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本申请涉及用于检测存储器阵列的层面的检测电路。如所描述，装置可包含检测电路以检测存储器阵列的层面。所述层面可包含：耦合在逻辑高电压节点与所述检测电路之间的导电标识符；耦合到所述检测电路的控制电路。所述控制电路可执行操作，包含将测试启用信号传...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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