用于测量信号质量的设备和方法技术

提供了一种基于维特比解码器的电平信息测量光盘上的信号质量的设备和方法。所述信号质量测量设备包括：二进制单元，从输入ＲＦ信号产生二进制信号；通道识别器，接收输入ＲＦ信号和从二进制单元输出的二进制信号，并输出与该二进制信号相应的参考电平值；和信息计算器，接收参考电平值并检测信号质量值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种，更具体地讲，涉及这样的一种测量信号质量的设备和方法，它根据维特比解码器的电平信息来检测从光盘再现的信号的质量。
技术介绍
光盘驱动器将二进制信号写在盘表面上，并通过将激光束发射到盘表面并分析反射的波形来再现数据。从盘表面读取的信号是射频(RF)信号。此外，即使当二进制信号被记录在盘表面上时，由于盘特性和光学特性，从盘表面读取的RF信号也具有模拟信号的特征，而不具有二进制信号的特征。模拟信号的特征可被用于各种目的，比如制作的盘的质量控制。模拟信号的典型特征在于不对称值和调制比。不对称值，作为表示信号的中心部分距总信号多远的指标，通常如下面等式1所示定义。调制比，作为表示具有短时间段(T)的信号的幅度距总信号的幅度多远的指标，通常如下面等式2所示定义。等式1不对称值＝{(最长的T的顶端电平+最长的T的底端电平)/2-(最短的T的顶端电平-最短的T的底端电平)/2}/(最长的T的顶端电平-最长的T的底端电平)等式2调制比＝(最短的T的顶端电平-最短的T的底端电平)/(最长的T的顶端电平-最长的T的底端电平)图1是传统的用于获得不对称值和调制比的信号质量测量设备的框图。所述传统的技术在第5,490,127号美国专利中公开。参照图1，从盘读取的RF信号通过限幅器电路41和42被发送之后，RF信号的符号(+或-)被确定，在已确定符号的RF信号经过特定时间段(正或负)边缘检测电路43a和43b以及采样脉冲发生器44a和44b之后，获得最短的T和最长的T的采样脉冲。图1显示其中最短的T为3秒的信号的采样波形。在采样脉冲经过各自的采样保持电路46a和46b以及峰底保持电路48a和48b之后，获得峰值3TTOP和RFTOP以及底端值3BTTM和RFBTM。通过将峰值3TTOP和RFTOP以及底端值3BTTM和RFBTM经过计算等式1和等式2的等效电路(未示出)来计算不对称值和调制比。然而，由于上述的传统的信号质量检测设备通过仅对从盘读取的RF信号的特定采样波形进行采样来检测峰值和底端值，所以不能精确地计算出峰值和底端值。另外，当最短的T被改变时，也就是说，尽管最初在盘写入方法中2T被用作最短的T，但是当在确定使用2T不能检测不对称值和调制比之后在盘写入方法中使用3T而不是使用2T时，图1中所示的硬件构造51到58必须被重新构造，重新构造比较难并且花费时间。专利技术的公开技术解决方案本专利技术的一方面提供了一种这样测量信号质量的设备和方法，它能够更精确地计算不对称值和调制比。本专利技术的一方面还提供了一种这样的测量信号质量的设备和方法，它能够当最短的T被改变时更容易地计算不对称值和调制比。有益的效果如上所述，根据本专利技术的一方面，提供了一种能够更精确地计算不对称值和调制比的测量信号质量设备和方法。另外，提供了一种当最短的T的信号被改变时能够更容易地计算不对称值和调制比的测量信号质量的设备和方法。附图说明图1是传统的用于获得不对称值和调制比的信号质量测量设备的框图；图2是根据本专利技术一方面的信号质量测量设备的框图；图3是图2的通道识别器的框图； 图4是表示根据本专利技术一方面的典型的5抽头维特比解码器的算法的格形图；图5是根据本专利技术一方面的信息计算器的框图；图6表示当使用图4的维特比解码器时使用根据本专利技术一方面的信息计算器的信号质量测量处理；图7是根据本专利技术另一方面的信号质量测量设备的框图；图8是根据本专利技术另一方面的信号质量测量设备的框图；图9是根据本专利技术另一方面的信号质量测量设备的框图；和图10表示根据本专利技术一方面的非线性转换器。