基于量子弱测量的复磁光角测量系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种基于量子弱测量的复磁光角测量系统及方法，该测量系统包括用于提供光束的发光装置、用于制备平面偏振光的偏振态制备器、用于提供磁场的电磁场发生装置、用于使光束两个相互垂直的偏振分量产生π/2相位差的相位调节装置，用于调节光束两个相互垂直的偏振分量相位差的时间延迟装置、用于将光束投影到确定的偏振态的偏振态检测器以及用于探测和处理光谱分布的光电探测器。利用前述测量系统，可对磁光旋转角和磁光椭偏率进行参数分离，进而实现磁光旋转角和磁光椭偏率的高精度测量。度测量。度测量。

【技术实现步骤摘要】
基于量子弱测量的复磁光角测量系统及方法


[0001]本专利技术属于光学仪器
，涉及复磁光角测量仪器，具体涉及一种基于量子弱测量的复磁光角测量系统及方法。

技术介绍

[0002]随着磁光器件如磁光存储器件、磁光传感器件、自旋电子器件等在信息、医疗、国防等
的广泛应用，对高性能磁性材料，以及高精度、高灵敏磁光测量技术的需求日益迫切。基于磁光克尔效应的磁光表征技术通过测量光与磁光材料相互作用产生的新的光学现象实现对磁光材料器件的无损检测，而且磁光表征技术具有高测试精度、高灵敏度、高时间分辨率和高空间分辨率以及高强的磁场兼容性等优点，已成为磁性材料性能研究和应用研究常用的先进测量技术。
[0003]将线偏振光(由左旋圆偏振光和右旋圆偏振光所组成)入射于磁性材料反射后，由于左旋圆偏振光与右旋圆偏振光在样品中传播速率不同而产生相位差，再加上左旋圆偏振光与右旋圆偏振光的吸收程度不同而造成振幅不相同，经过样品反射后，转为椭圆偏振光的现象，称为磁光克尔效应。椭圆偏振光相对于入射的线偏振光(以椭圆的长轴为标志)的偏振面方向有一定的偏转，偏转的角本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于量子弱测量的复磁光角测量系统，其特征在于：包括用于提供光束的发光装置、用于制备平面偏振光的偏振态制备器(3)、用于提供磁场的电磁场发生装置(8)、用于使光束两个相互垂直的偏振分量产生π/2相位差的相位调节装置(4)、用于调节光束两个相互垂直的偏振分量相位差的时间延迟装置(5)、用于将光束投影到确定的偏振态的偏振态检测器(6)以及用于探测光谱分布的光电探测器(7)；当测量磁光椭偏率时，待测样品(9)放置于电磁场发生装置(8)产生的磁场内，由发光装置发出的光束经偏振态制备器(3)变成平面偏振光并入射到待测样品(9)表面，在待测样品(9)表面发生反射或透射产生磁光效应，反射光或透射光依次经时间延迟装置(5)、偏振态检测器(6)后由光电探测器(7)接收；所述偏振态制备器(3)输出光的偏振态与偏振态检测器(6)输出光的偏振态正交；当测量磁光旋转角时，待测样品(9)放置于电磁场发生装置(8)产生的磁场内，由发光装置发出的光束经偏振态制备器(3)变成平面偏振光并入射到待测样品(9)表面，在待测样品(9)表面发生反射或透射产生磁光效应，反射光或透射光依次经相位调节装置(4)、时间延迟装置(5)、偏振态检测器(6)后由光电探测器(7)接收；所述偏振态制备器(3)输出光的偏振态与偏振态检测器(6)输出光的偏振态正交。2.根据权利要求1所述的基于量子弱测量的复磁光角测量系统，其特征在于：所述发光装置包括依次布设的用于提供偏振光源的光源发生器(1)、用于对由光源发生器(1)发出的光功率进行衰减的光强衰减器(2)。3.根据权利要求1所述的基于量子弱测量的复磁光角测量系统，其特征在于：所述光源发生器(1)为激光二极管、脉冲激光器、发光二极管、白光发生器或量子光源发生器(1)。4.根据权利要求1所述的基于量子弱测量的复磁光角测量系统，其特征在于：所述相位调节装置(4)为四分之一波片。5.根据权利要求1所述的基于量子弱测量的复磁光角测量系统，其特征在于：所述时间延迟装置(5)为相位补偿器或波片的组合。6.根据权利要求1
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5任一所述的基于量子弱测量的复磁光角测量系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：张志友，何宇，
申请(专利权)人：四川大学，
类型：发明
国别省市：