【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及物镜和光拾取装置。技术背景近年来,在光拾取装置中作为用于在光盘上记录的信息再现和向光盘 记录信息的光源所使用的激光光源的短波长化正在进展,例如蓝紫色半导 体激光和利用产生第二高波进行红外半导体激光波长变换的蓝紫色SHG激 光等波长405nm的激光光源正在实用化。若使用这些蓝紫色激光光源,则在使用数字多用盘(以下略记为DVD) 和相同数值孔径(NA)的物镜时,对直径12cm的光盘能记录15 20GB的 信息,把物镜的NA提高到0.85时,则对直径12cm的光盘能记录23~27GB 的信息。以下在本说明书中,把使用蓝紫色激光光源的光盘以及光磁盘总 称为高密度光盘。但作为高密度光盘,现在有两种规格被提案。 一种是使用NA0.85的物 镜,保护层厚度是O.lmm的兰光盘(以下略记为BD),还有一种是使用 NA0.65到0.67的物镜,保护层厚度是0.6mm的HDDVD(以下略记为HD )。 鉴于将来市场上有可能流通这两种规格的高密度光盘,所以即使对任何高 密度光盘,其也能对已有的DVD和CD进行记录 再现的互换用光拾取装 置是重要的,其中使用物镜进行互换的单透镜方式是最理想的形式。这样,用一个物镜进行多个光盘之间互换的光拾取装置,若物镜对各 波长的光学系统倍率一致,则物镜以外的光学元件就能共同化。而且,设 定成是把平行光向物镜射入的结构,若物镜的光学系统倍率为0,则装置的 处理容易。因此,希望是物镜对各波长的光学系统倍率相同且是O的物镜。另一方面,为了在使用来自蓝紫色激光光源的光进行记录.再现的BD、HD和CD之间进行互换,就必须校正主要由基板 ...
【技术保护点】
一种物镜,其用于光拾取装置,该光拾取装置至少进行如下动作,即,利用从第一光源射出的波长λ1的光束对保护基板厚t1的第一光盘进行信息的再现及/或记录;利用从第二光源射出的波长λ2的光束对保护基板厚t2的第二光盘进行信息的再现及/或记录;利用从第三光源射出的波长λ3的光束对保护基板厚t3的第三光盘进行信息的再现及/或记录,其中1.5×λ1≤λ2≤1.7×λ1、0.9×t1≤t2、1.8×λ1≤λ3≤2.2×λ1、t2<t3,该物镜的特征在于:在对所述的各光盘进行信息的再现及/或记录时,各对应的所述波长λ1、λ2及λ3的光束入射到所述物镜而使用,所述物镜相对于所述波长λ1的光束的光学系统倍率m1满足0<m1≤1/10,所述物镜相对于所述波长λ3的光束的光学系统倍率m3满足-1/20≤m3<0。
【技术特征摘要】
JP 2004-4-12 117023/04;JP 2004-6-16 178216/04;JP 21.一种物镜,其用于光拾取装置,该光拾取装置至少进行如下动作,即,利用从第一光源射出的波长λ1的光束对保护基板厚t1的第一光盘进行信息的再现及/或记录;利用从第二光源射出的波长λ2的光束对保护基板厚t2的第二光盘进行信息的再现及/或记录;利用从第三光源射出的波长λ3的光束对保护基板厚t3的第三光盘进行信息的再现及/或记录,其中1.5×λ1≤λ2≤1.7×λ1、0.9×t1≤t2、1.8×λ1≤λ3≤2.2×λ1、t2<t3,该物镜的特征在于在对所述的各光盘进行信息的再现及/或记录时,各对应的所述波长λ1、λ2及λ3的光束入射到所述物镜而使用,所述物镜相对于所述波长λ1的光束的光学系统倍率m1满足0<m1≤1/10,所述物镜相对于所述波长λ3的光束的光学系统倍率m3满足-1/20≤m3<0。2. 如权利要求1所述的物镜,其中,所述光学系统倍率ml满足0< m1^1/15。3. 如权利要求1所述的物镜,其中,所述光学系统倍率ml满足0< m1^1/20。4. 如权利要求1所述的物镜,其中,在所述物镜的至少一个光学面上 设置相位结构。5. 如权利要求4所述的物镜,其中,所述相位结构是衍射结构。6. 如权利要求5所述的物镜,其中,所述物镜的阿贝数yd满足 40,dS90,所述衍射结构中,所述第三光盘的记录或再现中没有使用的区 域内形成的各环带间的平行于光轴方向的台阶差量d。ut满足(2k _ 1 ) x入i / ( nl - 1 ) Sdout < 2kx J / ( nl - 1 ), k为正的整数;nl为所述物镜相对所述波长人l的光束的折射率。7. 如权利要求6所述的物镜,其中,所述台阶差量d。ut满足 5x d / ( nl - 1 ) 5d0Ut < 6xXl / ( nl - 1 )。8. 如权利要求6所述的物镜,其中,在把从所述第一光源射出的光束 的波长变化了+10nm的光束射入到所述物镜时,将PO作为近轴聚光位置; 将P1作为所述波长入3的光束的记录及/或再现中利用的第一区域中的、通 过距离光轴最远区域的光束的聚光位置;将P2作为比所述第 一 区域靠外侧配置的第二区域中、通过距离光轴最近区域的光束的聚光位置;将P3作为 通过物镜中距离光轴...
【专利技术属性】
技术研发人员:池中清乃,黑釜龙司,和智美佳,
申请(专利权)人:柯尼卡美能达精密光学株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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