硬盘驱动装置和控制其磁头的飞行高度的方法制造方法及图纸

一种控制硬盘驱动装置的磁头的飞行高度的方法，所述方法包括：产生基准ＦＯＤ（飞行高度自动控制）电压概图，该电压概图定义在测量温度下的磁头的飞行高度和ＦＯＤ电压之间的关系，其中当ＦＯＤ电压被施加到包括在磁头内的加热器时，磁头的末端热膨胀并凸出；以及设置基准ＦＯＤ电压概图为施加的ＦＯＤ电压概图，以便控制磁头的飞行高度，该基准ＦＯＤ电压概图使用在室温下预设的磁头的基准最大飞行高度来校正。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术总的构思涉及一种硬盘驱动装置、控制该硬盘驱动装置的磁头的飞行高度(FH)的方法、以及用于执行该方法的计算机程序的记录介质，并 且尤其涉及一种能够有效控制磁头的FH的硬盘驱动装置、控制该硬盘驱动 装置的磁头的FH的方法、以及用于执行该方法的计算机程序的记录介质。
技术介绍
由电子部分和机械部分形成的硬盘驱动装置(HDD)是通过将数字电脉 冲转换成更加持久的磁场来记录和再现数据的存储器设备。因为对大量数据 的快速存取时间，HDD被广泛用作计算机系统的辅助存储器设备。随着近来TPI (每英寸的磁道；盘径向上的密度)和BPI (每英寸的位； 盘旋转方向上的密度)的增长，HDD已经获得了高容量,.并且其应用领域已 经扩展。因此，已经存在研发能够用于便携式电子产品(如笔记本、个人数 字助理(PDA)和移动电话)的致密HDD的要求。具有2.5英寸直径的HDD 已经被研发并应用到笔记本计算机。近来已经研发出了和硬币一样小的、具 有0.85英寸直径的致密HDD，并期望在将来被用于移动电话或MP3播放器。随着HDD的容量增加，磁头的读/写传感器的尺寸减小，并且磁头在盘 的记录表面上提升的飞行高度(FH)逐渐减小。也就是说，当实现了高的TPI 和BPI以制造高容量HDD时，磁道的宽度减小。当磁道宽度减小时，磁场 强度因此变弱。因而，向盘的记录表面写入数据或从盘的记录表面再现数据 不能够平稳执行。为此，有效地减小盘和磁头之间间隔(即'减小磁头相对于盘的FH)的方 法，已经并正有效地发展为改善磁头相对于盘的读/写性能的先决条件。其中 的一种方法是减小磁头的FH的离散(dispersion),并且另一种方法是有效控 制FH以获得^磁头的最小FH。图1图示了根据传统技术的HDD中的磁头的FH根据温度改变的改变。 图2是无量纲地(non-dimension)图示图1的HDD中的》兹头的FH根据测量温度的曲线图。近来，烧录(burn-in)过程中使用飞行高度自动控制(FOD ) 装置来测量磁头141的FH。选择FOD电压以便将磁头141维持在用户环境 中期望的FH。具体地说，在烧录过程中当逐渐增加的FOD电压通过着陆(touchdown ) 测试被施加到》兹头141上时，被提升并维持在预定高度的磁头141朝盘111 降低，然后接触盘lll。通过着陆测试提供了基准FOD电压概图(profile), 其表示FOD电压和磁头141的FH之间的关系。实际用户环境中的目标间隙(clearance )(即目标FH )所需的FOD电压 从基准FOD电压概图产生。相关数据被存储在盘111的维护柱面内。因此， 烧录过程中产生的FOD电压被施加到包括在用户环境中的》兹头141中的加热 器(未示出)，使得维持磁头141的目标FH。然而，在用于控制硬盘驱动装置的磁头141的FH的传统方法中，测量 值被用于烧录过程中，尤其在实际用户环境中而没有考虑FH根据温度的变 化是一个问题。因此，烧录过程中磁头141的FH可以是正常条件(即室温) 下的值。当在烧录过程期间，满足当测量磁头141的FH时的温度是室温以 及磁头141在原始FH飞行的条件，基于磁头141的FH来选择用户环境中用 于设置目标FH的FOD电压。