跟踪误差检测装置制造方法及图纸

提供一种跟踪误差检测装置，该装置无论在通过ＣＡＶ再现盘时还是要再现的盘上有伤时都能正确地检测跟踪误差信号。根据本发明专利技术的跟踪误差检测装置具有相位差检测电路３１，把２个序列的数字信号作为输入，利用该２个序列的数字信号的过零点间的距离进行相位比较，输出相应的相位比较结果；ＬＰＦ１０８，根据该相位比较结果生成跟踪误差信号，上述相位差检测电路３１在不适合作为相位比较对象的位置上不进行相位比较，并且，以１个采样时钟的脉冲输出上述相位比较结果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种跟踪误差检测装置，用于检测在光记录媒体上照射光后得到的光点的跟踪误差。
技术介绍
作为从以CD(Compact Disc)和DVD(Digital Video Disc)为代表的、通过凹凸坑记录信息的光盘得到跟踪控制信号的方式，近年来使用所谓相位差法的方法。专利文献1示出了关于相位差法的一个例子。以下，用图19说明专利文献1所示的现有跟踪误差检测装置。图19是现有跟踪误差检测装置的结构方框图。如图19所示，现有跟踪误差检测装置具有感应光点的反射光的感光元件，包括光检测器101，输出与各感光元件的感光量对应的光电流；第1～第4电流电压变换器102a～102d，将光检测器101的光电流输出变换为电压信号；信号生成器，即第1及第2加法器103a、103b，根据通过第1～第4电流电压变换器102a～102d得到的电压信号，依据光点的跟踪误差生成相位彼此变化的2个信号序列；第1及第2模数转换器(ADC)104a、104b，由2个信号序列得到第1及第2数字信号序列；第1及第2内插滤波器105a、105b，对输入的数字信号实施内插处理；第1及第2过零点检测电路106a、106b，分别检测通过第1及第2内插滤波器105a、105b内插的第1及第2数字信号序列的过零点；相位差检测电路107，检测第1数字信号序列的过零点和第2数字信号序列的过零点的相位差；低通滤波器(LPF)108，对从相位差检测电路107输出的相位比较信号进行频带限制后，得到跟踪误差信号。这里，光检测器101具有4个感光元件101a、101b、101c、101d，其通过将作为信息凹坑列记录在记录媒体上的信息道在切线方向和垂直方向上进行分割而形成，第1及第2加法器103a、103b通过分别将根据光检测器101输出的、各感光元件的感光量而生成的信号内、位于对角线上的感光元件的输出信号彼此相加而生成2个序列的数字信号。所谓过零点是指输入的数字信号和根据该数字信号的平均值算出的数字信号的中心电平的相交点。接着，对现有跟踪误差检测装置的动作进行说明。首先，在光检测器101中，感应在光记录媒体(未图示)的轨道上照射光后得到的光点的反射光，输出与感光量对应的光电流。作为光检测器101的输出的光电流通过第1～第4电流电压变换器102a～102d变换为每个感光元件的电压信号，分别通过第1加法器103a把第1及第3电流电压电路102a、102c的输出相加，通过第2加法器103b把第2及第4电流电压电路102b、102d的输出相加。这样，从第1及第2加法器103a、103b输出的信号通过第1及第2ADC104a、104b进行各信号序列的离散化(采样)，变换为第1及第2数字信号序列。之后，从第1及第2ADC104a、104b输出的数字信号输入到内插滤波器105a、105b中，求出数字信号的采样数据间的内插数据后，通过过零点检测电路106a、106b检测内插的2个数据序列的上升沿或下降沿的过零点。此外，作为内插的方法，例如有所谓奈奎斯特内插法，作为2个数据序列的上升沿或下降沿的过零点检测方法，例如有求出内插的数据序列中的符号变化点(+→-或-→+)的方法。在相位差检测电路107中，利用从过零点检测电路106a、106b输出的过零点信息求出第1及第2信号序列的波形中过零点间的距离，根据过零点间的距离检测相位比较信号，最终通过LPF108进行频带限制后，生成跟踪伺服控制所需的频带跟踪误差信号。接着，进一步用图20、图21详细说明上述现有相位差检测电路107的结构和动作。图20是现有相位差检测电路107的结构方框图。图20中，相位差检测电路107由相位差计算电路201、脉冲生成部202和数据更新部203组成。相位差计算电路201以过零点检测电路106a、106b中检测出的过零信息为基础计算2个序列的数字信号的过零点间的距离，作为相位比较结果顺序输出给数据更新部203。脉冲生成部202在用于相位比较的各数据序列的过零位置上分别生成1个采样时钟的脉冲信号，将对应于该生成的各数据序列的脉冲信号中、进行相位比较的点之后出现的脉冲信号作为相位比较结束脉冲输出。数据更新部203每逢从脉冲生成部202输出的每个相位比较结束脉冲就用从相位差计算电路201顺序输出的相位比较结果更新输出数据，在下一个相位比较脉冲到来之前保持该输出数据的输出电平。