一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置及分检方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种用于检测微型LED芯片(1)质量的分检装置及分检方法，微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及多个LED晶片(11)；多个LED晶片(11)具有共同的第一负电极(12)，且分别具有独立的第一正电极(13)；分检装置包括电性能检测单元(2)，电性能检测单元(2)包括检测单元主体(21)以及一个第二正电极(22)和一个第二负电极(23)。通过将多个LED晶片(11)以共阴极和共阳极的方式电连接到电性能检测单元(2)上，当电性能检测单元(2)与外界电源连接时，多个LED晶片(11)相当于并联形式连接到电源上，从而同时检测出多个LED晶片(11)的发光情况，完成分区域检测，较以往单颗点亮提高了效率，微型LED得以实现快速质量检测。微型LED得以实现快速质量检测。微型LED得以实现快速质量检测。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置及分检方法


[0001]本专利技术专利属于微型LED显示屏
，具体涉及一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置及分检方法。

技术介绍

[0002]Micro LED(微型LED)显示器具有分辨率高、亮度高、功耗低、色彩饱和度高、寿命长等优点。可以适应各种尺寸无缝拼接等优势。就目前而言，具有下代显示技术的潜力。
[0003]Micro LED芯片键合前，在生产过程中难免会有损坏、缺失、等情况，如果不提前分检出合格品，不良品，与不合格品，首选不良品下流产线会造成显示器不良、次品增多，其次不合格品下流产线会产生更多报废品造成浪费,也就是说如果不对Micro LED芯片质量进行检测，那与不合格Micro LED芯片组合后的控制面板也会浪费。所以在Micro LED芯片进行下一步工艺钱如何分检出合格品与不良品及报废品，并通过分检，修复坏点是一个急需解决的问题。
[0004]目前LED检测一般都采用探针式检测，探针式检测准确率高，但是无法适用更高分辨率的Micro LED,由于MicroLED分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置，其特征在于，微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及固定于所述芯片基板(15)上的多个LED晶片(11)；多个LED晶片(11)具有共同的第一负电极(12)，且多个LED晶片(11)分别具有独立的第一正电极(13)；所述分检装置包括电性能检测单元(2)，所述电性能检测单元(2)包括检测单元主体(21)以及位于所述检测单元主体(21)上的一个第二正电极(22)和一个第二负电极(23)；所述微型LED芯片(1)位于所述分检装置上方；且多个所述LED晶片(11)的所述第一正电极(13)与所述第二正电极(22)电连接，所述第一负电极(12)与所述第二负电极(23)电连接；所述电性能检测单元(2)与外界电源电连接。2.根据权利要求1所述的分检装置，其特征在于，所述第二正电极(22)和所述第二负电极(23)为检测面板，以使多个所述LED晶片(11)以共阴极和共阳极的方式电连接到所述电性能检测单元(2)上。3.根据权利要求1所述的分检装置，其特征在于，所述分检装置还包括图像采集单元(3)，其可以在电源连接后，采集多个所述LED晶片(11)的发光情况。4.根据权利要求3所述的分检装置，其特征在于，所述图像采集单元(3)包括多个CCD相机。5.根据权利要求1所述的分检装置，其特征在于，所述分检装置还包括负压吸附单元(4)，用于吸取所述微型LED芯片(1)，并将其放置在所述电性能检测单元(2)上。6.根据权利要求5所述的分检装置，其特征在于，所述负压吸附单元(4)包括负压吸附单元主体(41)、抽气口(42)和负压吸附孔(43)，所述抽气口(42)处连接有抽气装置，抽出所述负压吸附单元主体(41)内的空气，使所述负压吸附孔(43)处为负压环境，进而产生吸力，吸取所述微型LED芯片(1)。7.根据权利要求6所述的分检装置，其特征在于，所述负压吸附单元主体(41)是透明的，选自石英、玻璃等透明材质；所述芯片基板15的所述负压吸附孔(43)分布...

【专利技术属性】
技术研发人员：林俊荣，王宏，吕河江，
申请(专利权)人：乙力国际股份有限公司，
类型：发明
国别省市：