【技术实现步骤摘要】
公开了一种存储器件(memory device)、存储系统和存储器件的操作方法。
技术介绍
1、在高性能电子系统中广泛使用的存储器件的集成度和速度正在增加，并且存储器件的制造工艺也正在小型化。
技术实现思路
1、实施例涉及一种存储器件，所述存储器件包括：存储单元阵列，所述存储单元阵列包括多个行；纠错码(ecc)引擎，所述ecc引擎被配置为基于从所述多个行中的每一行读取的数据的错误发生数目来确定所述多个行中的每一行的健康水平；控制逻辑，所述控制逻辑被配置为基于所述健康水平和对所述多个行中的每一行的访问次数来确定受害行地址；以及刷新控制电路，所述刷新控制电路被配置为对与所确定的受害行地址相对应的行执行刷新。
2、所述控制逻辑包括：访问计数器，所述访问计数器对所述多个行中的每一行的行地址的访问次数进行计数，以及寄存器，所述寄存器存储包括所述行地址和对所述行地址的访问次数的访问数据。
3、所述控制逻辑包括访问计数器，所述访问计数器被配置为对所述多个行中的每一行的行地址的访问...
【技术保护点】
1.一种存储器件，所述存储器件包括：
2.根据权利要求1所述的存储器件，其中，所述控制逻辑包括：
3.根据权利要求1所述的存储器件，其中：
4.根据权利要求1所述的存储器件，其中，所述ECC引擎包括：
5.根据权利要求4所述的存储器件，其中，当所述多个行当中的第一行的第一错误发生数目大于所述多个行当中的第二行的第二错误发生数目时，所述第一行的健康水平高于所述第二行的健康水平。
6.根据权利要求1所述的存储器件，其中：
7.根据权利要求6所述的存储器件，其中，所述控制逻辑将所述多个行当中受害程度大于...
【技术特征摘要】
1.一种存储器件，所述存储器件包括：
2.根据权利要求1所述的存储器件，其中，所述控制逻辑包括：
3.根据权利要求1所述的存储器件，其中：
4.根据权利要求1所述的存储器件，其中，所述ecc引擎包括：
5.根据权利要求4所述的存储器件，其中，当所述多个行当中的第一行的第一错误发生数目大于所述多个行当中的第二行的第二错误发生数目时，所述第一行的健康水平高于所述第二行的健康水平。
6.根据权利要求1所述的存储器件，其中：
7.根据权利要求6所述的存储器件，其中，所述控制逻辑将所述多个行当中受害程度大于预定基准的行的行地址确定为受害行地址。
8.根据权利要求6所述的存储器件，其中，所述控制逻辑将具有最大受害程度的行的行地址确定为受害行地址。
9.根据权利要求1所述的存储器件，其中：
10.一种存储系统，所述存储系统包括：
11.根据权利要求10所述的存储系统，其中：
12.根据权利要求10所述的存储系统，其中：
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