用于分析显示装置的系统及其颜色分析方法制造方法及图纸

公开了一种用于分析显示装置的系统及其颜色分析方法，该系统包括：图像拍摄装置，其被配置为拍摄从要检查的显示装置输出的用于检查的图像，并且从拍摄到的图像中获得用于检查的RGB值；以及检查控制单元，其被配置为通过使用先前准备的颜色转换函数将用于检查的RGB值转换为CIE XYZ值，并且通过使用经转换的CIE XYZ值来确定要检查的显示装置的缺陷。XYZ值来确定要检查的显示装置的缺陷。XYZ值来确定要检查的显示装置的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
用于分析显示装置的系统及其颜色分析方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2020年4月10日提交韩国知识产权局的韩国专利申请第10
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2020
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0044219号的优先权和权益，其整体内容通过引用合并且于此。


[0003]本专利技术涉及用于分析显示装置的系统及其颜色分析方法，并且例如涉及通过使用图像拍摄装置来分析显示装置的系统及其颜色分析方法。

技术介绍

[0004]显示装置是应用于电视、监视器、以及智能电话等以输出能够通过用户的眼睛观看的图像的装置。显示装置可以分为自身发光的发光型和利用外部光工作的光接收型。
[0005]发光型显示装置包括阴极射线管(CRT)、等离子体显示面板(PDP)、有机发光二极管(OLED)、有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)、以及量子点发光二极管(QLED)等。光接收型显示装置包括典型的液晶显示器(LCD)。
[0006]在这些显示装置中，OLED显示面板具有宽视角、优异的对比度和高响应速度的优点，因此OLED显示面板近来已被广泛用在便携式显示装置、智能电话、以及平板电脑等中，并且通过扩大而作为下一代显示装置引起了关注。
[0007]特别地，OLED显示面板的优点在于，与无机发光显示装置相比，诸如亮度、驱动电压和响应速度等的特性优异，并且可以进行多色化。
[0008]在OLED显示装置的情况下，提供了基板，在制造过程中薄膜晶体管(TFT)层通过各种薄膜形成工艺、以及刻蚀工艺等形成在基板中。在TFT层上形成由下电极、有机膜层(例如，空穴传输层、发光层和电子传输层)和上电极形成的有机发光层，然后通过使用封装基板来封装形成有TFT层和有机发光层的基板以完成OLED显示装置。
[0009]同时，对于各种最终完成的包括OLED的显示装置，可以对在基板上形成的单元执行检查处理，并且用于查验产品是否良好的检查处理包括对被施加检查信号的TFT层进行功能检查、校正电路检查、图像质量检查、光谱检查、图像检查、以及表面异物检查等，并且已经开发了用于处理各个检查处理的各种设备。
[0010]在现有检查处理中的图像质量检查和图像检查的情况下，凭借由颜色信号生成器传送到参考显示装置的第一RGB值、通过使用光谱仪拍摄从参考显示装置输出的调色板而测量的CIE XYZ值以及通过使用相机装置拍摄参考显示装置的调色板而测量的第二RGB值之间的关系来创建转换表。在此，CIE XYZ值是国际照明委员会定义的颜色空间标准的代表示例。
[0011]之后，使用拍摄设备对要检查的对象(显示装置)进行拍摄，并且从显示装置测量的RGB值利用预先创建的转换表被转换为CIE XYZ值。
[0012]然而，由于RGB值是通过根据拍摄装置的灵敏度对进入拍摄装置的光的波长进行积分而获得的数字值，因此在没有限制条件的情况下，则难以将RGB值转换为作为标准颜色
坐标的CIE XYZ值。
[0013]特别地，反射从普通光源(发光)发出的光的光接收型显示装置的光的波长与从发光型显示装置输出的光的波长有很大不同，使得难以使用两种波长作为基准。
[0014]为了解决该问题，需要将用于校准(参考)的显示装置和要检查的显示装置限制为相同类型并且执行精确的校准。

