测试探针座结构制造技术

本发明专利技术涉及一种测试探针座结构，该探针座包括一座体，该座体上设置有至少两个相互绝缘且被区隔的探针；各探针通过一盖合板夹设于一绝缘的座体上。利用本发明专利技术的结构，能于小体积的座体上设置多组探针，使测点增加，另该探针组装与更换快速且方便，探针定位效果佳，符合业者需求。业者需求。业者需求。

【技术实现步骤摘要】
测试探针座结构


[0001]本专利技术关于一种测试探针座，特别是一种应用于积体电路测试用的测试探针座结构。

技术介绍

[0002]积体电路元件泛见于各式电子产品中，积体电路元件堪称电子产品中最重要的中枢。厂家在完成积体电路元件的制造后、出厂前，都必需利用探针等测试设备进行积体电路元件的功能检测；若有发现异常则必须将其排除，以避免出货后造成后端下游厂商组装的商品瑕疵，甚至衍生无法预期的后果。
[0003]由于现有产品为求轻薄短小，积体电路元件也朝向高密度化而导致电极垫间距更窄，衍生的课题就是测试用的探针设备也连带必须增加密度，或在相同空间中提升测点；再者，探针直径也连带更加微细，导致探针因直径变小、寿命相对缩短，耐用度差；因此，探针成为一种高耗损的耗材；衍生的问题就是探针设置于探针座上结构是否稳定，更换探针是否快速容易，以及探针在测试时受力是否平均。
[0004]专利技术人有鉴于现有探针座因体积大、在相同空间内无法提升测点数量的限制，以及探针普遍存有更换不易、结构不稳固以及测试时受力不均等问题，遂特以研创成本专利技术，期能借本专利本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试探针座结构，其特征在于，于一座体中，设置有相互绝缘的至少两个探针，该探针导电材料制成。2.一种测试探针座结构，其特征在于，包括：一座体，对应设置有至少两个容置槽，其间设有一间隔体，该座体由绝缘材料制成；至少两个探针，各探针的一尖端为测试端；至少两个盖合板，各盖合板能配合容置槽通过一锁件将该探针结构夹置，且外露该探针的测试端；该盖合板与该锁件由具电性传导功能的材料制成。3.如权利要求2所述的测试探针座结构，其特征在于，各容置槽中向缘边延设有一凹槽，该凹槽一内端缘设有至少一穿孔，各容置槽中设置有一锁孔；该探针相对另一端为连接端；该盖合板上穿设有一个或一个以上的上锁孔，底面设置有相对于下方的该凹槽的上凹槽。4.如权利要求2所述的测试探针座结构，其特征在于，该探针导电材料制成，该座体上的容置槽、盖合板与探针，能够依需要增加。5.一种测试探针座结构，其特征在于，包括：一座体，对应设置有两个容置槽，其间设有一间隔体，该座体由绝缘材料制成；至少两个夹层板，分别接合于各容置槽处；至少两个探针，其中一尖端为测试端；至少两个盖合板，分别叠组于各夹层板上方，各盖合板配合夹层板通过一锁件将该探针结构夹置，且外露该探针的测试端；该盖合板、夹层板与该锁件由具电性传导功能的材料制成。...

【专利技术属性】
技术研发人员：呙昇华，
申请(专利权)人：跃澐科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：