本发明专利技术的目的在于提供一种光学头，能够充分发挥检测光盘倾斜的功能且结构简洁。该光学头具备ＬＥＤ晶片３５，将所述ＬＥＤ晶片３５射出的射出光对准光盘６聚光的聚光元件，驱动所述聚光元件的聚光元件驱动机构和检测所述光盘６的倾斜或位置偏离的传感器３８。该传感器３８包括，将ＬＥＤ晶片３５搭载在设置了多个受光晶片３１ａ，３１ｂ的半导体基材３０上，所述ＬＥＤ晶片３５射出的射出光照射在所述光盘６上，所述多个受光晶片３１ａ，３１ｂ接收经所述光盘６反射的反射光，根据所述多个受光晶片３１ａ，３１ｂ接收的光量，可以检测出所述光盘６的倾斜或位置偏离。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光学头，光信息媒体驱动装置及传感器，特别是用于检测光信息媒体的倾斜与位置的偏离的小型传感器，设置了此传感器的光学头及光信息媒体驱动装置，用于检测构成光学头的构成部件中需要变位的某光学部件的倾斜与位置的传感器，以及设置了此传感器的光学头和光信息媒体驱动装置。
技术介绍
如今的信息化时代，关于高密度大容量存储器的技术开发非常盛行。对存储器的性能要求有例如高密度、大容量、高信赖性及重写功能等，现有的光盘就是满足了以上功能要求的一例。有关光盘中的用于将信息以光学形式记录并再生的光学头用于检测光盘倾斜的技术在过去也有许多的报道。例如专利文献1(日本专利公开公报平7-82657号)中所记载的技术就是为了解决，由于配备LED(Light Emitting Diode)和一对光学检测器而造成的成本增加及小型化困难的问题而开发的技术。图18是示意专利文献1中的光学头的结构的概况图，以下就其结构和动作进行说明。在图18中，1是半导体激光光源(以下简称LD)，2是LD1射出的光束，4是光束分裂器(beam splitter)，是将光盘6反射的反射光束与射出光束分离的分离部件，7是开口限制部件，限制射入作为聚光部件的物镜5的射入光束的开口，9是聚光点，LD1射出的光束2被聚集在光盘6的信息记录面上的光点，10是光检测器(light detector)，用于接收经光盘6反射并穿过物镜5和光束分裂器4的光束，并进行光电变换，40是物镜5的透镜光轴，8是从LD1射出的射出光束中，除去穿过开口限制部件7后射入物镜5的有效光束2以外的无用光束(用于检测倾斜(tilt)的光束即用于检测光盘6的倾斜的光束)，17是无用光束8被聚集在光盘6的信息记录面上的光点，14是作为，用于接收无用光束8经光盘6反射的反射光束的第2光检测部件的倾斜检测用光检测器，9是反射镜，用于改变无用光束8的部分光束的前进方向通过开口限制部件7使其射入透镜5的前进方向改变部件，所述倾斜检测用光检测器14具有14a和14b两个检测区域，14a，14b各区域的输出分别供给减法器15。此倾斜检测用光检测器14的输出，被用于检测物镜5的光轴与光盘6的信息记录面之间形成的角度，即光盘6的倾斜。下面参照图18对检测光盘6的倾斜的动作进行说明。LD1射出的发散光束中，由开口限制7决定的有效光束2被用于光盘6的记录和再生。其它无用光束8的部分光束的前进方向被反射镜9改变后穿过开口限制部件7，经物镜5照射在光盘6的聚光点17上。聚光点17被照射的部位与用于记录和再生的聚光点9被照射的部位不同。聚光点9，17经光盘6反射的反射光束，在不同的位置被成像，并由光检测器10，14分别受光。光检测器14用于检测倾斜(光盘的倾斜)，是由检测区域14a，14b构成的2分割光检测器。光检测器14被设置成，当光盘6垂直于物镜5的光轴时，使其检测区域14a和检测区域14b接收到的由用于检测倾斜的光束8所产生的聚光点17的光量相等的状态。在图18中，光盘6的半径是沿着X轴的方向。当光盘6的旋转轴倾斜于Y轴(Y轴的旋转方向)时，用于检测倾斜的光束8在光检测器14的±X方向上移动。因此，根据对检测区域14a和检测区域14b的受光量进行求差运算处理(检测区域14a的受光量一检测区域14b的受光量)，便可检测出光盘6的倾斜。此倾斜信息由减法器15以倾斜信号VTILT形式输出。这样，通过在原本没有被利用的LD1的无用光束中，只需设置一个反射镜90，便可以在不使用LED等另外的光源的情况下，得到检测倾斜用的光束。在此，有关构成应用了此光学头的光信息媒体驱动装置的构成要素，例如，致动机构，马达，电路及机械装置等，因与本专利技术的专利技术点无关，省略其图示及说明。然而，上述专利文献1的结构中存在如下的问题。如图18所示的结构，由于试图通过不使用LED等另外的光源即获得检测倾斜用的光束，以达到使光学头减少该部分所对应的体积的目的，而光检测器14，通过用于检测倾斜的光束8使聚光点17成像并受光，这种结构使得此光检测器14不得不被设置在光检测器10的附近，因而形成光学头构造上不必要的体积。此外，由于使用的是LD1射出的无用光束8，所以检测倾斜用的光束的光量和发散程度，会因为每个LD1特性的不同而产生偏差，因此检测倾斜(光盘倾斜)的性能也会产生偏差。再者，关于光检测器14的位置调节，由于是让聚光点17成像并受光，因此为了使检测区域14a和检测区域14b的受光量相同，需要对光检测器14的位置进行高精度的调节。加之，LD1的附近是光学头中温度最易上升的部分，因此，从LD1射出的无用光束8的位置和方向因温度变化而变化的可能性很大，造成检测倾斜(光盘倾斜)时容易产生误差而性能下降。