【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于检测光学记录载体中的裂紋的方法和设备本专利技术涉及从光学记录载体中读取数据以及检测光学记录载体中 的裂紋的设备和相应的方法。本专利技术还涉及用于在例如计算冲几上实现所 述方法的计算机程序。诸如CD、 DVD和BD盘的光学记录载体可能会开裂。在较长时间 段内经受动态和/或静态机械负荷的任何盘都可能出现裂紋。特别劣质的 盘会容易开裂。开裂的盘的问题在于，它们在较高旋转速度下容易发生 炸裂并且当裂紋出现在盘的信息区中时就再也不能读取该信息区中的 数据。这是因为已知的伺服控制算法不能够处理径向、聚焦以及圆周方 向上的突然的大的跳跃。这样的大的跳跃出现在有裂紋的盘中，因为在 盘上沿其存储数据的数据轨道在裂紋位置处不再是连续的。已知的伺服 算法只能处理盘的信息层中的小缺陷以及处理盘的辐射入射表面上的 适度缺陷，例如黑点、指紋或划痕。US 2005/0052967 Al公开了 一种防止光学记录载体由于裂紋而石皮 裂的方法和设备。这种公开的方法和设备用于当光学记录载体以第一 速度旋转时检测从数据记录/再现设备输出的第一跟踪误差信号；当相同 的光学记录载体以第二速度旋转时检测从该...
【技术保护点】
用于从光学记录载体（１０）中读取数据以及检测光学记录载体（１０）中的裂纹的设备，包括：－读取单元（１４、１５），其用于利用辐射束从所述记录载体中读取数据并且用于产生数据信号（ＲＦ）；－伺服误差检测单元（１６），其用于跟踪数据轨道并且用于产生跟踪误差信号（ＴＥ）和聚焦误差信号（ＦＥ），所述数据在光学记录载体上是沿着所述数据轨道来记录的；－控制单元（１９），其用于利用聚焦控制信号（ＦＡ）和径向控制信号（ＲＡ）来控制所述辐射束的读出光斑在所述光学记录载体上的轴向位置和径向位置；以及 －裂纹检测单元（２１），其用于通过检查 ａ）所述聚焦误差信号（ＦＥ）和／或所述跟踪误差信号（ＴＥ）...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP 2005-12-8 05111820.61.用于从光学记录载体(10)中读取数据以及检测光学记录载体(10)中的裂纹的设备，包括-读取单元(14、15)，其用于利用辐射束从所述记录载体中读取数据并且用于产生数据信号(RF)；-伺服误差检测单元(16)，其用于跟踪数据轨道并且用于产生跟踪误差信号(TE)和聚焦误差信号(FE)，所述数据在光学记录载体上是沿着所述数据轨道来记录的；-控制单元(19)，其用于利用聚焦控制信号(FA)和径向控制信号(RA)来控制所述辐射束的读出光斑在所述光学记录载体上的轴向位置和径向位置；以及-裂纹检测单元(21)，其用于通过检查a)所述聚焦误差信号(FE)和/或所述跟踪误差信号(TE)是否表现出显著的峰值，以及b)所述聚焦控制信号(FA)和/或所述径向控制信号(RA)是否表现出显著的阶跃变化，来确定所述光学记录载体中是否存在裂纹。2. 如权利要求1所述的设备，其中所述裂紋检测单元(21 )适用于 检查所述聚焦控制信号(FA)的幅度是否指示了至少5pm的变化和/或 所述跟踪误差信号(TE)的幅度是否指示了至少linm的变化。3. 如权利要求1所述的设备，其中所述裂紋检测单元(21 )还用于 检查数据信号(RF)是否表现出中断。4. 如权利要求l所述的设备，其中所述裂紋检测单元(21)适用于 将用于检测光学记录载体中的裂紋的信号与之前从具有裂紋、划痕和/ 或没有机械缺陷的光学记录载体中测量的相应信号进行比较。5. 如权利要求l所述的设备，其中所述裂紋检测单元(21 )适用于 检查经不止一次的旋转和/或在至少两个相邻轨道上用于检测光学记录 载体中的裂紋的信号。6. 如权利要求1所述的设备，进一步包括数据处理单元(17)，其用于从在中断之间读取的数据信号(RF) 中获取地址和/或时间信息，用于确定轨道略过数，所述轨道略过数指示 了在中断期间略过的轨道的旋转次数，其中所述裂紋检测单元(21)适用于检查所述轨道略过数是否超过预定阈值数。7. 如权利要求6所述的设备，其中控制单元(19)适用于使用所述8. 如权利要求7所述的设备，其中数据处理单元(17)适用于从正 好在裂紋之前和正好在裂紋之后读取的数据信号(RF)中获取地址和/ 或时间信息，并且用于检查正好在裂紋之前和正好在裂紋之后的被读取 地址和/或时间信息是否处于正确的顺序或时间次序。9. 如权利要求8所述的设备，具有控制单元(19)和数据处理单元 (17)之间的前馈环，其允许如果正好在裂紋之前和正好在裂紋之后的地址和/或时间信息不处于正确的顺序或时间次序，则根据当正好在裂紋 ...
【专利技术属性】
技术研发人员：PMR沃特尔博尔，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]
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