PE薄膜表面晶点检测装置制造方法及图纸

PE薄膜表面晶点检测装置，包括水平放置的晶点照射构件，所述晶点照射构件通过支撑架固定支撑，所述晶点照射构件一侧设置有放卷辊组件，另一侧设置有收卷辊组件，所述晶点照射构件两端部分别对称设置有压引构件，两个所述压引构件可保持PE薄膜与所述晶点照射构件表面相贴合运动。本实用新型专利技术采用放卷辊组件与收卷辊组件相配合的方式，可对成卷PE薄膜进行连续释放观测，并及时收集成卷，同时，在晶点照射构件两端部分别对称设置压引构件，从而保持PE薄膜与晶点照射构件表面相贴合运动，实现PE薄膜表面晶点连续观测，抽检过程较为便捷，也不会破坏PE薄膜的完整性，不会造成浪费。不会造成浪费。不会造成浪费。

【技术实现步骤摘要】
PE薄膜表面晶点检测装置


[0001]本技术属于薄膜检测
，特别涉及一种PE薄膜表面晶点检测装置。

技术介绍

[0002]晶点实际上是“过度聚合物”，即：“晶点”部位聚合物的分子量要高于周围同种聚合物的分子量。由于分子量高，因此，晶点部位聚合物具有较高的熔点；在熔化时，熔体具有较高的粘度；晶点部位聚合物在吹膜或流延时，不能与周围的同种聚合物相互均匀分散、混合，并在熔体吹成或流延成薄膜后，先于周围的同种聚合物凝固；因此，形成“箭头状”或“球状”过度聚合物的凝固体，习惯上被称为“晶点”。
[0003]众所周知，晶点是PE薄膜厂家普遍存在的问题，晶点会影响到PE薄膜的外观；因此，在生产过程中需要对PE薄膜进行抽检，以监控其表面晶点数量，从而反馈给生产及时调整生产工艺，减少晶点，提高产品质量。
[0004]现有技术中，中小企业对PE薄膜表面晶点的监控一般采用人工观测，即将抽检出的成卷PE薄膜摊开后进行裁切成片，然后，将片状PE薄膜贴放在成排的LED灯箱上方进行照射，以观测晶点数量。但是，这种方式不能对抽检到的成卷PE薄膜进行连续观测，抽检过程较为繁琐，同时也破坏了PE薄膜的完整性，如果抽检合格，此PE薄膜便不能继续使用，造成浪费。

