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鉴定结构的方法技术

技术编号:30414983 阅读:12 留言:0更新日期:2021-10-24 16:28
描述了一种样品分析方法。该方法包括提供具有上表面和下表面的样品支架,该上表面具有与其相关联的等离子体层,该等离子体层包括周期性亚微米结构阵列。样品被施加到样品支架并被照射。在基于接收到的光的颜色形成的图像中,样品的至少一个局部结构性质是可见的。该方法包括使用该形成的图像来控制后续分析过程。该后续分析过程可以是另一种显微术过程,比如TEM、SEM等。SEM等。SEM等。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】鉴定结构的方法


[0001]本披露内容涉及显微术、组织学和病理学领域。在一种形式中,本披露内容提供了使用光学显微镜和增强的样品支架执行组织学的系统和方法。

技术介绍

[0002]以拉筹伯大学名义的PCT/AU2018/050496(其全部内容通过引用并入本文)披露了光学显微术的系统和方法,这些系统和方法通过使用具有等离子体层的样品支架提供了增强的图像对比度,该等离子体层包括周期性亚微米结构阵列。在本披露内容中,提及纳米载玻片是指根据PCT/AU2018/050496或申请人于2018年11月29日提交的专利技术名称为“Microscopy method and system[显微术方法和系统]”的共同未决澳大利亚专利申请2018904553以及要求与本申请同一天提交的AU2018904553的优先权的国际专利申请的教导的样品支架,这两个申请的内容出于所有目的通过引用并入本文。使用这种样品支架的显微术方法在本文中称为组织等离子体(histoplasmonics)或颜色对比度显微术,缩写为CCM。样品被放置在该样品支架上、邻近等离子体层。在使用中,用光(通常是宽带白光)照射样品和样品支架并产生样品的图像。专利技术人已经观察到,通过光与样品和等离子体层的相互作用,在生成的图像中可能会表现出颜色对比度。特别地,样品中具有不同介电常数的区域以不同颜色显现在图像中。还实现了强度对比度。与此相反,使用染色样品从常规光学显微术获得的图像通常仅表现出与所使用的染色相对应的单一颜色的强度对比度。
[0003]使用这种类型的纳米载玻片的一个好处是,可以在不染色的情况下和/或通过相对薄的样品显示颜色对比度。

