信息重放方法技术

技术编号:3065504 阅读:144 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种信息重放方法,通过照射激光束和检测从记录介质来的反射光而重放该介质上记录的信息,其特征在于包括下列步骤:检测反射光束强度分布上的极性变化基本上互相相反的多个反射光,该分布变化是在所述激光束的光点横切所述介质上的道时产生的,所述介质上的导引槽的宽度基本等于道间距的1/2;求取所述多个反射光的各个焦点偏离误差信号的和,以产生一个焦点偏离误差信号;以及求出所述多个反射光的各跟踪误差信号之间的差,以产生一个跟踪误差信号。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及,特别是涉及通过向记录介质上照射激光和检测从记录介质发出的反射光束而重放介质上记录的信息的。
技术介绍
光盘装置中的焦点位置控制方法的先有技术,记载在例如角田义人监修、日本电子情报通信学会编的「光盘存储的基础和应用」的初版(平成7年、コロナ社)的79~83页。根据该技术,有付科方式(刀口方式)、非点象差方式、光束尺寸检测方式、像旋转方式等,但是,根据光学系统的简单性、容易调整性、和与跟踪检测的组合容易性等方面考虑,现在,最一般的是非点象差方式。然而,在非点象差方式中,伴随光盘的偏心,在记录膜面上光点横切光道时容易发生焦点偏离信号中的干扰。特别是在聚焦光点发生非点象差时或在光检测器上光点发生偏离时,容易发生这种干扰。作为降低这种干扰的方法,有例如遮挡检测光束的中心部的方法(JP-A-6-162527及JP-A-6-309687)、利用物镜的旋转调整而降低的方法(JP-B-5-68774)、在检测系统中利用有非点象差的光与无非点象差的光的运算而降低干扰的方法(JP-A-5-197980),但是,不论哪种方法,都不是根本的解决方法,从而不一定能获得足够的降低效果。另外,在最近预定实现产品化的DVD-RAM中采用的脊凹槽型的光盘中,这种干扰特别大。这是由于在脊凹槽型的光盘中,导引槽(凹槽)的宽度与导引槽间(脊)部分的宽度基本上相等,在其双方记录信息,导引槽本身的间距与光点相比,比先有的光盘大,所以,利用后面所述的推拉方式的跟踪信号本来非常大。因此,在DVD-RAM用的光读写头中,不得不使用结构及调整复杂的光束尺寸检测方式和付科方式。光盘装置中的跟踪控制方法的先有技术,同样记载在例如角田义人监修、电子情报通信学会编的「光盘存储的基础和应用」的初版(平成7年、コロナ社)的83~92页。根据该技术,有3光点型、衍射光差动型(推拉方式)等。在光盘(CD)等的再生专用型中,根据光学系统的简单性、调整的容易性、抗干扰的强度等方面考虑,采用3光点型,在光磁盘及DVD-RAM等记录时需要大的激光发光功率时,主要采用推拉方式。这时,有时对于CD不能使用推拉方式,对于可记录光盘不能使用3光点型。在CD读写头中,根据低价格的必要性,如下地对付光盘的偏心,即为了追随聚焦光点,将物镜搭载到调节器上使其移动。于是,如果使用推拉方式,由于检测光束在光检测器上移动了,所以,它就呈现为偏移状态。另外,在再生专用的光盘中,在信号振幅最大的λ/(4n)(λ光波长,n基板折射率)的凹坑深度处,在由半径方向的凹坑串的周期结构引起的衍射光中,0级光减小,而且即使聚焦光点偏离光道,0级光和±1级衍射光的干涉强度也不会发生不平衡,从而不能获得跟踪信号。另一方面,在可记录光盘特别是光磁盘中,通常光盘的偏心的补偿用称为粗调调节器的调节器来进行,其只搭载光读写头乃至物镜和调节器部分,使光点接近目标光道附近。即,在跟踪误差中,用粗调调节器补偿低频成分,用物镜调节器补偿高频成分。以此来提高记录动作所需要的可靠性。因此,由于物镜调节器的移动量比CD等的小,所以,可以采用光利用效率比3光点型高的推拉方式。在导向槽的宽度大于脊部的宽度的ROM和介质中,在检测焦点偏离误差信号时,把跟踪误差信号混合到焦点偏离误差信号中是没有问题的,因为跟踪误差信号本身很小。但是,本专利技术人发现,在导向槽的宽度基本上等于槽间距的1/2的介质中,由于跟踪误差信号本身较大,混合入焦点偏离误差信号的跟踪误差信号的量增加。这就产生了精确性差的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种精确的跟踪误差信号和精确的聚焦(焦点偏离)误差信号,以解决现有技术中存在的上述问题。为了达到上述目的,本专利技术提出了一种,通过照射激光束和检测从记录介质来的反射光而重放该介质上记录的信息,其特征在于包括下列步骤检测反射光束强度分布上的极性变化基本上互相相反的多个反射光,该分布变化是在所述激光束的光点横切所述介质上的道时产生的,所述介质上的导引槽的宽度基本等于道间距的1/2;求取所述多个反射光的各个焦点偏离误差信号的和,以产生一个焦点偏离误差信号;以及求出所述多个反射光的各跟踪误差信号之间的差,以产生一个跟踪误差信号。