也就是说，试图通过不使用LED等另外的光源使光学头小型化并降低成本的方法，不仅无法使其结构充分简化，还造成不能充分发挥检测倾斜(光盘倾斜)的功能的问题。另一方面，用LED作为另外一种光源与受光元件一体化的产品，即所谓倾斜传感器也有被实际应用。但是，由于这种倾斜传感器的尺寸例如在7mm×7mm×高9mm左右，所以装载在小型光学头上比较困难。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种能够充分发挥检测光盘的倾斜或光学部件的位置偏离等功能，且结构简洁的小型传感器，以及设置了此传感器的光学头，光信息媒体驱动装置。为达到所述目的，本专利技术所提供的一种光学头，是以使激光光源射出的用于信息的记录和再生的光束在光信息媒体上聚光，并接收经此光信息媒体反射的反射光束为前提，它包括传感器，用于检测所述光信息媒体相对于指定基准的倾斜或位置偏离，所述传感器包括基材，设置在所述基材上的光源晶片元件，设置在所述基材上的受光区域，用于接受由所述光源晶片元件射出且经由所述光信息媒体反射回来的光束，其中，所述受光区域被分割成多个区域，可根据各区域的受光量的比率来检测所述光信息媒体的倾斜或位置偏离。另外，本专利技术还提供一种光学头，以使激光光源射出的光束穿过规定的光学部件后在光信息媒体上聚光，并接收经此光信息媒体反射的光束为前提，它包括传感器，用于检测所述光学部件相对于指定基准所发生的位置偏离，所述传感器包括基材，设置在所述基材上的光源晶片元件，设置在所述基材上的受光区域，用于接受由所述光源晶片元件射出且经由所述光学部件或支撑此光学部件的支撑部件反射回来的光束，其中，所述受光区域被分割成多个区域，根据各区域的受光量的比率来检测所述光学部件的倾斜或位置偏离。另外，本专利技术还提供一种光学头，以使激光光源射出的用于信息的记录和再生的光束穿过规定的光学部件后在光信息媒体上聚光，并接收经此光信息媒体反射的光束为前提，它包括传感器，用于检测所述光学部件相对于规定标准发生的位置偏离，所述传感器包括基材，设置在所述基材上的光源晶片元件，设置在所述基材上的受光区域，用于接受所述光源晶片元件射出且经所述光学部件或支撑此光学部件的支撑部件反射的光束，所述光学部件或支撑此光学部件的支撑部件中，用于反射从所述光源晶片元件射出的光束的反射区域，包括各自具有不同反射率的多个区域，所述发射区域反射出的光束被所述受光区域接收，根据接收到的反射光的受光量来检测所述光学部件的倾斜或位置偏离。而且，所述基材的表面上还可以形成凹部本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光学头，使激光光源射出的用于信息的记录和再生的光束聚光在光信息媒体上，并接收经此光信息媒体反射的反射光，其特征在于包括：用于检测所述光信息媒体相对于指定基准的倾斜或位置偏离的传感器，其中，所述传感器包括：基材；设 置在所述基材上的光源晶片元件；设置在所述基材上的受光区域，用于接收由所述光源晶片元件射出且经所述光信息媒体反射的反射光，其中，所述受光区域被分割成多个区域，根据各区域的受光量的比率，检测所述光信息媒体的倾斜或位置偏离。
【技术特征摘要】
JP 2003-8-18 2003-2942951.一种光学头，使激光光源射出的用于信息的记录和再生的光束聚光在光信息媒体上，并接收经此光信息媒体反射的反射光，其特征在于包括用于检测所述光信息媒体相对于指定基准的倾斜或位置偏离的传感器，其中，所述传感器包括基材；设置在所述基材上的光源晶片元件；设置在所述基材上的受光区域，用于接收由所述光源晶片元件射出且经所述光信息媒体反射的反射光，其中，所述受光区域被分割成多个区域，根据各区域的受光量的比率，检测所述光信息媒体的倾斜或位置偏离。2.一种光学头，使激光光源射出的光束穿过指定的光学部件后聚光在光信息媒体上，并接收经此光信息媒体反射的反射光，其特征在于包括用于检测所述光学部件相对于指定基准的倾斜或位置偏离的传感器，其中，所述传感器包括基材；设置在所述基材上的光源晶片元件；设置在所述基材上的受光区域，用于接收由所述光源晶片元件射出且经所述光学部件或支撑此光学部件的支撑部件反射的反射光，其中，所述受光区域被分割成多个区域，根据各区域的受光量的比率，检测所述光学部件的倾斜或位置偏离。3.一种光学头，使激光光源射出的用于信息的记录和再生的光束穿过指定的光学部件后聚光在光信息媒体上，并接收经此光信息媒体反射的反射光，其特征在于包括用于检测所述光学部件相对于指定基准的倾斜或位置偏离的传感器，其中，所述传感器包括基材；设置在所述基材上的光源晶片元件；设置在所述基材上的受光区域，用于接收由所述光源晶片元件射出且经所述光学部件或支撑此光学部件的支撑部件反射的反射光，其中，所述光学部件或支撑此光学部件的支撑部件的用于反射从所述光源晶片元件射出的光束的反射区域，包括各自反射率不同的多个区域，根据所述反射区域反射出的反射光在所述受光区域的受光量的比率，检测所述光信息媒体的倾斜或位置偏离。4...
【专利技术属性】
技术研发人员：爱甲秀树，林卓生，中村彻，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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