一种微型LED芯片与控制基板激光共晶焊接装置制造方法及图纸

技术编号:32112500 阅读:41 留言:0更新日期:2022-01-29 18:56
本实用新型专利技术公开一种微型LED芯片与控制基板激光共晶焊接装置,利用激光同时将微型LED芯片(1)中多个LED晶片与控制基板(2)焊接到一起;激光共晶焊接装置包括:负压吸附单元(4),其用于吸取微型LED芯片(1),并将其放置在控制基板(2)上;激光发射系统(6),其位于微型LED芯片(1)上方,其通过发射激光对多个第一正电极(13)和多个第二正电极(22)、以及一个第一负电极(12)和一个第二负电极(23)的焊接点加热,完成同时共晶焊接。本实用新型专利技术采用激光加热温度可以精确控制加热区域温度,实现Micro LED模块化转移共晶焊接,避免了单颗MicroLED单颗转移共晶焊接点二次融化。同时以MicroLED模块化以阵列的形式转移共晶焊接速度快,有效提高了共晶速度。共晶速度。共晶速度。

【技术实现步骤摘要】
一种微型LED芯片与控制基板激光共晶焊接装置


[0001]本技术专利属于微型LED
,具体涉及一种微型LED芯片与控制基板激光共晶焊接装置。

技术介绍

[0002]Micro LED(微型LED)技术,是LED微缩矩阵化技术,指的是在一个芯片上集成的高密度微微米级的LED阵列,其广泛应用于显示屏、可见光通信、智能便携设备等领域。性能稳定,寿命长等优势,同时也延续了LED功耗低,反应速度快,对比度强等优点。同时也承继了LED低功耗、色彩饱和度、反应速度快、对比度强等优点,Micro LED的亮度相较OLED高30倍,能量消耗约为LCD的10%、OLED的50%。
[0003]Micro LED未来将具有极大地应用前景,但是目前Micro LED制造成本问题,严重影响了其商用化的进程,原因主要就是巨量转移技术瓶颈仍然有待突破,传统的巨量转移是单颗转移单颗共晶焊接,单颗转移严重限制了Micro LED量产化进程,由于MicroLED分辨率更高,很小的一块Micro LED显示屏中就含有大量的LED晶片,比如一块0.39寸左右的Micro LED显示屏,其中含有的LED晶片大概有240万颗,如果选用单颗转移的方法,特别耗时和耗费劳动力,难以实施,而单颗共晶焊接又会大大降低产品合格率,原因在于,单颗共晶焊接是将一颗LED晶片转移过来后,通过加热控制基板,将其与控制基板焊接在一起,而下一颗LED晶片转移过来后,又会整体加热控制基板,将第二颗LED晶片与控制基板焊接在一起,而整体加热控制基板时又会导致第一颗LED晶片的焊接点熔化。发生二次多次熔化的问题,对LED晶片造成损坏,严重影响产品合格率。
[0004]为了解决这一问题,提出本技术。

