基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置制造方法及图纸

本申请提出基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，该装置包括：垂直腔面激光器、用于产生所需的光载波信号，第一功分器用于将被测微波源发出的信号分成两路，一路送至第二功分器，经第二功分器分成2路，其中的一路经移相、混频器后通过低通滤波器A滤波，另一路送至第三功分器，经第三功分器分成2路，其中的一路经移相、混频器后通过低通滤波器B滤波，第二功分器及第三功分器分成另一路分别进入双偏振强度调制器，经偏振分束后的x偏振态的光经光电探测器A、y偏振态的光进入经光电探测器B，然后分别经放大器放大后的信号作为射频信号输入对应的混频器中，混频器输出端连接对应的低通滤波器滤除高频信号，低通滤波器A、低通滤波器B输出的信号输入信号分析仪中，经计算可得到被测微波源的相位噪声。可得到被测微波源的相位噪声。可得到被测微波源的相位噪声。

【技术实现步骤摘要】
cross correlation method for phase noise measurement,”in Proc.IEEE Int.Freq.Control Symp.Exp.,pp.303
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306,2004]。然而，该方案需要两套相同的光延时相噪测量系统，包括两个激光器、调制器、光纤等，结构复杂，成本高；且为了确保测量结果正确，两个通道中数公里光纤的延时必须相同，这在实验中是很难做到的。

技术实现思路

[0004]为克服上述缺陷点，本申请的目的在于：提供一种基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试方法及测试装置，提高测量系统精度的同时简化了系统结构，降低了测试系统的成本。
[0005]为实现上述目的，本申请采用的技术方案：
[0006]基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，包括：沿光路方向依次连接的垂直腔面激光器、双偏振强度调制器及偏振分束器，所述垂直腔面激光器用于产生两个不同偏振态的光载波信号，所述双偏振强度调制器用于对不同偏振态的光进行电光调制，
[0007]第一功分器的输入端连接待测微波源，输出端分别与第二功本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：包括：沿光路方向依次连接的垂直腔面激光器、双偏振强度调制器及偏振分束器，所述垂直腔面激光器用于产生两个不同偏振态的光载波信号，所述双偏振强度调制器用于对不同偏振态的光进行电光调制，第一功分器的输入端连接待测微波源，输出端分别与第二功分器和第三功分器相连，第二功分器的输出端连接双偏振强度调制器及移相器A，移相器A的输出端连接混频器A，第三功分器的输出端连接双偏振强度调制器及移相器B，移相器B的输出端连接混频器B，所述双偏振强度调制器通过光纤连接偏振分束器，偏振分束器的第一输出端连接光电探测器A，光电探测器A的输出端连接所述混频器A的输入端，偏振分束器的第二输出端连接光电探测器B，光电探测器B的输出端连接所述混频器B的输入端，所述混频器A输出端连接低通滤波器A，所述混频器B连接低通滤波器B，所述低通滤波器A的输出端及所述混频器B的输出端分别连接信号分析装置。2.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：所述信号分析装置为快速傅里叶变换分析仪，所述快速傅里叶变换分析仪接收并分析分别...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢溢锋，周沛，李念强，江芝东，傅剑斌，潘万胜，
申请(专利权)人：苏州大学，
类型：新型
国别省市：