技术实现思路

[0004]本专利技术人已经意识到,纳米载玻片的使用能够对显微技术进行有效的改进,这些显微技术利用了这些独特优点中的一个或两个独特优点。
[0005]在第一方面,提供了一种选择样品的关注区域用于后续分析过程的方法。该方法可以包括:
[0006]提供具有上表面面和下表面的样品支架,该上表面具有与其相关联的等离子体层,该等离子体层包括周期性亚微米结构阵列;
[0007]将待确定关注区域的样品施加到该样品支架的上表面;
[0008]用光照射该样品,使得所述光与该样品和该样品支架相互作用;
[0009]使用所述光在与所述样品和样品支架相互作用之后形成图像,其中,基于接收到的光的颜色,该样品的至少一个局部结构性质在该图像中是可见的;以及
[0010]至少部分地基于该样品的至少一部分的颜色,选择施加到该样品支架的所述样品的关注区域。
[0011]该局部结构性质优选地是该样品在某一位置处的介电常数。
[0012]该方法可以包括对与所选有关区域相对应的后续分析样品执行后续分析。
[0013]选择关注区域可以包括对该样品的包括该关注区域的部分进行切片,以产生与所选关注区域相对应的后续分析样品。
[0014]在另一个方面,本专利技术提供了一种样品分析方法,该方法包括:
[0015]提供具有上表面和下表面的样品支架,该上表面具有与其相关联的等离子体层,该等离子体层包括周期性亚微米结构阵列;
[0016]将该样品施加到该样品支架的上表面;
[0017]用光照射该样品,使得所述光与该样品和该样品支架相互作用;
[0018]使用所述光在与所述样品和样品支架相互作用之后形成图像,其中,基于所接收到的光的颜色,该样品的至少一个局部结构性质在该图像中是可见的;以及
[0019]使用所形成的图像来控制后续分析过程。
[0020]使用所形成的图像来控制后续分析过程可以包括以下中的一项或多项:
[0021]定义该后续分析中使用的一个或多个基准点和/或坐标系,
[0022]选择样品的区域用于进一步分析;以及
[0023]确定所述后续分析的顺序或时间表。
[0024]在上述任一方面的一些实施例中,该方法可以包括选择施加到该样品支架的所述样品的关注区域,以及对与所选关注区域相对应的后续分析样品执行后续分析。选择该样品的关注区域可以包括对该样品的包括所选关注区域的部分进行切片,以产生与所选关注区域相对应的后续分析样品。
[0025]在第一方面或第二方面的一些实施例中,与所选关注区域相对应的后续分析样品能够是在空间上与所选关注区域相对应的、从同一组织样品获取的不同样品。例如,后续分析样品可以是在平面视图中基本上在空间上与所选关注区域相对应的、源自同一组织样品的、其邻近的或接近邻近的切片中的样品。
[0026]该样品可以用作该后续分析样品。
[0027]在上述方面的一些实施例中,该后续分析过程是后续成像过程。在优选实施例中,该后续分析过程是后续显微术过程。
[0028]在一些实施例中,该后续显微术过程是光学显微术过程。
[0029]在一些实施例中,该后续显微术过程是电子显微术过程。
[0030]在一些实施例中,该后续显微术过程是扫描探针显微术过程。
[0031]在一些实施例中,该后续显微术过程是X射线显微术过程。
[0032]该后续分析过程可以是TEM过程。
[0033]在第一方面或第二方面的一些实施例中,该方法包括确定所述后续分析的顺序或时间表。该方法可以包括优先地在关注区域上执行该后续分析。该方法可以包括仅在关注区域上执行该后续分析。替代性地,该方法包括在不是关注区域的其他区域之前对关注区域执行该后续分析。
[0034]在第一方面或第二方面的一些实施例中,该方法可以包括从该样品传递一个或多个基准点和/或坐标系,用于在该后续分析中使用。该方法可以包括物理标记出一个或多个基准点。替代性地,该方法可以包括在使用所述光形成图像时使用的参考系与执行该后续分析时使用的参考系之间对齐现有基准点或坐标系。例如,可以相对于与样品支架相关的一个或多个基准点或坐标系来确定样品的取向。
[0035]在另一个方面,提供了一种分析样品的方法,所述方法包括提供包括关注区域的样品;其中,在基于关注区域的后续分析之前,根据本披露内容的第一方面的实施例选择关注区域。
[0036]该分析过程可以是后续成像过程。该成像过程可以是显微术过程。
[0037]在一些实施例中,该后续显微术过程是光学显微术过程。
[0038]在一些实施例中,该后续显微术过程是电子显微术过程。
[0039]在一些实施例中,该后续显微术过程是扫描探针显微术过程。
[0040]在一些实施例中,该后续显微术过程是X射线显微术过程。
[0041]该后续显微术过程可以是TEM过程。
[0042]在另一方面,提供了一种使用上述任一方面的实施例来形成图像的系统。该系统可以包括显微镜,该显微镜具有图像形成系统、照射系统、以及样品支架,该样品支架具有上表面和下表面,该上表面具有与其相关联的等离子体层,该等离子体层包括周期性亚微米结构阵列。该系统可以包括图像捕获系统以用于产生该样品本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种样品分析方法,该方法包括:提供具有上表面和下表面的样品支架,该上表面具有与其相关联的等离子体层,该等离子体层包括周期性亚微米结构阵列;将该样品施加到该样品支架的上表面;用光照射该样品,使得所述光与该样品和该样品支架相互作用;使用所述光在与所述样品和样品支架相互作用之后形成图像,其中,基于所收到的光的颜色,该样品的至少一个局部结构性质在该图像中是可见的;以及使用所形成的图像来控制后续分析过程。2.如权利要求1所述的方法,其中,使用所形成的图像来控制后续分析过程包括以下中的一项或多项:定义该后续分析中使用的一个或多个基准点和/或坐标系,选择样品的区域用于进一步分析;以及确定所述后续分析的顺序或时间表。3.一种选择样品的关注区域用于后续分析过程的方法,该方法包括:提供具有上表面面和下表面的样品支架,该上表面具有与其相关联的等离子体层,该等离子体层包括周期性亚微米结构阵列;将待确定关注区域的样品施加到该样品支架的上表面;用光照射该样品,使得所述光与该样品和该样品支架相互作用;使用所述光在与所述样品和样品支架相互作用之后形成图像,其中,基于接收到的光的颜色,该样品的至少一个局部结构性质在该图像中是可见的;以及至少部分地基于该样品的至少一部分的颜色,选择施加到该样品支架的所述样品的关注区域。4.如权利要求3所述的方法,其中,该方法进一步包括对与所选关注区域相对应的后续分析样品执行后续分析。5.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中,该方法包括:选择施加到该样品支架的所述样品的关注区域,以及对与所选关注区域相对应的后续分析样品执行后续分析。6.如权利要求3或5所述的方法,其中,选择该样品的关注区域包括对该样品的包括所选关注区域的部分进行切片,以产生与所选关注区域相对应的后续分析样品。7.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中,与所选关注区域相对应的后续分析样品能够是在空间上与所选关注区域相对应的、从同一组织样品获取的不同样品。8.如权利要求7所述的方法,其中,该后续分析样品是在平面视图中基本上在空间上与所选关注区域相对应的、源自同一组织样品的其邻近的或接近邻近的切片中的样品。9.如权利要求1至6中任一项所述的方法,其中,该样品用作该后续分析样品。10.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中,该后续分析过程是后续成像过程。11.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中,该后续分析过程是后续显微术过程。12.如权利要求11所述的方法,其中,该后续显微术过程包括以下中的至...

【专利技术属性】
技术研发人员:B
申请(专利权)人:乐卓博大学
类型:发明
国别省市:

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