最佳方式本专利技术的一方面提供了一种信号质量测量设备，包括二进制单元，从输入RF信号产生二进制信号；通道识别器，接收输入RF信号和从二进制单元输出的二进制信号，并输出与该二进制信号相应的参考电平值；和信息计算器，接收参考电平值并检测信号质量值。在本专利技术的该方面中，二进制单元包括维特比解码器或者限幅器。根据本专利技术的另一方面，所述通道识别器在预定的时间段内输入的RF信号的基础上检测参考电平值。更具体地讲，所述通道识别器通过获得先前参考电平值和输入RF信号的平均值来检测每个参考电平值。根据本专利技术的另一方面，所述通道识别器包括选择信号产生器，从维特比解码器的输出信号产生选择信号；电平选择器，响应于该选择信号，从输入RF信号选择将被检测的电平；和平均值滤波器单元，在先前电平值和输入到该选择的电平的信号的电平值的基础上来产生该选择的电平的新的电平值。所述选择信号产生器通过复用延迟的信号来产生选择信号，所述延迟的信号是根据维特比解码器抽头的数目而延迟的从维特比解码器输出的信号；所述平均值滤波器单元根据下述等式来检测每个参考电平参考电平值＝先前电平值+(延迟的输入信号-先前电平值)/常数。根据本专利技术的另一方面，所述信息计算器包括至少一个平均单元，在接收的参考电平值之中产生具有相同数字和值的参考电平值的平均值；和信号质量计算器，接收参考电平值和参考电平值的平均值并产生信号质量值。在本专利技术的该方面中，具有最短的T的信号从由具有相同数字和值的参考电平值表示的二进制信号中去除。根据本专利技术的另一方面，所述设备还包括游程补偿器，检测并补偿不符合编码条件的具有小于最短的T的T的信号，其中，所述游程补偿器位于所述二进制单元之后。根据本专利技术的另一方面，所述设备还包括非线性转换器，对输入RF信号进行转换以便具有非线性响应特性，其中，所述非线性转换器位于所述二进制单元之前。这里，最好非线性转换器包括非线性函数单元，其中所述非线性函数单元具有由下面等式表示的转换函数y=x*[{a=0}*{|x|<=k}+{a=1}*{|x|>k}]+k*(-1)[{a=0}*{|x|<=0}+{a=1}*{|x|>0}][{a=0}*{|x|>k}+{a=1}*{|x|>k}]*.]]>具体实施方式结合附图，从下面对实施例的描述中，本专利技术的这些和/或其他方面和优点将会变得清楚和更容易理解。现在将详细地对本专利技术实施例进行描述，其示例表示在附图中，其中，相同的标号始终表示相同的部件。参照附图，下面将对实施例进行描述以解释本专利技术。图2是根据本专利技术一方面的信号质量测量设备的框图。信号质量测量设备包括模拟-数字(AD)转换器110、直流(DC)偏移消除器120和均衡器130。由AD转换器110对拾取单元(未示出)从盘读取的RF信号10进行模拟-数字转换。转换的数字信号的DC分量被DC偏移消除器120消除，均衡器130对从DC偏移消除器120输出的信号进行均衡，从而每个时间段的信号具有相似的电平。如果信号质量让人满意，则可省略均衡器130。均衡器130通常由FIR滤波器组成。维特比解码器140对均衡器130的输出信号131进行通道解码，从而获得二进制信号141。所述信号质量测量设备可还包括通道识别器170和/或信息计算器150。通道识别器170接收维特比解码器140的输出信号202和均衡器130的输入信号111，并检测被用作维特比解码器140的参考电平的适当的电平值203。信息计算器150接收由通道识别器170确定的适当的电平值203，并计算不对称值和调制比。