然而，尽管外部环境条件在烧录过程中被控制， 但由于各种限制，实际上不能够同样地维持所有硬盘驱动装置的温度。通常，如图l和2所示.，在温度高于室温的环境中，磁头141的FH低 于室温的FH。在温度低于室温的环境下，磁头141的FH高于室温的FH。 也就是说，即使在烧录过程中，可以在不同于室温的温度条件下执行测量操 作。当在这种条件下进行测量时，磁头141的FH可能被误测量。因此，在 用户环境中选t奪不正确的FOD电压。当由于不正确的温度的误测量的FOD 电压被施加到磁头141来控制磁头141的FH时，会产生各种问题。参照图1的(B)和(C),当在较高的温度环境下执行烧录过程时，磁 头141的FH2测量为低于磁头141在室温下的FH1,并且为用户环境中的目 标FH选择了较低的FOD电压。然后，当实际用户环境的温度低于高温度环 境时，磁头141的FH维持在高于目标FH的位置。结果，可能产生可靠性问 题(如弱写入)。同样，参照图1的(A)和(B),当在较低的温度环境下执行烧录过程 时，磁头141的FH3测量为高于磁头141在室温下的FH1,并且为用户环境中的目标FH选择了较高的FOD电压。然后，当实际用户环境的温度高于高 温度环境时，磁头141的FH维持在低于目标FH的位置。结果，可能产生磁 头和盘干扰(HDI)，其中磁头141和盘111互相碰撞。也就是说，当不是在室温而是在高于或低于室温的温度下执行烧录过程 时，^i头141的FH可能被不正确地测量。因此，在实际用户环境中，因为 由于温度影响施加了不正确测量的FOD电压，所以会产生弱写入或HDI。
技术实现思路
本专利技术总的构思提供了一种硬盘驱动装置，其能够通过防止当由于使用 FOD装置测量磁头的FH的烧录过程的影响，尤其通过温度的影响，不适当 的选择了保持磁头的目标FH所需的FOD电压时产生的弱写入或HDI来改善 FOD控制的可靠性，还提供了一种控制硬盘驱动装置的磁头的FH的方法， 以及包含#1行该方法的计算机程序的记录介质。本专利技术总的构思的其他方面和作用部分地将在以下描述中阐述，并且部 分地可以从描述中显而易见，或者可以通过本专利技术总的构思的实现而获知。本专利技术的前述和/或其他方面及作用可以通过提供一种控制硬盘驱动装 置的i头的飞行高度的方法实现，所述方法包括产生基准FOD(飞行高度 自动控制)电压概图，该电压概图确定了在测量温度下的磁头的飞行高度和 FOD电压之间的关系，其中当FOD电压被施加到包括在石兹头内的加热器时， 磁头的末端热膨胀并凸出；以及设置基准FOD电压概图为施加的FOD电压 概图，以便控制磁头的飞行高度，该基准FOD电压概图使用在室温下预设的 磁头的基准最大飞行高度来校正。磁头的基准最大飞行高度可以是对应于在室温下设置的值的磁头的最大 飞行高度。在设置基准FOD电压概图为施加的FOD电压概图以便控制磁头的飞行 高度中，该基准FOD电压概图使用在室温下预设的磁头的基准最大飞行高度 来校正，可以基于对应于在室温下设置的值的基准最大飞行高度和基准FOD 电压概图中的磁头的最大飞行高度之间的差，校正基准FOD电压概图，并且 校正的FOD电压概图可以被设置为施加的FOD电压概图。设置基准FOD电压概图为施加的FOD电压概图以便控制》兹头的飞行高 度，该基准FOD电压概图使用在室温下预设的磁头的基准最大飞行高度来校正，可以包括获得增量最大飞行高度，其为基准最大飞行高度和在基准FOD 电压概图中磁头的最大飞行高度之间的差值；当施加预定量的FOD电压时， 通过从基准FOD电压概图中的磁头的测量的飞行高度，减去从预定等式产生 的值来校正该磁头的测量的飞行高度来校正FOD电压概图，其中该等式来自 磁头的差值最大飞行高度以及预定量的FOD电压与磁头着陆时基准FOD电 压概图中的着陆FOD电压的比值；以及将该校正的FOD电压概图设为施加 的FOD电压概图，以便控制^f兹头的飞行高度。