测试探针座结构制造技术

本发明专利技术涉及一种测试探针座结构，该探针座包括一座体，该座体上设置有至少两个相互绝缘且被区隔的探针；各探针通过一盖合板夹设于一绝缘的座体上。利用本发明专利技术的结构，能于小体积的座体上设置多组探针，使测点增加，另该探针组装与更换快速且方便，探针定位效果佳，符合业者需求。业者需求。业者需求。

【技术实现步骤摘要】
测试探针座结构


[0001]本专利技术关于一种测试探针座，特别是一种应用于积体电路测试用的测试探针座结构。

技术介绍

[0002]积体电路元件泛见于各式电子产品中，积体电路元件堪称电子产品中最重要的中枢。厂家在完成积体电路元件的制造后、出厂前，都必需利用探针等测试设备进行积体电路元件的功能检测；若有发现异常则必须将其排除，以避免出货后造成后端下游厂商组装的商品瑕疵，甚至衍生无法预期的后果。
[0003]由于现有产品为求轻薄短小，积体电路元件也朝向高密度化而导致电极垫间距更窄，衍生的课题就是测试用的探针设备也连带必须增加密度，或在相同空间中提升测点；再者，探针直径也连带更加微细，导致探针因直径变小、寿命相对缩短，耐用度差；因此，探针成为一种高耗损的耗材；衍生的问题就是探针设置于探针座上结构是否稳定，更换探针是否快速容易，以及探针在测试时受力是否平均。
[0004]专利技术人有鉴于现有探针座因体积大、在相同空间内无法提升测点数量的限制，以及探针普遍存有更换不易、结构不稳固以及测试时受力不均等问题，遂特以研创成本专利技术，期能借本专利技术的提出，改进现有探针座的缺点，期使探针座的结构能臻致完善、理想与实用。专利技术人依据累积数十年从事该行业的丰富经验，与多件国内外专利的申请与取得经验，戮力谋求解决之道，终而有本专利技术的完成。