技术实现思路

[0015]致力于本专利技术以提供一用于分析显示装置的系统以及其颜色分析方法，该系统对发光显示装置(有机发光二极管(OLED)、量子点发光二极管(QLED)、以及有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)等)同时执行整体图像拍摄、颜色测量和颜色分析，使得可以快速测量颜色并且提高检查效率。
[0016]本专利技术的一示例性实施方式提供了一种用于分析显示装置的系统，该系统包括：图像拍摄装置，其被配置为拍摄从要检查的显示装置输出的用于检查的图像，并且从拍摄到的图像中获得用于检查的RGB值；以及检查控制单元，其被配置为通过使用先前准备的颜色转换函数将用于检查的RGB值转换为用于检查的CIE XYZ值，以及通过使用经转换的用于检查的CIE XYZ值来确定要检查的显示装置的缺陷。
[0017]要检查的显示装置可以是发光显示装置。
[0018]检查控制单元可以将用于检查的CIE XYZ值与基准CIE XYZ值进行比较，并且根据用于检查的CIE XYZ值与基准CIE XYZ值之间的对应关系来确定要检查的显示装置的缺陷。
[0019]检查控制单元可以包括：检查图像输出单元，其控制要检查的显示装置的输出；通信处理单元，其执行与图像拍摄装置的通信以及接收用于检查的RGB值；以及颜色转换单元，其通过使用颜色转换函数将用于检查的RGB值转换为用于检查的CIE XYZ值。
[0020]该系统还可以包括颜色分析装置，其被配置为拍摄用于校准的显示装置的用于校准的图像以及测量拍摄到的图像的光谱。
[0021]用于校准的显示装置可以是发光显示装置，是与要检查的显示装置的类型相同的类型。
[0022]颜色分析装置可以从光谱中获得光波长并且将所获得的光波长转换成用于校准的CIE XYZ值。
[0023]图像拍摄装置可以拍摄从用于校准的显示装置输出的用于校准的图像并且从拍摄到的图像获得用于校准的RGB值。
[0024]该系统还可以包括校准控制单元，其被配置为通过使用由颜色分析装置获得的用于校准的CIE XYZ值和用于校准的RGB值来计算颜色转换函数。
[0025]校准控制单元可以包括：校准图像输出单元，其控制用于校准的显示装置的输出；通信处理单元，其执行与颜色分析装置或图像拍摄装置的通信，以及接收用于校准的CIE XYZ值和用于校准的RGB值；以及颜色计算单元，其通过使用用于校准的CIE XYZ值和用于校准的RGB值来生成颜色转换函数。
[0026]该系统还可以包括夹具装置，夹具装置包括：安装单元，用于校准的显示装置安装到安装单元；以及固持单元，其设置在面对安装单元的位置，并且颜色分析装置和图像拍摄装置被固持在固持单元中。
[0027]夹具装置可以被配置为连接安装单元和固持单元并且具有允许前后和左右滑动操作的滑动结构。
[0028]该系统还可以包括校准控制单元，校准控制单元被配置为通过凭借控制滑动结构来调整图像拍摄装置的位置，以拍摄用于校准的显示装置的中心部分和外部部分。
[0029]本专利技术的另一示例性实施方式提供了一种用于分析显示装置的系统的分析颜色的方法，该方法包括：用于检查的RGB图像拍摄操作，用于拍摄用于检查的图像并且从拍摄到的图像中获得用于检查的RGB值；以及缺陷检查操作，用于通过使用先前准备的颜色转换函数和用于检查的RGB值来确定用于检查的图像的缺陷。
[0030]该方法还可以包括：用于校准的RGB图像拍摄操作，用于拍摄用于校准的图像并且从拍摄到的图像获得用于校准的RGB值；标准颜色拍摄操作，用于拍摄用于校准的图像并且从拍摄到的图像获得用于校准的CIE XYZ值；以及颜色转换本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于分析显示装置的系统，所述系统包括：图像拍摄装置，其被配置为拍摄从要检查的显示装置输出的用于检查的图像，以及从拍摄到的图像中获得用于检查的RGB值；以及检查控制单元，其被配置为通过使用先前准备的颜色转换函数将用于检查的RGB值转换为用于检查的CIE XYZ值，以及通过使用经转换的用于检查的CIE XYZ值来确定要检查的显示装置的缺陷。2.根据权利要求1所述的系统，其中，要检查的显示装置是发光显示装置。3.根据权利要求1所述的系统，其中，所述检查控制单元将用于检查的CIE XYZ值与基准CIE XYZ值进行比较，并且根据用于检查的CIE XYZ值与所述基准CIE XYZ值之间的对应关系来确定要检查的显示装置的缺陷。4.根据权利要求1所述的系统，其中，所述检查控制单元包括：检查图像输出单元，其控制要检查的显示装置的输出；通信处理单元，其执行与图像拍摄装置的通信以及接收用于检查的RGB值；以及颜色转换单元，其通过使用所述颜色转换函数将用于检查的RGB值转换为用于检查的CIE XYZ值。5.根据权利要求1所述的系统，还包括：颜色分析装置，其被配置为拍摄用于校准的显示装置的用于校准的图像以及测量拍摄到的图像的光谱。6.根据权利要求5所述的系统，其中，用于校准的显示装置是发光显示装置，是与要检查的显示装置的类型相同的类型。7.根据权利要求5所述的系统，其中，所述颜色分析装置从所述光谱中获得光波长，并且将所获得的光波长转换成用于校准的CIE XYZ值。8.根据权利要求7所述的系统，其中，所述图像拍摄装置拍摄从用于校准的显示装置输出的用于校准的图像，并且从拍摄到的图像获得用于校准的RGB值。9.根据权利要求8所述的系统，还包括：校准控制单元，其被配置为通过使用由所述颜色分析装置获得的用于校准的CIE XYZ值和用于校准的RGB值来计算颜色转换函数。10.根据权利要求9所述的系统，其中，所述校准控制单元包括：校准图像输出单元，其控制用于校准的显示装置的输出；通信处理单元，其执行与所述颜色分析装置或图像拍摄装置的通信，以及接收用于校准的CIE XYZ值和用于校准的RGB值；以及颜色计算单元，其通过使用用于校准的CIE XYZ值和用于校准的RGB值来生成所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：金承贤，崔起龙，吴珍熙，李胤赫，
申请(专利权)人：慧理示先进技术公司，
类型：发明
国别省市：