技术实现思路

[0005]本技术为了解决上述现有技术中存在的问题,本技术提供了一种Micro

LED芯片的共晶方法,能够实现较大容量的芯片与控制基板共晶。主要在于以下几方面:1.本技术提出了采用高清摄像机采集Micro LED芯片与控制基板位置信息,配合高精度对位平台进行两者的高精度对位。2.本技术提出了采用无色透明的石英材料制成石英负压吸附装置作为Micro LED芯片取片固定装置3.本技术提出了采用激光加热完成Micro LED与控制基板的共晶焊接贴装制程。4.本技术共晶过程无需去掉Micro LED的蓝宝石衬板,直接被石英负压吸附装置吸附让设备完成共晶焊接工作。5.本技术采用模块转移激光加热共晶焊接的方法。激光平面光束透过石英负压吸附装置对已经对位固定好的Micro LED和控制基板加热焊接
[0006]本技术提供一种微型LED芯片与控制基板激光共晶焊接装置,目的在于利用激光同时将微型LED芯片1中多个LED晶片与控制基板2焊接到一起;
[0007]所述微型LED芯片1包括芯片基板15以及固定于所述芯片基板15上的多个LED晶片11;多个LED晶片11具有共同的第一负电极12,且多个LED晶片11分别具有独立的第一正电
极13;
[0008]所述控制基板2位于所述微型LED芯片1的下方,其包括控制基板主体21以及位于所述控制基板主体21上的多个第二正电极22和一个第二负电极23;
[0009]所述激光共晶焊接装置包括:
[0010]负压吸附单元4,其用于吸取所述微型LED芯片1,并将其放置在所述控制基板2上;
[0011]激光发射系统6,其位于所述微型LED芯片1上方,其通过发射激光对多个所述第一正电极13和多个所述第二正电极22、以及一个所述第一负电极12和一个所述第二负电极23的焊接点加热,完成同时共晶焊接。
[0012]LED晶片也就是通称的LED灯珠,本质上就是LED发光二极管。
[0013]优选地,所述第二正电极22的数量等于所述第一正电极13的数量;且所述第一正电极13与所述第二正电极22的位置对应,精度偏差小于0.7μm。
[0014]优选地,所述第一负电极12和所述第二负电极23均为一个,且成面状,多个所述LED晶片11以共阴极的方式电连接到所述控制基板2上。
[0015]优选地,所述激光共晶焊接装置还包括图像采集单元3,其用于采集所述微型LED芯片1和所述控制基板2的图像,所述图像采集单元3与外界电脑主机连接,可以将采集到的图像发送到外界电脑主机;所述图像采集单元3包括多个CCD相机。CCD相机采用可高分辨率摄像机,使定位更精确,图像采集更清晰。
[0016]优选地,所述负压吸附单元4包括负压吸附单元主体41、抽气口42和负压吸附孔43,所述抽气口42处连接有抽气装置,抽出所述负压吸附单元主体41内的空气,使所述负压吸附孔43处为负压环境,进而产生吸力,吸取所述微型LED芯片1。负压吸附单元主体41中间为空腔,在空腔两侧面分别有抽气口42,使空腔内形成负压以吸附被测元器件。负压吸附单元吸附元器件的一面开负压吸附孔43。
[0017]其中,所述负压吸附单元主体41上具有抗红外反射或者抗激光反射的膜,防止红外或者激光被所述负压吸附单元主体41反射出去。从而使得,激光发射系统6,发出的激光,穿过负压吸附单元主体41,对多个所述第一正电极13和多个所述第二正电极22、以及一个所述第一负电极12和一个所述第二负电极23的焊接点加热,完成同时共晶焊接。这层膜是镀在石英(负压吸附单元主体41)上的,材料可以选自:一氧化硅、氟化镁、硫化锌等。
[0018]优选地,所述负压吸附单元主体41是透明的,选自石英、玻璃等透明材质;所述负压吸附孔43分布在所述芯片基板15的显示区域外的四周,且避开对位靶标点位置,所述负压吸附孔43所占面积小于所述芯片基板15的面积。高透光的石英材料可以使CCD高分辨相机更好的收集Micro LED原件上的定位靶标及Micro LED性能图像。负压吸附孔43分布在芯片基板15显示区域外的四周,如此可以避免因开孔(负压吸附孔43)对CCD高分辨相机对微型LED芯片取样获取图像的影响。
[0019]对位靶标点即第一对位靶标14和第二对位靶标24。
[0020]优选地,所述芯片基板15上还具有第一对位靶标14,所述控制基板主体21上具有第二对位靶标24;所述第一对位靶标14和所述第二对位靶标24匹配,使得所述微型LED芯片1和所述控制基板2对应,进而使得所述第一正电极13与所述第二正电极22电连接,所述第一负电极12与所述第二负电极23电连接。
[0021]优选地,所述第一对位靶标14为一个小正方形,所述第二对位靶标24为四个分离
的小正方形,其中四个分离的小正方形又两两并列形成中间具有空“十”字形的大正方形,四个分离的小正方形分别位于大正方形的四个角,所述第一对位靶标14的小正方形刚好可以装进空“十”字形的十字交叉点,且与外围的每一个所述第二对位靶标24的小正方形之间的间隙相等。
[0022]优选地,所述激光共晶焊接装置还包括精准对位平台5,所述精准对本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微型LED芯片与控制基板激光共晶焊接装置,其特征在于,利用激光同时将微型LED芯片(1)中多个LED晶片与控制基板(2)焊接到一起;所述微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及固定于所述芯片基板(15)上的多个LED晶片(11);多个LED晶片(11)具有共同的第一负电极(12),且多个LED晶片(11)分别具有独立的第一正电极(13);所述控制基板(2)位于所述微型LED芯片(1)的下方,其包括控制基板主体(21)以及位于所述控制基板主体(21)上的多个第二正电极(22)和一个第二负电极(23);所述激光共晶焊接装置包括:负压吸附单元(4),其用于吸取所述微型LED芯片(1),并将其放置在所述控制基板(2)上;激光发射系统(6),其位于所述微型LED芯片(1)上方,其通过发射激光对多个所述第一正电极(13)和多个所述第二正电极(22)、以及一个所述第一负电极(12)和一个所述第二负电极(23)的焊接点加热,完成同时共晶焊接。2.根据权利要求1所述的微型LED芯片与控制基板激光共晶焊接装置,其特征在于,所述第二正电极(22)的数量等于所述第一正电极(13)的数量;且所述第一正电极(13)与所述第二正电极(22)的位置对应,精度偏差小于0.7μm;所述第一负电极(12)和所述第二负电极(23)均为一个,且成面状,多个所述LED晶片(11)以共阴极的方式电连接到所述控制基板(2)上。3.根据权利要求1所述的激光共晶焊接装置,其特征在于,所述激光共晶焊接装置还包括图像采集单元(3),其用于采集所述微型LED芯片(1)和所述控制基板(2)的图像,所述图像采集单元(3)与外界电脑主机连接,可以将采集到的图像发送到外界电脑主机;所述图像采集单元(3)包括多个CCD相机。4.根据权利要求1所述的激光共晶焊接装置,其特征在于,所述负压吸附单元(4)包括负压吸附单元主体(41)、抽气口(42)和负压吸附孔(43),所述抽气口(42)处连接有抽气装置,抽出所述负压吸附单元主体(41)内的空气,...

【专利技术属性】
技术研发人员:林俊荣王宏吕河江
申请(专利权)人:乙力国际股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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