一种8SITE并联测试编带结构制造技术

本实用新型专利技术属于编带测试技术领域，且公开了一种8SITE并联测试编带结构，包括底座、电机，所述底座的顶部固定安装有一号卷轮与二号卷轮，所述底座的顶部固定安装有位于一号卷轮与二号卷轮之间的固定架，所述一号卷轮上活动卡接有编带卷，所述编带卷的顶部固定安装有芯片，所述编带卷的一端穿过固定架与二号卷轮固定连接。本实用新型专利技术通过使测试槽将芯片包裹，在通过底端固定安装的金属片与芯片的两个底脚触碰，通过指示灯来观察芯片是否损坏，测试完这一批后弹簧将测试板向上拉回，再通过电机继续卷动编带卷，本实用新型专利技术可以一次并联测试8颗芯片，效率是传统4SITE测试方法的两倍，且更节能，也能节省车间的空间。也能节省车间的空间。也能节省车间的空间。

【技术实现步骤摘要】
一种8SITE并联测试编带结构


[0001]本技术属于编带测试
，具体是一种8SITE并联测试编带结构。

技术介绍

[0002]芯片编带是将散料芯片通过检测、换向、测试等工位后，放入载带中，在利用编带机将其散料芯片连接成一条编带；而并联测试编带结构则是检测编带中的芯片完好的一种方式。
[0003]现有技术中，并联测试编带结构利用的是4SITE测试方法，一次只能测试四个芯片，并且机器老旧占地大，测试效率低，耗费能源。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是针对以上问题，本技术提供了一种8SITE并联测试编带结构，具有一次测试8颗芯片的优点。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种8SITE并联测试编带结构，包括底座、电机，所述底座的顶部固定安装有一号卷轮与二号卷轮，所述底座的顶部固定安装有位于一号卷轮与二号卷轮之间的固定架，所述一号卷轮上活动卡接有编带卷，所述编带卷的顶部固定安装有芯片，所述编带卷的一端穿过固定架与二号卷轮固定连接，所述二号卷轮的后侧固定安装有二号传动轮，所述电机的输出端固定安装有一号传动轮，所述一号传动轮通过皮带与二号传动轮传动连接，所述固定架内活动卡接有测试板，所述测试板上开设有芯片槽，所述测试板的底部固定安装有金属片，所述固定架的正面开设有两个滑动槽，两个所述滑动槽内设有握把，所述握把的两端与测试板的正面固定连接，所述固定架的顶部固定安装有两个顶板，所述固定架与两个顶板之间设有弹簧，且弹簧的两端分别与固定架与两个顶板固定连接。
[0006]作为本技术的一种优选技术方案，所述固定架的前后内壁均开设有限位槽，且限位槽从顶板的下方开始开设，开设至固定架的底面处，所述测试板的前后壁均设有凸块，通过设置限位槽来规范测试板在上下运动的过程中不会发生歪斜，并且通过限位槽的深度可以规范测试板不会过低或过高。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，所述限位槽与凸块活动卡接，通过在前后壁均设置凸块，可以使测试板在上升与下降的过程中始终与底面保持水平。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述金属片贯穿芯片槽底脚，且金属片位于芯片槽底脚的中段，通过贯穿芯片槽底脚的金属片可以轻松的一次检验出个芯片的问题，并且位于芯片槽底脚中段，则可以更加准确的与芯片的底脚相互触碰。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述芯片槽的顶部均固定安装有指示灯，且指示灯都位于芯片槽的中轴线上，安装指示灯则可以很轻松的观察出位于什么位置的芯片出现了故障，大大提高了检查速度，并且位于中轴线上可以再美观的同时更清晰的对准出现故障的芯片。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，所述芯片槽的数量为个，且个芯片槽的大小与编带卷上的芯片相适配，芯片槽的数量变为8个，则比现技术中的4个多了一倍，可以大大提高测验效率，并且增加了一倍的芯片槽，变相的就表示现有的仪器可以减少一半，为工厂腾出了大量的空间，并且帮助工厂节省能源。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0012]本技术通过在测试板的表面开设出8个芯片槽，在芯片槽的底端固定安装有一条横穿测试板的金属片，再在四个凸块的顶部均固定安装有弹簧，再将四个弹簧的另一端固定安装在两个顶板上，通过握把来上下移动测试板，通过电机带动编带卷转动，将芯片带至芯片槽的下方，利用握把下拉测试板，使测试槽将芯片包裹，在通过底端固定安装的金属片与芯片的两个底脚触碰，通过指示灯来观察芯片是否损坏，测试完这一批后弹簧将测试板向上拉回，再通过电机继续卷动编带卷，本技术可以一次并联测试8颗芯片，效率是传统4SITE测试方法的两倍，且更节能，也能节省车间的空间。
