用于检测存储器阵列层面的检测电路制造技术

本申请涉及用于检测存储器阵列的层面的检测电路。如所描述，装置可包含检测电路以检测存储器阵列的层面。所述层面可包含：耦合在逻辑高电压节点与所述检测电路之间的导电标识符；耦合到所述检测电路的控制电路。所述控制电路可执行操作，包含将测试启用信号传输到所述检测电路。所述检测电路可响应于所述测试启用信号而生成指示存在所述层面的所述导电标识符的有效信号。所述操作还可包含所述控制电路从所述检测电路接收所述有效信号，及至少部分地基于所述有效信号调整与所述存储器阵列相关联的存储器操作。列相关联的存储器操作。列相关联的存储器操作。

【技术实现步骤摘要】
用于检测存储器阵列层面的检测电路


[0001]本公开涉及存储器，且具体来说，涉及用于检测存储器阵列的层面的检测电路。

技术介绍

[0002]本部分旨在向读者介绍可能与以下描述及/或要求保护的本技术的各个方面相关的技术的各个方面。相信此论述有助于向读者提供背景信息以促进对本公开的各方面的更好理解。因此，应理解，应鉴于此来阅读这些陈述，而不是作为对现有技术的认可。
[0003]一般来说，计算系统包含处理电路，例如一或多个处理器或其它合适的组件；及存储器装置，例如芯片或集成电路。一或多个存储器装置可在存储器模块，例如双列直插式存储器模块(DIMM)上使用，以存储处理电路可存取的数据。举例来说，基于到计算系统的用户输入，处理电路可请求存储器模块检索对应于来自其存储器装置的用户输入的数据。在一些例子中，检索到的数据可包含固件，或可由处理电路执行以实施操作的指令，及/或可包含将用作所述操作的输入的数据。另外，在一些情况下，从所述操作输出的数据可存储在存储器中，例如使得后续能够从所述存储器检索所述数据。
[0004]存储器装置中的一些包含可通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种装置，其包括：检测电路，其包括锁存电路；及存储器阵列的层面，其中所述层面包括被布置成耦合在逻辑高电压节点与所述锁存电路之间的导电标识符；及控制电路，其耦合到所述检测电路，其中所述控制电路经配置以执行包括以下项的操作：将测试启用信号传输到所述检测电路，其中所述检测电路经配置以响应于所述测试启用信号而生成指示存在所述层面的所述导电标识符的有效信号；从所述锁存电路接收所述有效信号；及至少部分地基于所述有效信号调整与所述存储器阵列相关联的存储器操作。2.根据权利要求1所述的装置，其中所述控制电路经配置以至少部分地基于所述存储器阵列的层面的数目调整所述存储器操作，其中所述控制电路经配置以使用所述有效信号来确定所述存储器阵列的层面的所述数目。3.根据权利要求1所述的装置，其中所述层面包括安置于同一平面中的多个存储器单元，其中所述多个存储器单元的子集共享至少一个字线及至少一个位线。4.根据权利要求1所述的装置，其中所述控制电路经配置以响应于至少所述检测电路的通电而生成所述测试启用信号。5.根据权利要求1所述的装置，其中所述检测电路包括多个反相器，其中所述检测电路经配置以至少部分地基于逻辑门而检测所述层面的所述存在及所述存储器阵列的额外层面的存在，所述逻辑门在所述存储器阵列包括所述层面和所述额外层面时输出逻辑低信号。6.根据权利要求1所述的装置，其中所述检测电路包括响应于所述测试启用信号及复位信号的组合而切换输出的逻辑门，其中所述操作包括响应于所述控制电路确定复位由所述锁存电路保持的状态而生成所述复位信号。7.根据权利要求1所述的装置，其中所述检测电路包括将所述锁存电路的输出耦合到所述锁存电路的输入的反馈路径，其中所述反馈路径可经配置以存储对应于所述有效信号的值。8.根据权利要求7所述的装置，其中所述操作包括当所述反馈路径存储对应于所述有效信号的所述值时停用所述测试启用信号。9.根据权利要求1所述的装置，其包括多个检测电路，其中所述存储器阵列包括除了所述组织外的多个层面，其中所述多个层面中的每个相应层面包括耦合在所述逻辑高电压节点与所述多个检测电路的相应检测电路之间的相应导电标识符。10.一种方法，其包括：通过控制电路将测试启用信号传输到检测电路，其中所述检测电路经配置以响应于所述测试启用信号而生成指示存在存储器阵列的层面的有效信号，其中所述层面包括耦合到逻辑高电压节点与所述检测电路之间的导电标识符；通过所述控制电路从所述检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：B，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：