金属检测装置制造方法及图纸

技术编号:30426601 阅读:12 留言:0更新日期:2021-10-24 17:11
本发明专利技术提供一种金属检测装置,能够事后进行调整以使通常时的输出信号为零。本发明专利技术的金属检测装置具备:发送信号输出部,输出发送信号;发送线圈,被施加发送信号输出部输出的发送信号,来在检查区域产生交变磁场;两个接收线圈,配置于能够对发送线圈产生的磁通进行补充的位置,基于发送线圈在检测区域产生的交变磁场来产生感应电压;控制部,基于两个接收线圈中产生的感应电压之差,来判定在检查区域有无金属,并输出判定结果;调整信号输出部,基于与发送信号输出部输出的发送信号同步的信号,来生成并输出调整信号;以及调整线圈,配置于检查区域,被施加调整信号输出部输出的调整信号。号。号。

【技术实现步骤摘要】
金属检测装置


[0001]本专利技术涉及一种用于检测例如食品、衣物等被检查物中有无金属的金属检测装置。

技术介绍

[0002]以往,作为这种金属检测装置,已知有例如专利文献1所记载的装置。专利文献1所记载的金属检测装置具备:输送机,其用于搬送被检查物;发送线圈,其被设置为围绕输送机的搬送面上的检查区域;以及相同形状的两个接收线圈,所述两个接收线圈配置于搬送方向上的位于发送线圈的前后的位置。
[0003]发送线圈基于从波形产生部供给的磁场发送信号,来在检查区域产生磁场。两个接收线圈被配置于将发送线圈夹在中间的对称的位置处,检测磁场并产生感应电压。两个接收线圈以两者中产生的感应电压之差成为输出的方式进行连接,在通常时,两个接收线圈中产生的感应电压平衡,接收信号实质为零。另一方面,当在检查区域中搬送包含金属的被检查物时,两个接收线圈中产生的感应电压失去平衡,接收信号产生变化。通过这样,在接收信号超过规定值的情况下,能够检测为在被检查物中包含金属。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1:日本特许6577974号公报

