0025]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术中的附图，对本技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用
新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]下面结合图1和图2描述本技术的用于半导体泵浦老化拷机测试的装置。
[0027]如图1所示，在本技术的一个实施例中，用于半导体泵浦老化拷机测试的装置包括：支撑机构和至少一组测试机构。具体来说，测试机构安装在支撑机构的一侧，并能够沿支撑机构的侧面上下滑动，当将测试机构向上滑动时，在其下部放置半导体泵浦1，然后松开测试机构，测试机构沿支撑机构的侧面自由下滑，压紧半导体泵浦1的底板，以将半导体泵浦1进行固定。
[0028]具体地，支撑机构可以为一个多边形体，其每个侧面均可安装一组测试机构，当其为三角形柱体时，可以安装三组测试机构，当其为四边形柱体时，可以安装四组测试机构，同理，当其为六边形柱体时，可以安装六组测试机构，每组测试机构本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置，其特征在于，包括：支撑机构；至少一组测试机构，安装在所述支撑机构的一侧，并能够沿所述支撑机构的侧面上下滑动，以固定半导体泵浦；所述支撑机构包括：水冷板，所述水冷板的顶面形成第一水路结构，用于对设置在其顶面上的所述半导体泵浦进行散热；支撑座，所述支撑座的底面安装在所述水冷板的顶面；每组所述测试机构包括：安装组件，所述安装组件的底面安装在所述水冷板的顶面，所述安装组件的侧面安装在所述支撑座的一侧，并能够沿所述支撑座的侧面上下滑动，所述安装组件用于固定所述半导体泵浦；测试组件，其一端端面开设有通光孔，用于接入所述半导体泵浦的光纤，其内腔组成封闭腔体，且所述通光孔与所述封闭腔体连通，所述封闭腔体内设置有光电监测器，用于对所述半导体泵浦的老化拷机进行测试；所述安装组件包括：推拉架，安装在所述支撑座的一侧，并能够沿所述支撑座的侧面上下滑动；连接压块，安装在所述推拉架的底面；压板，安装在所述连接压块的底面；多个支撑圆柱，每个所述支撑圆柱安装在所述压板的底面，以及所述水冷板的顶面之间，且多个所述支撑圆柱之间构造成设置所述半导体泵浦的空间。2.根据权利要求1所述的用于半导体泵浦老化拷机测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：费华，卢昆忠，
申请(专利权)人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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