图21是用于说明相位差检测电路107的动作的说明图，如图21所示，从上到下示出了从第1过零点检测电路106a输出的第1信号序列(相位比较输入A)、从第2过零点检测电路106b输出的第2信号序列(相位比较输入B)、从脉冲生成部202输出的相位比较结束脉冲、从相位差检测电路11输出的相位比较输出。此外，图21中的相位比较输入A、B中使用的符号○表示通过第1或第2ADC104a、104b求出的采样数据，符号△表示通过第1或第2内插滤波器105a、105b求出的内插数据序列，符号●及符号▲表示根据采样数据序列和内插数据序列求出的过零点。图21中说明的相位比较信号着眼于特定的1条轨道附近，因此，是在求其相位差的2个数据序列的下降沿求出的。而且，内插数据的数n＝3。当过零点检测电路106a、106b的输出输入相位差检测电路107中时，在相位差检测电路107中，通过相位差计算电路201进行求出在过零点检测电路106a、106b中检测出的过零点间的距离的计算，同时，通过脉冲生成部202在用于相位比较的各数据序列(相位比较输入A和B)过零的位置上分别生成1个采样时钟的脉冲信号，将对应于该生成的各数据序列的脉冲信号中、后来出现的脉冲信号作为相位比较结束脉冲输出(参考图21的相位比较结束脉冲)。然后，通过相位差检测电路107的数据更新部203，每逢脉冲生成部202输出相位比较结束脉冲就更新利用了相位差计算电路201输出的相位比较结果的输出数据，同时，在下一个相位比较脉冲到来之前保持该输出数据的输出电平(参考图21的相位比较输出)。从而，通过相位差检测电路107检测图21的相位比较输出所示的相位比较信号，在关注特定的1个轨道附近时，对相位比较信号进行频带限制后得到的跟踪误差信号几乎变成直线状的信号。然后，通过把该跟踪误差信号分到多个轨道进行观测，可以得到全部的、图22所示的逐轨道地反复的大致锯齿状波形。如上，在现有的轨道误差检测装置中，因为可以通过数字信号处理检测跟踪误差，所以可以适应利用模拟信号处理进行跟踪误差检测所不能适应的光记录再现装置的倍速化和记录媒体的高密度化，同时，可以大幅缩减与模拟信号处理有关的结构，可以实现光记录再现装置的小型化和低成本化。专利文献1特开平2001-67690专利文献2特开昭63-181126号公报因此，在上述现有跟踪误差检测装置中，因为固定采样率地由第1及第2ADC104a、104b进行AD变换，所以，当CAV再现时，就有在盘的内侧和外侧得到的跟踪误差信号振幅变化的问题。即，当CAV再现时，盘内周侧信道发送速率晚，盘外周侧的信道发送速率早，因此，在第1及第2ADC104a、104b的采样率固定的状态下进行AD变换，从而，在相同相位间隔内采样的采样数据的数量是盘内周侧比盘外周侧多，在盘的内侧和外侧得到的跟踪误差信号的振本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种跟踪误差检测装置，其特征在于，具有：高通滤波器，除去２个序列的数字信号中、小于或等于规定的截止频率的频率，所述２个序列的数字信号是通过将根据由４个感光元件组成的光检测器输出的各感光元件的感光量而生成的信号内、位于对角位置上的感光 元件的输出信号彼此相加而得到的，所述４个感光元件是通过将作为信息凹坑串记录在记录媒体上的信息道在切线方向和垂直方向上进行４分割而形成的元件；过零检测电路，从被除去了上述小于或等于规定的截止频率的频率后的２个序列的数字信号中检测各序列 的过零点，所述过零点是数字信号和该数字信号的中心电平的交点；相位差检测电路，利用上述２个序列的数字信号的过零点间的距离进行相位比较，并输出相位比较结果；和低通滤波器，通过对从上述相位差检测电路输出的信号进行频带限制，来得到跟 踪误差信号。

【技术特征摘要】
JP 2003-3-26 086369/20031.一种跟踪误差检测装置，其特征在于，具有高通滤波器，除去2个序列的数字信号中、小于或等于规定的截止频率的频率，所述2个序列的数字信号是通过将根据由4个感光元件组成的光检测器输出的各感光元件的感光量而生成的信号内、位于对角位置上的感光元件的输出信号彼此相加而得到的，所述4个感光元件是通过将作为信息凹坑串记录在记录媒体上的信息道在切线方向和垂直方向上进行4分割而形成的元件；过零检测电路，从被除去了上述小于或等于规定的截止频率的频率后的2个序列的数字信号中检测各序列的过零点，所述过零点是数字信号和该数字信号的中心电平的交点；相位差检测电路，利用上述2个序列的数字信号的过零点间的距离进行相位比较，并输出相位比较结果；和低通滤波器，通过对从上述相位差检测电路输出的信号进行频带限制，来得到跟踪误差信号。2.一种跟踪误差检测装置，其特征在于，具有高通滤波器，除去4个序列...

【专利技术属性】
技术研发人员：平塚隆繁，苅田吉博，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]