技术实现思路

[0007]专利技术要解决的问题
[0008]如上所述,在金属检测装置中,理想的是,在检查区域中不存在金属的情况下,两个接收线圈中产生的感应电压完全平衡,从而输出信号为零,但是实际上由于两个接收线圈的配置的不平衡等,输出信号会产生与磁场发送信号同步的微弱的变动。这种变动成为对于金属的检测极限的限制,因此需要极力地抑制该变动。因此,在检查区域设置用于插入金属性的调整螺钉的机构,在设置金属检测装置时对调整螺钉的插入位置和插入量进行调整,使得通常时的输出信号为规定的允许值上限以下。
[0009]然而,即使如上述那样在设置时进行调整,也会由于经时的变化等,而两个接收线圈中产生的感应电压失去平衡,通常时的输出信号产生变动。
[0010]本专利技术是鉴于上述问题而完成的,其目的在于提供一种能够事后进行调整以使通常时的输出信号为零的金属检测装置。
[0011]用于解决问题的方案
[0012]为了解决上述问题,本专利技术的金属检测装置具备:发送信号输出部,其输出发送信号;发送线圈,其被施加发送信号输出部输出的发送信号,来在检查区域产生交变磁场;两个接收线圈,所述两个接收线圈配置于能够对发送线圈产生的磁通进行补充的位置,基于发送线圈在检查区域产生的交变磁场来产生感应电压;控制部,其基于两个接收线圈中产
生的感应电压之差,来判定在检查区域有无金属,并输出判定结果;调整信号输出部,其基于与发送信号输出部输出的发送信号同步的基准信号,来生成调整信号并输出该调整信号;以及调整线圈,其配置于检查区域,被施加调整信号输出部输出的调整信号。
[0013]在本专利技术中,可以是,调整信号输出部将改变基准信号的振幅、相位以及波形中的至少一个而得到的信号作为调整信号进行输出。例如,可以是,基准信号是将发送信号进行分支而得到的信号。而且,可以是,控制部调整由调整信号输出部进行的对调整信号的振幅、相位以及波形中的至少一个的设定,以使两个接收线圈中产生的感应电压之差收敛于不超过规定的允许值的范围内。
[0014]在本专利技术中,可以是,金属检测装置还具备搬送单元,该搬送单元将被检查物以通过检查区域的方式在搬送方向上进行搬送,两个接收线圈配置于在搬送单元的搬送方向上以发送线圈为中心呈对称的位置处。
[0015]在本专利技术中,可以是,金属检测装置还具备位置调整机构,该位置调整机构用于调整构件在检查区域内的物理配置。可以是,位置调整机构还具备:调整螺钉座,其具有朝向检查区域贯通的至少一个螺钉孔;以及调整螺钉,调整螺钉被拧入螺钉孔。在该情况下,可以是,至少一个螺钉孔设置于距两个接收线圈的距离不相等的位置。另外,可以是,调整线圈设置于调整螺钉。
附图说明
[0016]图1是示出金属检测装置1的结构的框图。
[0017]图2是将在搬送面61a上规定的检测区域Z与金属检测部20所具备的发送线圈21及接收线圈22一同示出的图。
[0018]图3是示意性地示出由信号处理部30和调整部40构成的电路的图。
[0019]图4是示出调整部40的结构的图。
[0020]图5的(a)是示出未卷绕调整线圈43的状态下的调整螺钉42的构造的立体图。图5的(b)是示出卷绕有调整线圈43的状态下的调整螺钉42的立体图。
[0021]附图标记说明
[0022]1:金属检测装置;10:控制部;20:金属检测部;30:信号处理部;40:调整部;50:显示部;60:输送机;W:被检查物;Z:检查区域。
具体实施方式
[0023]下面,基于附图来说明本专利技术的实施方式。此外,在下面的说明中,对相同的构件标注相同的标记,关于已经说明过一次的构件,适当地省略其说明。
[0024][金属检测装置的结构][0025]如图1所示,本实施方式中的金属检测装置1具备控制部10、金属检测部20、信号处理部30、调整部40、显示部50以及作为搬送单元的输送机60。金属检测装置1检测被输送机60搬送并通过检查区域Z的被检查物W中有无金属。
[0026]被检查物W例如是将量产的食品用包装材料包装而成的,既可以是盒装产品那样的有固定形状的产品,也可以是密封有流动物体等的软袋装产品那样的无固定形状的产品,还可以是冷冻产品。另外,被检查物W并不限定于食品。
[0027]输送机60在控制部10的控制下搬送被检查物W。输送机60具备作为在图示的搬送方向上搬送被检查物W的搬送单元的无端环状的传送带61、以及搬送辊62和63。传送带61具有用于载置被检查物W并在搬送方向上搬送被检查物W的搬送面61a。
[0028]图2是将在搬送面61a上规定的检查区域Z与金属检测部20所具备的发送线圈21及接收线圈22一同示出的图。如图2所示,传送带61的搬送面61a上的规定的区域为检查区域Z。因而,被检查物W被输送机60以通过检查区域Z的方式搬送。
[0029]金属检测部20具备一个发送线圈21和两个接收线圈22A、22B(下面有时将两个接收线圈统称为接收线圈22)。另外,信号处理部30具备发送信号输出部31、接收信号处理部32以及调整信号输出部33。
[0030]发送线圈21被配置为围绕检查区域Z中的搬送方向上的规定位置。发送线圈21的匝数例如优选设为1匝~5匝左右。发送线圈21与发送信号输出部31连接。发送信号输出部31在控制部10的控制下,向发送线圈21输出交流的发送信号。优选为能够由控制部10设定发送信号输出部31输出的发送信号的频率、振幅等。发送线圈21被施加发送信号输出部31输出的发送信号,来在检查区域Z产生交变磁场。
[0031]两个接收线圈22配置于能够对发送线圈21产生的磁通进行补充的位置。具体地说,两个接收线圈22形成为相同形状,以围绕检查区域Z的方式分别配置于搬送方向上的将发送线圈21夹在本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金属检测装置,其特征在于,具备:发送信号输出部,其输出发送信号;发送线圈,其被施加所述发送信号输出部输出的发送信号,来在检查区域产生交变磁场;两个接收线圈,所述两个接收线圈配置于能够对所述发送线圈产生的磁通进行补充的位置,基于所述发送线圈在所述检查区域产生的交变磁场来产生感应电压;控制部,其基于两个接收线圈中产生的感应电压之差,来判定在所述检查区域有无金属,并输出判定结果;调整信号输出部,其基于与所述发送信号输出部输出的发送信号同步的基准信号,来生成调整信号并输出该调整信号;以及调整线圈,其配置于所述检查区域,被施加所述调整信号输出部输出的调整信号。2.根据权利要求1所述的金属检测装置,其特征在于,调整信号输出部将改变所述基准信号的振幅、相位以及波形中的至少一个而得到的信号作为调整信号进行输出。3.根据权利要求1或2所述的金属检测装置,其特征在于,所述基准信号是将所述发送信号进行分支而得到的信号。4.根据权利要求2或3所述的金属检测装置,其特征在于,所述控制部调整由调整...

【专利技术属性】
技术研发人员:森山淳児野村实
申请(专利权)人:世高株式会社
类型:发明
国别省市:

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