根据本专利技术一方面，与在从最短的T本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信号质量测量设备，包括：二进制单元，从输入ＲＦ信号产生二进制信号；通道识别器，接收输入ＲＦ信号和从二进制单元输出的二进制信号，并输出与该二进制信号相应的参考电平值；和信息计算器，接收参考电平值并检测信号质量值。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】KR 2003-9-16 10-2003-00641581.一种信号质量测量设备，包括二进制单元，从输入RF信号产生二进制信号；通道识别器，接收输入RF信号和从二进制单元输出的二进制信号，并输出与该二进制信号相应的参考电平值；和信息计算器，接收参考电平值并检测信号质量值。2.如权利要求1所述的设备，其中，所述二进制单元包括维特比解码器或限幅器。3.如权利要求1所述的设备，其中，所述通道识别器在预定的时间段内输入的RF信号的基础上检测参考电平值。4.如权利要求3所述的设备，其中，所述通道识别器通过获得先前参考电平值和输入RF信号的平均值来检测每个参考电平值。5.如权利要求3所述的设备，其中，所述通道识别器包括选择信号产生器，从维特比解码器的输出信号产生选择信号；电平选择器，响应于该选择信号，从输入RF信号选择将被检测的电平；和平均值滤波器单元，根据先前电平值和输入到该选择的电平的信号的电平值产生该选择的电平的新的电平值。6.如权利要求5所述的设备，其中，所述选择信号产生器通过复用延迟的信号来产生选择信号，所述延迟的信号是根据维特比解码器抽头的数目而延迟的从维特比解码器输出的信号。7.如权利要求5所述的设备，其中，所述平均值滤波器是低通滤波器。8.如权利要求5所述的设备，其中，所述平均值滤波器单元根据下述等式来检测每个参考电平参考电平值＝先前电平值+(延迟的输入信号-先前电平值)/常数。9.如权利要求2所述的设备，其中，所述信息计算器包括至少一个平均单元，在接收的参考电平值之中产生具有相同数字和值的参考电平值的平均值；和信号质量计算器，接收参考电平值和参考电平值的平均值并产生信号质量值。10.如权利要求9所述的设备，其中，具有最短时间段T的信号从由具有相同数字和值的参考电平值表示的二进制信号去除。11.如权利要求10所述的设备，其中，具有连续位的预定数目等于最短的时间段T的信号被选择以获得高中间参考电平值和低中间参考电平值。12.如权利要求9所述的设备，其中，所述信号质量计算器根据下述等式计算不对称值不对称值＝{(最高电平+最低电平)/2-(高中间电平-低中间电平)/2}/(最高电平-最低电平)。13.如权利要求9所述的设备，其中，所述信号质量计算器根据下述等式计算调制比调制比＝(高中间电平-低中间电平)/(最高电平-最低电平)。14.如权利要求9所述的设备，还包括游程补偿器，检测并补偿不符合编码条件的具有小于最短的时间段T的T的信号，其中，所述游程补偿器位于所述二进制单元之后。15.如权利要求14所述的设备，还包括非线性转换器，对输入的RF信号进行转换以具有非线性响应特性，其中，所述非线性转换器位于所述二进制单元之前。16.如权利要求15所述的设备，其中，所述非线性转换器包括非线性函数单元，其中，所述非线性函数单元具有根据下面等式表示的转换函数y＝x*[{a＝0}*{|x|＜＝k}+{a＝1}*{|*|＞k}]+k*(-1)[{a＝0}*{|x|＜＝0}+{a＝1}*{|x|＞0}]*[{a＝0}...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴贤洙，沈载晟，李载旭，李政炫，柳恩真，赵莺燮，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]