一种场效应管测试用适配器制造技术

本实用新型专利技术公开一种场效应管测试用适配器，包括测试母板和测试子板；测试母板设有底板，底板上至少安装有三个继电器，底板上还设有插装场效应管的接针孔、与外置测试设备连接的接线孔和给继电器供电的电源接口，接针孔通过继电器与接线孔电连接；测试子板设有测试座，测试座上固定安装有与测试母板上接针孔配合的探针，测试座上还安装有与探针连接用于改变器件管脚连接点的转接组件。本实用新型专利技术所述适配器是基于SiZ918DT器件测试程序的开发，利用分立器件测试系统设计的，能够一次性快速实现器件的全部参数的测试需求，提高了测试精度，大大提高了产品批生产过程中的测试效率，测试精度高、对被测器件无损伤等优点。对被测器件无损伤等优点。对被测器件无损伤等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种场效应管测试用适配器


[0001]本技术涉及电性能测试
，尤其涉及一种场效应管测试用适配器。

技术介绍

[0002]由于场效应管放大器的输入阻抗很高，因此，耦合电容可以容量较小，不必使用电解电容器，而且，具有很高的输入阻抗非常适合作阻抗变换，常用于多级放大器的输入级作阻抗变换。场效应管实用范围广阔，可以用作可变电阻，也可以方便地用作恒流源，还可以用作电子开关，在电路设计上的灵活性大。另外，输入阻抗高，可以减轻信号源负载，易于跟前级匹配；具有输入电阻高(107～1015Ω)、噪声小、功耗低、动态范围大、易于集成、没有二次击穿现象等优点。基于以上所述优点，目前的MOS管封装也是多样化。
[0003]传统的测试方法主要通探针接触的方式实现，用两根表笔触点测试，如图1所示，由于器件本身很小管脚密集，接触容易短路，会对器件造成不必要的伤害，不适用于元器件可靠性筛选与测试的要求，测试效率低。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种设计合理，提高器件的测试效率和测试精度的场效应管测试用适配器。
[0005]为了实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]本技术是一种场效应管测试用适配器，其特点是，包括测试母板和测试子板；测试母板设有底板，底板上至少安装有三个继电器，底板上还设有插装场效应管的接针孔、与外置测试设备连接的接线孔和给继电器供电的电源接口，接针孔通过继电器与接线孔电连接；测试子板设有测试座，测试母板装在测试座上，测试座上固定安装有与测试母板上接针孔配合的探针，测试座上还安装有与探针连接用于改变器件管脚连接点的转接组件。
[0007]优选地，所述接针孔至少设有两组，每组两排，每组的两排接针孔间采用开尔文接法相接。
[0008]优选地，所述接针孔采用16点排针孔。
[0009]优选地，所述接线孔设有CS接线端口、CF接线端口、ES接线端口、EF接线端口、BS接线端口、BF接线端口以及GND接线端口。
[0010]优选地，所述测试座选用探针式开尔文底座。
[0011]优选地，所述转接组件由电路板和转接线组成，电路板上设有与转接线一端相接的转接点，转接线另一端与探针相连。
[0012]优选地，每根转接线上均套设有防震荡用磁环。
[0013]与现有技术相比，本技术所述测试适配器是基于SiZ918DT器件测试程序的开发，利用分立器件测试系统设计的，能够一次性快速实现器件的全部参数的测试需求，提高了测试精度，大大提高了产品批生产过程中的测试效率，测试精度高、对被测器件无损伤等优点；而且，该适配器结构简单，方便灵活，可以根据不同管脚分布及不同的内部结构需要
进行改造，实用性强；该适配器根据器件的管脚分布进行改造时，只需在子板上根据器件的管脚不同来重新接线，而无需改变母板，节约了成本；该适配器设计组成合理，易于采购和组装，便于推广使用。
附图说明
[0014]此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
[0015]图1为传统测试方法的测试示意图；
[0016]图2为本技术中测试母板的结构图；
[0017]图3为本技术中测试子板的结构图；
