光学头、光学再生装置和光学记录及再生装置制造方法及图纸

从光源１发出的光束入射到偏振器１４上。在预先调整偏振器１４的透射轴方向、使得偏振器１４透射Ｐ偏振光的情况下，仅Ｓ偏振光被衰减。透过衍射装置２和准直透镜３后入射到分束器４ａ上的光束基本上仅由Ｐ偏振光组成。在分束器４ａ上反射的部分光束入射到用于对光源１的输出进行反馈控制的光电探测器１３上。由于Ｓ偏振光被偏振器１４所衰减，仅Ｐ偏振光入射到光电探测器１３上。因此，即使在发出的激光束的量发生变化的情况下，用于记录及再生的光量与用于ＡＰＣ的光量之间的比例基本保持恒定，由此能提高探测激光束强度的精度，从而能够避免在记录和再生过程中产生误差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种利用前监控系统来控制光源输出的光学头，以及一种使用安装于其中的光学头的光学再生装置和光学记录及再生装置。
技术介绍
对不同类型的光学信息记录介质进行记录及再生时，需要相应于环境中例如温度的变化以及时间的流逝而精确且稳定地控制光学记录及再生装置的光学头中的光源输出。由于通常作为光学头中的光源的半导体激光器的输出随着温度或时间的变化或老化而发生波动，为了使光源的输出恒定，普遍尝试着通过APC(自动功率控制)来进行功率控制，以稳定发射到光学信息记录介质例如光盘上的光束的功率水平。作为APC的代表性系统，已知一种后监控系统和前监控系统。后监控系统是这样一种系统，在该系统中设置在封装壳内部的光电探测器探测从半导体激光器芯片后面向激光器封装壳内部发出的光束。在该系统中，由于光电探测器设置在激光器封装壳内部，因此光学头的尺寸能做得更小。通常，后监控系统用在仅进行再生的装置或那些专门用于再生的装置中。然而，在后监控系统中，由于从与半导体激光器的辐射表面相反的端面发射出光束，因此存在探测精度变差的问题。因此，前监控系统被用于需要高精度的记录类型。前监控系统是这样一种系统，在该系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学头，包括：　　　　光源；　　　　物镜，用于使从光源发出的光束会聚到光学信息记录介质的信息记录表面上；　　　　光电探测器，用于探测从光源发出的部分光束；以及　　　　光束衰减装置，用于衰减包含在从光源发出的光束中的预定偏振成分。

【技术特征摘要】
JP 2004-2-18 2004-0417011.一种光学头，包括光源；物镜，用于使从光源发出的光束会聚到光学信息记录介质的信息记录表面上；光电探测器，用于探测从光源发出的部分光束；以及光束衰减装置，用于衰减包含在从光源发出的光束中的预定偏振成分。2.如权利要求1所述的光学头，其中光束衰减装置设置在处于光源与光电探测器之间的位置上的光路中。3.如权利要求1所述的光学头，其中在处于光束衰减装置与物镜之间的位置上的光路中设置有分束器，且其中光电探测器设置成接收从光源发出、然后由分束器分束的光束中的没有入射到物镜上的光束。4.如权利要求3所述的光学头，其中随着包含在入射到分束器上的光束中的偏振成分的不同，分束器至少在透射率或反射率上有所不同。5.如权利要求3所述的光学头，其中在处于光源和分束器之间的位置上的光路中设置有准直透镜。6.如权利要求1所述的光学头，其中光电探测器设置成接收从光源发出的、落在光源和物镜之间的光路...

【专利技术属性】
技术研发人员：冈祯一郎，佐藤吉德，
申请(专利权)人：TDK株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]