光拾取装置用的物镜及光拾取装置制造方法及图纸

为了提供一种能够与温度变化无关地对光信息记录介质进行信息记录／再生的光拾取装置用的物镜及光拾取装置，例如为了满足｜δＳＡ３↓［ｏｂｊ］／δＴ｜≤０．００２（λｒｍｓ／℃）而使温度特性提高的结果，即使是波长特性劣化到满足０．１＞｜δＳＡ３↓［ｏｂｊ］／δλ｜≥０．０１（λｒｍｓ／ｎｍ）程度的物镜，也可按不同规格的每种衍射构造而分组并与实际的半导体激光器的振荡波长组合使用，因此能够提供即使半导体激光器的振荡波长中存在偏差、另外即使发生环境温度变化也可适当进行信息记录及／或再生的光拾取装置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及光拾取装置用的物镜及光拾取装置，尤其是涉及具有 良好温度特性的光拾取装置用的物镜及光拾取装置。
技术介绍
近年来，使用振荡波长400nm左右的蓝紫色半导体激光器而能 进行信息记录及/或再生(以下将记录及/或再生记栽为记录/再 生，，)的高密度光盘系统的研究、开发，正在急速进行。作为一例， 以NA0.85、光源波长405nm的规格来进行信息记录/再生的光盘、即 所谓Blu-ray Disc (以下简称BD)中，对于和DVD ( NA0.6、光源波 长650nm、存储容量4.7GB )同样大小的直径12cm的光盘，每l层 可记录23~27GB的信息；另外，以NA0.65、光源波长405nm的规 格来进行信息记录/再生的光盘、即所谓HD DVD (以下简称HD )中， 对直径12cm的光盘，每1层可记录15~20GB的信息。以下，在本 说明书中，将此种光盘称作高密度光盘。另外，光拾取装置用的物镜所被要求的性能有温度特性和波 长特性。所谓温度特性，是指针对环境温度变化的球面像差的变化 量；所谓波长特性，是指针对半导体激光器的振荡波长变化的球面像 差的变化量；两者都是值越小、则作为光拾取装置用的物镜越是理想。 可是，在对高密度光盘进行信息记录/再生时，要使温度特性、和蓝紫 色半导体激光器的振荡波长变化所引起的波长特性两者皆佳，是有困 难的。面对所述问题，在专利文献l中，公开了一种光拾取装置，具有 光源；聚光光学系统，含有使从上述光源出射的光束经由光信息记录 介质的透明基板而聚光在信息记录面上的物镜；和光探测器，用来接受来自上述光信息记录介质的反射光，该光拾取装置的特征为，在上 述光源和上述物镜之间设有校正机构，该校正机构校正起因于上述光 源的振荡波长的微小变动及温湿度变化而在上述聚光光学系统中所 发生的球面像差变动。〔专利文献1 〕日本特开2002-82280号公报 〔专利文献2〕日本特开2004-177527号^>报 〔专利技术所欲解决的课题〕然而，在专利文献l中，作为校正球面像差变动的校正机构而示 出了可改变透镜间隔的2个构成的光束扩张器等。要使用此技术来对 应每个半导体激光器的振荡波长的偏差(半导体激光器的个体差异)，需要根据振荡波长的偏差来控制校正机构；例如必须设置根据被组装 在光拾取装置的半导体激光器的振荡波长来调整每个作为校正机构 的光束扩张器的透镜位置之后、将该透镜位置设定成初始位置的设定 机构等，因此存在光拾取装置的构成或组装变得复杂化的问题。另一方面，在专利文献2中公开了通过将带有细微的阶差构造的 校正元件配置在玻璃制物镜之前、从而对光源波长变化校正光学系统 的球面像差的技术。然而，为了达到玻璃制物镜的轻量化或其它目的 而欲将其置换成塑料制物镜时，就产生新的问题。即， 一般的塑料其 折射率的温度依赖性大，因此温度变化所致的球面像差变化往往变大。作为降低其的机构而设置细微的阶差构造，利用伴随温度变化的 半导体激光器的振荡波长变动来抑制球面像差变化的机构虽为已知， 但若为了抵消伴随温度变化的球面像差变化而给予了波长变化所致 的球面像差变化，则校正每个半导体激光器的振荡波长偏差这样的波 长变化所致的球面像差变化是无法被给予的，产生无法对应半导体激 光器个体差异所致的振荡波长偏差的问题。
技术实现思路