技术实现思路

[0005]本技术针对现有技术存在的不足，提供了一种PE薄膜表面晶点检测装置，具体技术方案如下：
[0006]PE薄膜表面晶点检测装置，包括水平放置的晶点照射构件，所述晶点照射构件通过支撑架固定支撑，所述晶点照射构件一侧设置有放卷辊组件，另一侧设置有收卷辊组件，所述晶点照射构件两端部分别对称设置有压引构件，两个所述压引构件可保持PE薄膜与所述晶点照射构件表面相贴合运动。
[0007]进一步地，所述晶点照射构件包括一安装座，所述安装座为长方体结构，所述安装座顶面向内开设有长方形的灯槽，所述灯槽内纵向等间距设置有至少六个以上的LED灯管，所述灯槽顶缘四周围合设置有凸台，所述凸台顶口通过透明玻璃封闭，所述凸台两端侧的所述安装座顶面上分别对称开设有纵向设置的辊槽，所述辊槽内设置有所述压引构件。
[0008]进一步地，所述安装座顶面一长边竖直设置有遮光板，所述遮光板长度与所述安装座顶面长度相同，且所述遮光板高于所述凸台。
[0009]进一步地，所述压引构件包括竖直设置在所述辊槽两端的挡板，两个所述挡板之间纵向架设有上下平行间隔的两个导引辊，两个所述导引辊之间的间距与所述PE薄膜的厚度相同，位于下方的所述导引辊设置于所述辊槽内，且位于下方的所述导引辊的顶端与所述透明玻璃的顶面相齐平。
[0010]进一步地，所述放卷辊组件包括U形结构的第一支架，所述第一支架的两侧顶面上
对称安装有第一轴承，两个所述第一轴承之间架设有第一转轴，所述第一转轴上轴向套接有第一辊筒，所述第一辊筒与所述导引辊在空间上相平行，所述第一转轴与所述第一轴承可拆卸地连接。
[0011]进一步地，所述收卷辊组件包括U形结构的第二支架，所述第二支架的两侧顶面上对称安装有第二轴承，两个所述第二轴承之间架设有第二转轴，所述第二转轴上轴向套接有第二辊筒，所述第二辊筒与所述导引辊在空间上相平行，所述第二转轴与所述第二轴承可拆卸地连接，所述第二转轴一端连接有摇把。
[0012]进一步地，所述第一转轴和第二转轴均通过各自端部的法兰盘分别与所述第一轴承和第二轴承连接。
[0013]进一步地，所述辊槽、所述第一辊筒和第二辊筒三者的长度均相同。
[0014]本技术的有益效果是：
[0015]本技术采用放卷辊组件与收卷辊组件相配合的方式，可对成卷PE薄膜进行连续释放观测，并及时收集成卷，同时，在晶点照射构件两端部分别对称设置压引构件，从而保持PE薄膜与晶点照射构件表面相贴合运动，实现PE薄膜表面晶点连续观测，抽检过程较为便捷，也不会破坏PE薄膜的完整性，不会造成浪费。
附图说明
[0016]图1示出了本技术的结构俯视图；
[0017]图2示出了图1中A
‑
A部位的结构示意图；
[0018]图3示出了本技术中安装座的结构俯视图；
[0019]图4示出了本技术的工作演示图。
[0020]图中所示：1、晶点照射构件；11、安装座；111、灯槽；112、辊槽；12、凸台；13、透明玻璃；14、LED灯管；15、遮光板；2、放卷辊组件；21、第一轴承；22、第一转轴；23、第一辊筒；24、第一支架；3、收卷辊组件；31、第二轴承；32、第二转轴；33、第二辊筒；34、第二支架；35、摇把；4、压引构件；41、挡板；42、导引辊；5、法兰盘；6、支撑架；7、PE薄膜。
具体实施方式
[0021]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0022]如图1所示，PE薄膜表面晶点检测装置，包括水平放置的晶点照射构件1，所述晶点照射构件1通过支撑架6固定支撑，所述晶点照射构件1一侧设置有放卷辊组件2，另一侧设置有收卷辊组件3，所述晶点照射构件1两端部分别对称设置有压引构件4，两个所述压引构件4可保持PE薄膜7与所述晶点照射构件1表面相贴合运动。
[0023]通过上述技术方案，采用放卷辊组件2与收卷辊组件3相配合的方式，可对成卷PE薄膜7进行连续释放观测，并及时收集成卷，同时，在晶点照射构件1两端部分别对称设置压引构件4，从而保持PE薄膜7与晶点照射构件1表面相贴合运动，实现PE薄膜7表面晶点连续观测，抽检过程较为便捷，也不会破坏PE薄膜7的完整性，不会造成浪费。
[0024]如图1和2所示，所述晶点照射构件1包括一安装座11，所述安装座11为长方体结
构，所述安装座11顶面向内开设有长方形的灯槽111，所述灯槽111内纵向等间距设置有至少六个以上的LED灯管14，所述灯槽111顶缘四周围合设置有凸台12，所述凸台12顶口通过透明玻璃13封闭，所述凸台12两端侧的所述安装座11顶面上分别对称开设有纵向设置的辊槽112，所述辊槽112内设置有所述压引构件4。
[0025]通过上述技术方案，凸台12可保证PE薄膜7贴合在透明玻璃13上穿过压引构件4，以便更好地观测晶点。
[0026]如图1和2所示，所述安装座11顶面一长边竖直设置有遮光板15，所述遮光板15长度与所述安装座11顶面长度相同，且所述遮光板15高于所述凸台12。
[0027]通过上述技术方案，遮光板15可以调节光线，使得PE薄膜7表面的晶点更好观测。
[0028]如图1、2和4所示，所述压引构件4包括竖直设置在所述辊槽112两端的挡板41，两个所述挡板41之间纵向架设有上下平行间隔的两个导引辊42，两个所述导引辊42之间的间距与所述PE薄膜7的厚度相同，位于下方的所述导引辊42设置于所述辊槽112内，且位于下方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.PE薄膜表面晶点检测装置，其特征在于：包括水平放置的晶点照射构件(1)，所述晶点照射构件(1)通过支撑架(6)固定支撑，所述晶点照射构件(1)一侧设置有放卷辊组件(2)，另一侧设置有收卷辊组件(3)，所述晶点照射构件(1)两端部分别对称设置有压引构件(4)，两个所述压引构件(4)可保持PE薄膜(7)与所述晶点照射构件(1)表面相贴合运动。2.根据权利要求1所述的PE薄膜表面晶点检测装置，其特征在于：所述晶点照射构件(1)包括一安装座(11)，所述安装座(11)为长方体结构，所述安装座(11)顶面向内开设有长方形的灯槽(111)，所述灯槽(111)内纵向等间距设置有至少六个以上的LED灯管(14)，所述灯槽(111)顶缘四周围合设置有凸台(12)，所述凸台(12)顶口通过透明玻璃(13)封闭，所述凸台(12)两端侧的所述安装座(11)顶面上分别对称开设有纵向设置的辊槽(112)，所述辊槽(112)内设置有所述压引构件(4)。3.根据权利要求2所述的PE薄膜表面晶点检测装置，其特征在于：所述安装座(11)顶面一长边竖直设置有遮光板(15)，所述遮光板(15)长度与所述安装座(11)顶面长度相同，且所述遮光板(15)高于所述凸台(12)。4.根据权利要求2所述的PE薄膜表面晶点检测装置，其特征在于：所述压引构件(4)包括竖直设置在所述辊槽(112)两端的挡板(41)，两个所述挡板(41)之间纵向架设有上下平行间隔的两个导引辊(42)，两个所述导引辊(42)之间的间距与所述PE薄...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯新亮，张彤，苏琴，容蓬勃，
申请(专利权)人：永生运佳宣城薄膜科技有限公司，
类型：新型
国别省市：