技术实现思路

[0005]为改善现有的探针座存有更换不易、结构不稳固以及测试时受力不均等缺陷，本专利技术其主要目的在于提供一种测试探针座结构，其于单一探针座中，能设置多个测点；借此，能提升测试效率，并符合高密度积体电路的测试用。
[0006]本专利技术的另一目的在于：提供一种测试探针座结构，其通过重新设计的夹合式结构，能使探针与探针座的接合效果相当稳固；当要进行测试时，能具有良好的测试效果，特别是探针的受力较现有技术中的均匀，能提升测试能力，并克服因受力不均导致断针或测试效果差等困扰。
[0007]本专利技术其次要目的在于：提供一种测试探针座结构，其通过重新设计的夹合式结构，除了能使探针与探针座的接合效果相当稳固、受力均匀以外，当要进行探针更换时，也相当快速方便，能有效缩短更换时间，提升测试效率。
[0008]为达上述目的，本专利技术主要的手段为：在单一座体中，设置有相互绝缘的两个不同区域的测试探针。
[0009]较佳的，本专利技术具体的内容为：于第一实施例中，该探针座包括一座体、两个盖合板、两个探针与多个锁件。该座体，对应设置有两个容置槽，其间设有一间隔体，各容置槽呈平置状，该容置槽向缘边延设有一凹槽，该凹槽一内端缘设有一个或一个以上的穿孔，各容
置槽中设置有锁孔；该探针，为一金属或导电材料制成的针体，其中一尖端为测试端，相对另一端为连接端，该探针能用以组置于该凹槽内，且其连接端插入至该穿孔内；该盖合板，形体与该容置槽略同，其上穿设有一个或一个以上的上锁孔，底面设置有相对于下方的凹槽的上凹槽；利用将探针置于座体与盖合板间的凹槽与上凹槽间，通过锁件锁组于盖合板的上锁孔与座体的锁孔中，即能达成令该两个探针被夹设于座体与两个盖合板间的目的。
[0010]较佳的，本专利技术还得以于第二实施例中：该探针座，包括一座体、两个盖合板、两个探针、多个锁件与两个夹层板。该座体中，对应设置有两个容置槽，其间设有一间隔体，该各容置槽呈平置状，各容置槽处组设有一夹层板，各夹层板向缘边延设有一凹槽，该凹槽一内端缘设有一穿孔，各夹层板中设置有锁孔；该探针，为一金属或导电材料制成的针体，其中一尖端为测试端，相对另一端为连接端，该探针能用以组置于该凹槽内，且其连接端插入至该穿孔内；该盖合板，叠组于夹层板上方，其上穿设有一个或一个以上的上锁孔，底面设置有相对于下方的凹槽的上凹槽；利用将探针置于夹层板与盖合板间的凹槽与上凹槽中，通过锁件锁组于盖合板的上锁孔与夹层板的锁孔中，即能达成令该两个探针被夹设于夹层板与两个盖合板间的目的。前述该夹层板与容置槽得以任意粘合的方式连结。
[0011]另外，于第三种实施例中：该探针座包括有一座体、两个盖合板、两个探针与多个锁件。该座体中，对应设置有两个容置槽，其间设有一间隔体，该各容置槽呈平置状，该容置槽向缘边延设有一凹槽，各容置槽中设置有锁孔；该探针，为一金属或导电材料制成的针体，其中一尖端为测试端，相对另一端为连接端，该探针略呈ㄣ字状；该盖合板，形体与该容置槽略同，其上穿设有一个或一个以上的上锁孔，底面设置有相对于下方的凹槽的上凹槽，且该上凹槽连接有一穿孔；利用将探针置于座体与盖合板间的凹槽与上凹槽间，且其连接端插入至该穿孔内，再通过锁件锁组于盖合板的上锁孔与座体的锁孔中，即能达成令该两个探针被夹设于座体与两个盖合板间的目的。前述该盖合板更设置有一上锁口，得以提供一下锁件由下向上锁组。
[0012]于前述第一实施例，更得以将两个或两个以上的探针座依需要合而为一，亦即该座体上的容置槽、盖合板与探针，能依需要倍数增加。进而成为第四实施例。
[0013]较佳的，前述该座体，由绝缘材料制成为佳；另该盖合板、夹层板、锁件与下锁件皆由具电性传导效能的材料制成。
附图说明
[0014]图1为本专利技术第一实施例的立体分解图；图2为本专利技术的一实施例的立体组合外观图；图3为本专利技术第二实施例的立体分解图；图4为本专利技术的二实施例的立体组合外观图；图5为本专利技术第三实施例的立体分解图；图6为本专利技术的三实施例的立体组合外观图；图7为本专利技术第四实施例的立体组合外观图。
[0015]附图标记说明1、探针座；11、座体；111、容置槽；112、凹槽；113、穿孔；114、锁孔；115、间隔体；12、盖合板；
121、上锁孔；122、上凹槽；13、探针；131、测试端；132、连接端；14、锁件；2、探针座；21、座体；211、容置槽；215、间隔体；22、盖合板；221、上锁孔；222、上凹槽；23、探针；231、测试端；232、连接端；24、锁件；25、夹层板；251、凹槽；252、穿孔；253、锁孔；24、锁件；3、探针座；31、座体；315、间隔体；311、容置槽；312、凹槽；313、锁孔；32、盖合板；321、上锁孔；322、上凹槽；323、上锁口；324、穿孔；33、探针；331、测试端；332、连接端；34、锁件；35、下锁件；4、探针座；41、探针组；42、探针组。
具体实施方式
[0016]现就本专利技术测试探针座结构的详细内容及其所产生的功效，配合说明书附图，举一本专利技术的较佳实施例详细说明如下：首请参阅图1、图2所示，本专利技术的测试探针座结构，于第一实施例中，该探针座1包括一座体11、两个盖合板12、两个探针13与多个锁件14。该座体11中，对应设置有两个容置槽111，其间设有一间隔体115；各容置槽111呈平置状，该容置槽111向缘边延设有一凹槽112，该凹槽112一内端缘设有一个或一个以上的穿孔113，各容置槽111中设置有锁孔114；该探针13，为一金属或导电材料制成的针体，其中一尖端为测试端131，相对另一端为连接端132，该探针13能用以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试探针座结构，其特征在于，于一座体中，设置有相互绝缘的至少两个探针，该探针导电材料制成。2.一种测试探针座结构，其特征在于，包括：一座体，对应设置有至少两个容置槽，其间设有一间隔体，该座体由绝缘材料制成；至少两个探针，各探针的一尖端为测试端；至少两个盖合板，各盖合板能配合容置槽通过一锁件将该探针结构夹置，且外露该探针的测试端；该盖合板与该锁件由具电性传导功能的材料制成。3.如权利要求2所述的测试探针座结构，其特征在于，各容置槽中向缘边延设有一凹槽，该凹槽一内端缘设有至少一穿孔，各容置槽中设置有一锁孔；该探针相对另一端为连接端；该盖合板上穿设有一个或一个以上的上锁孔，底面设置有相对于下方的该凹槽的上凹槽。4.如权利要求2所述的测试探针座结构，其特征在于，该探针导电材料制成，该座体上的容置槽、盖合板与探针，能够依需要增加。5.一种测试探针座结构，其特征在于，包括：一座体，对应设置有两个容置槽，其间设有一间隔体，该座体由绝缘材料制成；至少两个夹层板，分别接合于各容置槽处；至少两个探针，其中一尖端为测试端；至少两个盖合板，分别叠组于各夹层板上方，各盖合板配合夹层板通过一锁件将该探针结构夹置，且外露该探针的测试端；该盖合板、夹层板与该锁件由具电性传导功能的材料制成。...

【专利技术属性】
技术研发人员：呙昇华，
申请(专利权)人：跃澐科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：