本专利技术是鉴于所述先前技术的问题点而研发，目的在于提供一种 能够无关于温度变化而可对光信息记录介质进行信息记录/再生的光 拾取装置用的物镜及光拾取装置。本专利技术的其它目的是将此物镜以塑 料单片透镜方式提供。〔用以解决课题的方案〕 专利技术1所记载的光拾取装置用的物镜，其特征为，是被使用在至少使用具有500nm以下的振荡波长的光源的光拾取装置中，且满足以 下式子。0.01 ^ |8SA3。bj/SX|<0.1(krms/nm) (1) 其中，6SA3。bj/6k:对于500nm以下的振荡波长在士2nm以内的波长变 化下的上述物镜的3次球面像差的波长依赖性。专利技术2所记栽的光拾取装置用的物镜，其特征为满足以下式子。0.01 ^ |8SA3。bj/^|<0.1(Xrms/nm) (1)其中，6SA3。bj/^: 500nm以下的振荡波长下的上述物镜的3次球面像 差的波长依赖性。一般而言，关于环境温度是根据光拾取装置的使用条件而不同， 因此要使其维持一定是有困难的。于是，本申请专利技术首先制作温度特 性规格优异的物镜。其结果为，上述物镜为了满足(1)式而其波长 特性会恶化。因此，关于每个光源的振荡波长的偏差，可以说通过选 定振荡波长接近基准波长的光源，做了某种程度的抑制。于是，通过 将本申请专利技术的物镜和经过严格挑选振荡特性的光源进行组合，就可 提供温度特性佳、也无损于波长特性的低成本且简单的光拾取装置。 又，因为可事前准备多种类的设计波长彼此互异的本申请专利技术的物 镜，因此只要对应于半导体激光器的振荡波长偏差而将该半导体激光 器和合适的设计波长的物镜进行组合，就可提供温度特性佳、对波长 特性也毫无妨碍的低成本且简单的光拾取装置，可产生此一优点。此处，针对500nm以下的振荡波长下的物镜的高次球面像差(5 次以上的球面像差)、尤其是5次球面像差系受到良好校正，这对将 聚光光学系统组装至光拾取装置时可省去或简化初始设定而言，是理 想的。专利技术3所记载的光拾取装置用的物镜，其特征为在专利技术1或2 所记载的专利技术中，满足以下式子。0.02〇|8SA3obj/^|<0.1(krms/nm) (2)专利技术4所记载的光拾取装置用的物镜，其特征为在专利技术1或2 所记载的光拾取装置用的物镜中，在500nm以下的特定振荡波长下， 满足以下式子。ISA3。bjl^0.030(X簡) (3)其中，SA3。bj:上述特定振荡波长下的上述物镜的3次球面像差。 作为满足上述(3)式的特定振荡波长，可举例如物镜的设计波长。专利技术5所记载的光拾取装置用的物镜，其特征为在专利技术1 ~ 4的 任一项所记载的光拾取装置用的物镜中，满足以下式子。|8SA3。bj/8T^0.002(Xrms/°C) (4)其中，8SA3。bj/3T:在500nm以下的振荡波长下使对温度变化的波长变 化为+0.05nm/。C时的上述物镜的3次球面像差的温度依赖性。 由此，就可确保良好的温度特性。另外，在上述(4)式中，虽然将对温度变化的波长变化(对温 度变化的波长变化率)设为+0.05nm/'C而求出物镜的3次球面像差的 温度依赖性，但也可视为振荡波长不随着温度变化而变化来加以测 定。此时，上述(4)式，也可改写成下式。|5SA3。b/8T| ^0.005(Xrms/。C) 其中，SSA3。bj/ST: 500nm以下的振荡波长下的上述物镜的3次球面像 差的温度依赖性(此时假设对于温度变化，振荡波长无变化)。专利技术6所记载的光拾取装置用的物镜，其特征为在专利技术1 ~ 5的 任一项所记载的光拾取装置用的物镜中，是由塑料所形成，且至少一 面具有光程差赋予构造。专利技术7所记载的光拾取装置用的物镜，其特征为在专利技术1 ~ 5的 任一项所记栽的光拾取装置用的物镜中，上述光拾取装置具有500nm 以下的振荡波长)J的第1光源、和振荡波长k2 ()d〈k2)的第2光 源，上述物镜本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光拾取装置用的物镜，其特征在于，是被使用在至少使用具有５００ｎｍ以下的振荡波长的光源的光拾取装置中，且满足以下式子：　０．０１≦｜δＳＡ３↓［ｏｂｊ］／δλ｜＜０．１（λｒｍｓ／ｎｍ）　（１）　其中，　δＳＡ３↓［ｏｂｊ］／δλ：对于５００ｎｍ以下的振荡波长在±２ｎｍ以内的波长变化下的上述物镜的３次球面像差的波长依赖性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2006-3-15 070701/20061. 一种光拾取装置用的物镜，其特征在于，是被使用在至少使用具有500nm以下的振荡波长的光源的光拾取装置中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：大田耕平，中村健太郎，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达精密光学株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]