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本发明公开一种用于检测微型LED芯片(1)质量的分检装置及分检方法，微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及多个LED晶片(11)；多个LED晶片(11)具有共同的第一负电极(12)，且分别具有独立的第一正电极(13)；分检装置包括电性...
该专利属于乙力国际股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过乙力国际股份有限公司授权不得商用。

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