附图说明
[0013]图1为本技术结构示意图；
[0014]图2为本技术结构顶视图；
[0015]图3为本技术结构剖视图；
[0016]图4为本技术固定架与测试板剖视侧视图；
[0017]图5为本技术测试板底面示意图。
[0018]图中：1、底座；2、一号卷轮；3、二号卷轮；4、电机；5、一号传动轮； 6、二号传动轮；7、皮带；8、编带卷；9、芯片；10、固定架；11、弹簧； 12、顶板；13、芯片槽；14、测试板；15、指示灯；16、握把；17、限位槽； 18、金属片；19、凸块；20、滑动槽。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]如图1至图5所示，本技术提供一种8SITE并联测试编带结构，包括底座1、电机4，底座1的顶部固定安装有一号卷轮2与二号卷轮3，底座 1的顶部固定安装有位于一号卷轮2与二号卷轮3之间的固定架10，一号卷轮2上活动卡接有编带卷8，编带卷8的顶部固定安装有芯片9，编带卷8的一端穿过固定架10与二号卷轮3固定连接，二号卷轮3的后侧固定安装有二号传动轮6，电机4的输出端固定安装有一号传动轮5，一号传动轮5通过皮带7与二号传动轮6传动连接，固定架10内活动卡接有测试板14，测试板 14上开设有芯片槽13，测试板14的底部固定安装有金属片18，固定架10的正面开设有两个滑动槽20，两个滑动槽20内设有握把16，握把16的两端与测试板14的正面固定连接，固定架10的顶部固定安装有两个顶板12，固定架10与两个顶板12之间设有弹簧11，且弹簧11的两端分别与固定架10与两个顶板12固定连接。
[0021]其中，固定架10的前后内壁均开设有限位槽17，且限位槽17从顶板12 的下方开始
开设，开设至固定架10的底面处，测试板14的前后壁均设有凸块19，通过设置限位槽17来规范测试板14在上下运动的过程中不会发生歪斜，并且通过限位槽17的深度可以规范测试板14不会过低或过高。
[0022]其中，限位槽17与凸块19活动卡接，通过在前后壁均设置凸块19，可以使测试板14在上升与下降的过程中始终与底面保持水平。
[0023]其中，金属片18贯穿芯片槽13底脚，且金属片18位于芯片槽13底脚的中段，通过贯穿芯片槽13底脚的金属片18可以轻松的一次检验出8个芯片9的问题，并且位于芯片槽13底脚中段，则可以更加准确的与芯片9的底脚相互触碰。
[0024]其中，芯片槽13的顶部均固定安装有指示灯15，且指示灯15都位于芯片槽13的中轴线上，安装指示灯15则可以很轻松的观察出位于什么位置的芯片9出现了故障，大大提高了检查速度，并且位于中轴线上可以再美观的同时更清晰的对准出现故障的芯片9。
[0025]其中，芯片槽13的数量为8个，且8个芯片槽13的大小与编带卷8上的芯片9相适配，芯片槽13的数量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种8SITE并联测试编带结构，包括底座(1)、电机(4)，其特征在于：所述底座(1)的顶部固定安装有一号卷轮(2)与二号卷轮(3)，所述底座(1)的顶部固定安装有位于一号卷轮(2)与二号卷轮(3)之间的固定架(10)，所述一号卷轮(2)上活动卡接有编带卷(8)，所述编带卷(8)的顶部固定安装有芯片(9)，所述编带卷(8)的一端穿过固定架(10)与二号卷轮(3)固定连接，所述二号卷轮(3)的后侧固定安装有二号传动轮(6)，所述电机(4)的输出端固定安装有一号传动轮(5)，所述一号传动轮(5)通过皮带(7)与二号传动轮(6)传动连接，所述固定架(10)内活动卡接有测试板(14)，所述测试板(14)上开设有芯片槽(13)，所述测试板(14)的底部固定安装有金属片(18)，所述固定架(10)的正面开设有两个滑动槽(20)，两个所述滑动槽(20)内设有握把(16)，所述握把(16)的两端与测试板(14)的正面固定连接，所述固定架(10)的顶部固定安装有两个顶板(12)，所述固定架(10)与两个顶板(12)之间设有弹簧(...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘聪，
申请(专利权)人：深圳市鑫洲芯微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：