在本专利技术的中,所述跟踪误差信号是通过以一个增益来放大所述多个反射光的各个跟踪误差信号、然后计算放大了的各跟踪误差信号之间的差而获得的,所述增益与各个反射光的总量的倒数之间的比率成正比。另外,在本专利技术的中,所述光点位于所述导向槽上时的光反射系数基本上等于所述光点位于导向槽之间时的光反射系数。附图说明本专利技术的这些和其他的目的、优点及特征将通过结合附图对本专利技术的实施例的描述而得到进一步说明。在这些附图中图1是表示本专利技术的基本实施例的光学系统的结构的图。图2是表示光盘上的光点配置和那时的反射光束的强度分布的图。图3是表示检测器输出的电路运算方法的图。图4是表示检测器输出的运算方法的图。图5是说明物镜移动引起的跟踪信号偏移的图。图6是说明非点象差引起的对焦点偏离信号的干扰的图。图7是使用相位反相衍射光栅的实施例的光学系统的结构。图8是说明相位反相衍射光栅的详细结构的图。图9是说明相位反相光的光盘导引槽引起的衍射的移相区域的重叠方式的图。图10是由相位反相衍射光栅加到光盘衍射光上的干涉相位差。图11是说明有物镜移动时相位反相光的光盘导引槽引起的衍射的移相区域的重叠方式的图。图12是使用偏振性移相器的本专利技术的实施例的光学系统的结构。图13是用于说明偏振性移相器的原理的图。图14是计算通常的导引槽横切引起的对焦点偏离信号的干扰的图。图15是计算使用相位反相衍射光栅时导引槽横切引起的对焦点偏离信号的干扰的图。图16是计算差动推拉方式中导引槽横切引起的对焦点偏离信号的干扰的图。图17是在通常的焦点偏离信号检测光束中的跟踪信号的透镜偏移特性。图18是使用相位反相衍射光栅时在焦点偏离信号检测光束中的跟踪信号的透镜偏移特性。图19是在差动推拉方式的焦点偏离信号检测光束中的跟踪信号的透镜偏移特性。图20是表示DVD、DVD-RAM、CD、CD-R的可以再生的本专利技术的光学系统结构的实施例的图。图21是说明图20的实施例的检测结构的详细情况的图。图22是表示图3的检测器输出的电路运算方法的修正例的图。图23是表示放大器的增益的频率特性和检测器的再生信号强度的特性图。具体实施例方式下面,使用附图说明本专利技术的实施例。图1表示本专利技术的基本实施例的光学系统的结构。从半导体激光器101发出的光由衍射光栅102发生衍射光,通过光束分离器103、反射镜104、物镜106在光盘107上形成0级光的主光点108和±1级衍射光的2个子光点109和110。反射光再次通过物镜106和反射镜104在光束分离器103反射,由圆柱透镜111提供焦点偏离检测用的非点象差,由光检测器115接受。光检测器115分为0级光用4分光检测区域112、±1级衍射光用4分光检测区域113及114,分别独立地进行检测。这里,衍射光栅102稍倾斜地配置,以使光盘上的±1级衍射光配置得自0级光向两侧偏离导引槽间距的一半。图2是表示这时的光盘上的光点配置和这时的反射光束的强度分布的图。图中,表示出了0级光201、±1级衍射光202及203相对于凹槽部204、脊部205向左侧本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种信息重放方法,通过照射激光束和检测从记录介质来的反射光而重放该介质上记录的信息,其特征在于包括下列步骤:检测反射光束强度分布上的极性变化基本上互相相反的多个反射光,该分布变化是在所述激光束的光点横切所述介质上的道时产生的,所述介质上 的导引槽的宽度基本等于道间距的1/2;求取所述多个反射光的各个焦点偏离误差信号的和,以产生一个焦点偏离误差信号;以及求出所述多个反射光的各跟踪误差信号之间的差,以产生一个跟踪误差信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 1998-2-16 032559/19981.一种信息重放方法,通过照射激光束和检测从记录介质来的反射光而重放该介质上记录的信息,其特征在于包括下列步骤检测反射光束强度分布上的极性变化基本上互相相反的多个反射光,该分布变化是在所述激光束的光点横切所述介质上的道时产生的,所述介质上的导引槽的宽度基本等于道间距的1/2;求取所述多个反射光的各个焦点偏离误差信号的和,以产生一个...

【专利技术属性】
技术研发人员:岛野健中村滋大西邦一井上雅之福井幸夫
申请(专利权)人:株式会社日立制作所
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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