【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种，特别涉及一种基于聚焦闭环循迹开环道跟踪误差信号来测量光盘偏心的方法。
技术介绍
偏心ECC(Eccentricity)是用来衡量光盘质量的非常重要的指标，它是指光盘信道几何中心与盘中心孔几何中心之间的偏差。在驱动器中光学头读取信息时，轨道跟踪伺服机构使光学头在半径方向快速移动，跟随轨道读出信息。由于径向跟踪伺服机构的跟踪能力和频率响应有一定的范围，而光学头的惰性又会限制伺服机构的反应速度，因此偏心值太高会影响光学头的轨道跟踪。红皮书规定CD唱盘的偏心指标范围是±70μm，黄皮书规定CD-ROM盘片的偏心指标范围是±50μm。这是因为CD-ROM的随机访问情况比CD多。偏心值高使得轨道搜索困难，导致了随机访问时间的增加。在实际中，往往由于信息轨道的损坏使驱动器难以锁定轨道，这种情况的出现也与偏心值太高有关。事实上以上指标是在一倍速的情况下制定的，而目前的光盘读写速度往往是几十倍速(如8×、12×、16×、24×、32×等)。在驱动器跟踪能力不变的情况下，这意味着速度每增加一倍，偏心指标要求缩小一半。因此，盘片复制厂必须重视盘片的偏心指标，努力使...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光盘偏心测量方法，其特征在于所述测量方法包括a.将光盘伺服系统设置为聚焦闭环循迹开环状态；b.获得所述光盘伺服系统在读取预检测光盘时产生的道跟踪误差信号，并确定所述道跟踪误差信号中高频段的正弦波数量；c.将所述正弦波数量乘以轨道间距，以确定所述预检测光盘的偏心值。2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于在所述步骤b中，包括将所述光盘伺服系统的主轴电机转速设为一倍速，利用足够高的采样频率f采集所述道跟踪误差信号以获得采样数据。3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于在所述步骤b中进一步包括在采样处理前对所述道跟踪误差信号进行低通滤波。4.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于所述道跟踪误差信号为所述预检测光盘旋转多周的道跟踪误差信号。5.根据权利要求4所述的测量方法，其特征在于在所述步骤b中，进一步包括对所述采样数据取平均，以获得零电平；确定所有过零采样点及对应两相邻过零采样点的过零间隔；在每预定数量k的采样点中确定最大的过零间隔，并将...
【专利技术属性】
技术研发人员：高金路，马建设，李挥，齐国生，张磊，秦利琴，袁海波，陈慕羿，
申请(专利权)人：北京大学深圳研究生院，清华大学深圳研究生院，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。