[0018]图4为本技术实施例中SiZ918DT器件的内部结构图；
[0019]图5为本技术实施例中SiZ918DT器件的SiZ918DT外形图；
[0020]图6为本技术实施例中继电器的结构图。
[0021]附图标记：
[0022]1‑
底板，2、3、4
‑
继电器，5
‑
接针孔，6
‑
接线孔，7
‑
电源接口，8
‑
测试座，9
‑
探针，10
‑
电路板，11
‑
转接线，12
‑
转接点，13
‑
磁环。
具体实施方式
[0023]为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0024]参照图1
‑
3，本技术提供了一种场效应管测试用适配器，包括测试母板和测试子板；测试母板设有底板1，底板1上至少安装有三个继电器2、3、4，底板1上还设有插装场效应管的接针孔5、与外置测试设备连接的接线孔6和给继电器供电的电源接口7，接针孔5通过继电器2、3、4与接线孔5电连接，所述接针孔5至少设有两组，每组两排，每组的两排接针孔间采用开尔文接法相接，所述接针孔采用16点排针孔，所述接线孔6设有CS接线端口、CF接线端口、ES接线端口、EF接线端口、BS接线端口、BF接线端口以及GND接线端口；
[0025]测试子板设有测试座8，测试母板装在测试座8上，所述测试座8选用探针式开尔文底座，测试座8上固定安装有与测试母板上接针孔5配合的探针9，测试座8上还安装有与探针9连接用于改变器件管脚连接点的转接组件，所述转接组件由电路板10和转接线11组成，电路板10上设有与转接线11一端相接的转接点12，转接线另一端与探针相连，每根转接线11上均套设有防震荡用磁环13，避免在测试时由于器件本身原因震荡，从而影响测试结果的准确性。
[0026]实施例，参照图3
‑
6，以VISHAY生产厂家，封装为6
×
5贴片式双MOS，型号为SiZ918DT为例，测试步骤如下：
[0027]第一继电器2控制G(栅极)，第二继电器3控制D(漏极)，第三继电器4控制S(源极)。
[0028]当继电器的第1点、第16点不加电时第11点、第13点导通，第4点、第6点导通，测试第一组MOS管。当给定5V电压时第9点与第13点吸合导通，第8点与第4点吸合导通，从而实现
测试第二组MOS管。
[0029]第一继电器的第13点接入BS端，第4点接入BF端，第6点接入第一组16点排针孔的第一排孔，第11点接到第2排孔，第8点接入第3排孔，第9点接入第4排孔。第二继电器第13点接入CF端，第4点接入CS端，第6点接入第一组16点排针孔的第10排孔，第11点接入第9排孔，第8点接入第11排孔，第9点接入第12排孔。第三继电器第13点接入ES端，第4点接入EF端，第6点接入第二组16点排针孔的第10排孔，第11点接入第9排孔，第8点接入第12排孔，第9点接入第11排孔，最后，按照器件资料管脚定义，将MOS管的不同管脚分别接到指定的16点排针上，再从接线孔处进行测试。
[0030]综上所述，本技术在测试前，先根据器件的管脚分布进行改造，在子板上根据器件的管脚不同本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种场效应管测试用适配器，其特征在于：包括测试母板和测试子板；测试母板设有底板，底板上至少安装有三个继电器，底板上还设有插装场效应管的接针孔、与外置测试设备连接的接线孔和给继电器供电的电源接口，接针孔通过继电器与接线孔电连接；测试子板设有测试座，测试母板装在测试座上，测试座上固定安装有与测试母板上接针孔配合的探针，测试座上还安装有与探针连接用于改变器件管脚连接点的转接组件。2.根据权利要求1所述的场效应管测试用适配器，其特征在于：所述接针孔至少设有两组，每组两排，每组的两排接针孔间采用开尔文接法相接。3.根据权利要求2所述的场效应管测试用适配器，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯振平，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：新型
国别省市：