本实用新型专利技术涉及一种半导体激光器功率测试装置，属于半导体激光器测试技术领域。装置包括底座、激光器插座、滑轨和功率测试头，其中，底座一侧设置滑轨，滑轨上滑动连接测试支撑杆，测试支撑杆上端设置功率测试头，滑轨上设置机械按压开关，底座另一侧设置插座支撑杆，插座支撑杆上端设置激光器插座，激光器插座导线连接至机械按压开关，激光器插座内设置激光器。本实用新型专利技术在不改变正常生产工序的情况下，避免激光器拔插测试时受到瞬间大电流冲击失效，同时通过快速调整功率测试头测试位置和减少电源开关时间提高工作效率。和减少电源开关时间提高工作效率。和减少电源开关时间提高工作效率。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体激光器功率测试装置
[0001]本技术涉及一种半导体激光器功率测试装置，属于半导体激光器测试
技术介绍
[0002]半导体激光器具有体积小、寿命长、功耗低、价格低廉等特点，可采用简单的注入电流方式来工作，与集成电路兼容，因而可与之单片集成，并且还可以用高达GHz的频率直接进行电流调制以获得高速调制的激光输出。由于这些优点，半导体激光器在激光通信、光存储、光陀螺、激光打印、测距、显示、激光照明以及雷达等方面获得了广泛的应用。
[0003]目前，在消费类电子、工业生产、民用及娱乐指示行业，TO封装的半导体激光器是最普遍的一种激光器，该类激光器对瞬间大电流非常敏感，对激光器进行测试时，普遍采用人工握持以及人工插装的方式，测试效率低且带电插装激光器容易受到瞬间大电流冲击失效。
[0004]常规人工手动测试过程为，激光器测试插座长期带电，将待测激光器插入带电插座，将功率测试仪器移动至对准激光器出光孔，测试激光器功率输出是否合格，测试完毕后直接将激光器取出，在该测试过程中由于测试插座并不断电，导致激光器在插拔测试过程中非常容易受到瞬间大电流冲击失效，如果单独外接开关，需要在安装激光器至测试插座，调整好功率测试头测试位置后进行通电测试，工作效率较低。
[0005]中国专利文件CN210198679U公开了一种半导体激光器功率测试与光斑识别装置，该装置包括底座支架，底座支架顶部设有第一横梁，底座支架中部设有第二横梁，第一横梁一端固定安装有积分球，积分球底部设有两个半透半反镜片支架，半透半反镜片两端分别与两半透半反镜片支架固定连接，底座支架上固定安装有激光器插座，第二横梁一端固定安装有半透屏幕，另一端固定安装有CCD相机，积分球顶部设有测试探头；该装置可以实现一次上料，同时完成激光器功率测试与光斑识别测试，但是并未对激光器插拔测试过程中容易受到瞬间大电流冲击失效的缺陷进行改进。
技术实现思路
[0006]针对现有技术的不足，本技术提供一种半导体激光器功率测试装置，在不改变正常生产工序的情况下，避免了激光器拔插测试时受到瞬间大电流冲击失效，提高工作效率。
[0007]本技术的技术方案如下：
[0008]一种半导体激光器功率测试装置，包括底座、激光器插座、滑轨和功率测试头，其中，底座一侧设置滑轨，滑轨上滑动连接测试支撑杆，测试支撑杆上端设置功率测试头，滑轨上设置机械按压开关，底座另一侧设置插座支撑杆，插座支撑杆上端设置激光器插座，激光器插座导线连接至机械按压开关，激光器插座内设置激光器。
[0009]优选的，机械按压开关包括下电极基座、上电极弹片和导向柱，下电极基座设置于
滑轨上，下电极基座一侧设置上电极弹片，上电极弹片延伸至下电极基座上方，上电极弹片上设置导向柱，下电极基座和上电极弹片分别通过导线连接电源，测试支撑杆沿滑轨运动至机械按压开关上方时将导向柱下压，下电极基座和上电极弹片接触，激光器通电，开始进行测试，减少电源开关时间，提高工作效率。
[0010]进一步优选的，测试支撑杆下端与滑轨之间的间隙厚度小于导向柱高度，保证测试支撑杆可以按压导向柱进行激光器通电。
[0011]优选的，导向柱上端面为半圆弧形，方便测试支撑杆进行按压操作。
[0012]优选的，机械按压开关设置于功率测试头测试位置下方的滑轨上，保证功率测试头随测试支撑杆可快速运动至测试位置，提高效率，同时激光器通电，保证测试正常进行。
[0013]优选的，激光器插座设置于插座支撑杆朝向功率测试头的一侧，保证激光器出光面对应功率测试头。