可以通过预定等式由预定量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种控制硬盘驱动装置的磁头的飞行高度的方法，所述方法包括：　　　　产生基准飞行高度自动控制ＦＯＤ电压概图，该电压概图定义在测量温度下的磁头的飞行高度和ＦＯＤ电压之间的关系，其中当ＦＯＤ电压被施加到包括在磁头内的加热器时，磁头的末端热膨胀并凸出；以及　　　　设置基准ＦＯＤ电压概图为施加的ＦＯＤ电压概图，以便控制磁头的飞行高度，该基准ＦＯＤ电压概图使用在室温下预设的磁头的基准最大飞行高度来校正。

【技术特征摘要】
KR 2007-2-16 16457/071、一种控制硬盘驱动装置的磁头的飞行高度的方法，所述方法包括产生基准飞行高度自动控制FOD电压概图，该电压概图定义在测量温度下的磁头的飞行高度和FOD电压之间的关系，其中当FOD电压被施加到包括在磁头内的加热器时，磁头的末端热膨胀并凸出；以及设置基准FOD电压概图为施加的FOD电压概图，以便控制磁头的飞行高度，该基准FOD电压概图使用在室温下预设的磁头的基准最大飞行高度来校正。2、 如权利要求1所述的方法，其中磁头的基准最大飞行高度是对应于在 室温下设置的值的磁头的最大飞行高度。3、 如权利要求2所述的方法，其中，在设置基准FOD电压概图为施加 的FOD电压概图以便控制磁头的飞行高度中，该基准FOD电压概图使用在 室温下预设的磁头的基准最大飞行高度来校正，基于对应于在室温下设置的 值的基准最大飞行高度和基准FOD电压概图中的磁头的最大飞行高度之间 的差，校正基准FOD电压概图，并且将校正的FOD电压概图设置为施加的 FOD电压扭克图。4、 如权利要求3所述的方法，其中设置基准FOD电压概图为施加的FOD 电压概图以便控制磁头的飞行高度，该基准FOD电压概图使用在室温下预设 的磁头的基准最大飞行高度来校正，包括获得增量最大飞行高度，其为基准最大飞行高度和在基准FOD电压概图 中磁头的最大飞行高度之间的差值；以及当施加预定量的FOD电压时，通过从基准FOD电压概图中的磁头的测 量的飞行高度中减去从预定等式产生的值来校正该磁头的测量的飞行高度， 来校正FOD电压概图，其中该等式来自磁头的差值最大飞行高度、以及预定 量的FOD电压与^i头着陆时基准FOD电压概图中的着陆FOD电压的比值， 并且将该校正的FOD电压概图设为施加的FOD电压概图，以便控制磁头的 飞行高度。5、 如权利要求4所述的方法，其中通过预定等式由预定量的FOD电压 与着陆电压的比值和差值最大飞行高度产生的该值，是通过将预定量的FOD 电压与着陆FOD电压的比值乘以差值最大飞行高度而获得的值。6、 如权利要求3所述的方法，其中基准FOD电压概图中的磁头的最大 飞行高度是在测量温度下测量的磁头的最大飞行高度。7、 如权利要求3所述的方法，其中基准FOD电压概图中的磁头的最大 飞行高度基于由预定实验公式获得的每个温度的磁头的最大飞行高度的变化 率产生。8、 一种计算机可读记录介质，该记录介质具有体现在其上的计算机程序 来执行一种方法，所述方法包括产生基准飞行高度自动控制FOD电压概图，该电压概图定义在测量温度 下的磁头的飞行高度和FOD电压之间的关系，其中当FOD电压被施加到包 括在》兹头内的加热器时，磁头的末端热膨胀并凸出；以及设置基准FOD电压概图为施加的FOD电压概图，以便控制磁头的飞行 高度，该基准FOD电压概图使用在室温下预设的磁头的基准最大飞行高度来 校正。9、 一种硬盘驱动装置，包括磁头，用于向盘记录数据或从盘再现数据；以及控制器，用于产生基准飞行高度自动控制FOD电压概图，该电压概图定 义了在测量温度下的磁头的飞行高度和FOD电压之间的关系，其中当...

【专利技术属性】
技术研发人员：李昌焕，李海中，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]