[0014]优选的，底座选用非导电材料电木或有机玻璃。
[0015]上述半导体激光器功率测试装置的使用方法，操作步骤如下：
[0016](1)将激光器插入激光器插座；
[0017](2)将功率测试头随测试支撑杆移动至测试位置，测试支撑杆向下按压导向柱，下电极基座和上电极弹片接触，激光器通电，功率测试头开始测试激光器输出功率；
[0018](3)测试完毕后将测试支撑杆移动至初始位置，上电极弹片在弹力作用下恢复，激光器断电，然后取下激光器，静待下一次测试。
[0019]本技术的有益效果在于：
[0020]1、本技术在不改变正常生产工序的情况下，避免激光器拔插测试时受到瞬间大电流冲击失效，同时通过快速调整功率测试头测试位置和减少电源开关时间提高工作效率。
[0021]2、本技术结构简单，操作方便，制作成本低，可广泛应用于生产。
附图说明
[0022]图1为本技术的结构示意图；
[0023]图2为本技术的测试状态结构示意图；
[0024]图3为本技术的机械按压开关结构示意图；
[0025]其中：1、激光器；2、功率测试头；3、测试支撑杆；4、滑轨；5、机械按压开关；6、底座；7、插座支撑杆；8、激光器插座；
[0026]501、导向柱；502、下电极基座；503、上电极弹片。
具体实施方式
[0027]下面通过实施例并结合附图对本技术做进一步说明，但不限于此。
[0028]实施例1：
[0029]如图1
‑
3所示，本实施例提供一种半导体激光器功率测试装置，包括底座6、激光器插座8、滑轨4和功率测试头2，其中，底座6一侧设置滑轨4，滑轨4上滑动连接测试支撑杆3，测试支撑杆3上端设置功率测试头2，滑轨4上设置机械按压开关5，底座6另一侧设置插座支撑杆7，插座支撑杆7上端设置激光器插座8，激光器插座8导线连接至机械按压开关5，激光
器插座8内设置激光器1。通过设置机械按压开关避免在测试过程中由于激光器插座长期通电而导致激光器在插拔测试过程中受到瞬间大电流冲击失效。
[0030]机械按压开关5包括下电极基座502、上电极弹片503和导向柱501，下电极基座502设置于滑轨4上，下电极基座502一侧设置上电极弹片503，上电极弹片503延伸至下电极基座502上方，上电极弹片503上设置导向柱501，下电极基座和上电极弹片分别通过导线连接电源，测试支撑杆沿滑轨运动至机械按压开关上方时将导向柱下压，下电极基座和上电极弹片接触，激光器通电，开始进行测试，减少电源开关时间，提高工作效率。
[0031]测试支撑杆3下端与滑轨4之间的间隙厚度小于导向柱501高度，保证测试支撑杆可以按压导向柱进行激光器通电。
[0032]机械按压开关5设置于功率测试头测试位置下方的滑轨上，保证功率测试头随测试支撑杆可快速运动至测试位置，提高效率，同时激光器通电，保证测试正常进行。
[0033]激光器插座8设置于插座支撑杆7朝向功率测试头的一侧，保证激光器出光面对应功率测试头。
[0034]底座选用非导电材料电木。
[0035]上述半导体激光器功率测试装置的使用方法如下：
[0036](1)将激光器插入激光器插座；
[0037](2本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器功率测试装置，其特征在于，包括底座、激光器插座、滑轨和功率测试头，其中，底座一侧设置滑轨，滑轨上滑动连接测试支撑杆，测试支撑杆上端设置功率测试头，滑轨上设置机械按压开关，底座另一侧设置插座支撑杆，插座支撑杆上端设置激光器插座，激光器插座导线连接至机械按压开关，激光器插座内设置激光器。2.如权利要求1所述的半导体激光器功率测试装置，其特征在于，机械按压开关包括下电极基座、上电极弹片和导向柱，下电极基座设置于滑轨上，下电极基座一侧设置上电极弹片，上电极弹片延伸至下电极基座上方，上电极弹片上设置导向柱，下电极基座和上电极弹...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁盼，李彬亭，刘琦，
申请(专利权)人：山东华光光电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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