一种用于测量光学晶体的夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于测量光学晶体的夹具，包括底座、设置于所述底座上可在底座上转动的转台、设置有所述转台上的限位块以及设置于所述限位块的锁紧机构，所述转台与所述限位块之间形成用于容纳晶体的晶体室，所述锁紧机构穿过所述限位块上端用于锁紧位于所述晶体室内的晶体。本实用新型专利技术通过改变晶体室与底座的相对位置来旋转调节光学晶体，具有很好的夹持稳定性能以及不同类型晶体通用性。的夹持稳定性能以及不同类型晶体通用性。的夹持稳定性能以及不同类型晶体通用性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量光学晶体的夹具


[0001]本技术涉及一种光学质量检测夹持工装，特别涉及一种用于测量光学晶体的夹具。

技术介绍

[0002]当光线穿过某些晶体(如方解石、铌酸锂、钽酸锂等)时，会折射成两束光。其中一束符合一般折射定律称之为寻常光(简称o光)；而另一束的折射率随入射角不同而改变，称为非常光(简称e光)。一般晶体中总有一个或两个方向，当光在晶体中沿此方向传播时，不发生双折射现象，把这个方向叫做晶体的光轴方向。用干涉仪检测光学晶体的透过光学质量时，需要把光学晶体放置在平行测试光路，调整光学晶体的偏摆保证晶体光轴和测试光轴同轴。
[0003]对于圆柱形的晶体的测量，目前通常用楔形块来夹持被测件，用手轻轻旋转晶体，观察干涉图样，确定旋转角度。现有的楔形块夹持检测加上人工手动旋转晶体的方法虽然较灵活便捷，但是该方法对操作人员的要求比较高，同时稳定性不佳，且不适用于方形的晶体测量，三角楔形块卡住晶体之后，操作人员不能连续的调节旋转角度以便找到晶体的光轴。此外，三角楔形块只能用于放置光学晶体，旋转晶体匹配光轴时，人为旋转时既要旋转，又要保证稳定；对于方形的晶体，由于楔形块的局限性，不能实现连续的调整光轴。

技术实现思路

[0004]技术目的：为了解决现有技术的问题，本技术提供了一种用于测量光学晶体的夹具，通过改变晶体室与底座的相对位置来旋转调节光学晶体，具有很好的夹持稳定性能以及不同类型晶体通用性。
[0005]技术方案：本技术所述的一种用于测量光学晶体的夹具，包括底座、设置于所述底座上可在底座上转动的转台、设置有所述转台上的限位块以及设置于所述限位块的锁紧机构，所述转台与所述限位块之间形成用于容纳晶体的晶体室，所述锁紧机构穿过所述限位块上端用于锁紧位于所述晶体室内的晶体。
[0006]本技术所述的一种优选结构为所述底座上设置有用于容纳转台的圆弧形的限位卡槽。
[0007]本技术所述的一种优选结构为所述转台上端面设置有用于容纳晶体的第一腔体室，所述限位块的下端面向上凸起形成第二腔体室，所述第一腔体室与所述第二腔体室组成晶体室。
[0008]本技术所述的一种优选结构为所述转台上设置有用于固定所述限位块的凹槽。
[0009]本技术所述的一种优选结构为所述转台与所述限位块过盈配合。
[0010]本技术所述的一种优选结构为所述锁紧机构包括设置于所述限位块顶端的螺纹孔、穿过所述螺纹孔的锁紧螺钉。
[0011]有益效果：(1)本技术改变晶体室与底座的相对位置来旋转调节光学晶体，获得很好的夹持稳定性能以及不同类型晶体通用性，操作便捷，解决现有常规楔形块稳定性低、通用性不高等问题；(2)本技术的夹具可用于测量一定尺寸范围的晶体，并能轻松的旋转晶体找到晶体光轴；(3)本技术的稳定性更好，降低了对操作人员的要求。
附图说明
[0012]图1为本技术的结构示意图；
[0013]图2为本技术的结构示意图；
[0014]图3为本技术光学晶体在夹具上配合状态示意图；
[0015]图4为本技术光学晶体在夹具上配合状态示意图；
[0016]图5为本技术光学晶体在夹具上的调整状态示意图；
[0017]图6为本技术光学晶体在夹具上的调整状态示意图。
具体实施方式
[0018]下面结合附图对本技术的方案作出进一步说明。
[0019]如图1和图2所示，本技术所述的用于测量光学晶体的夹具，包括底座1、设置于底座1上可在底座1上转动的转台2、设置有转台2上的限位块3以及设置于限位块3上的锁紧机构4，转台2与限位块3之间形成用于容纳晶体的晶体室5，锁紧机构4 穿过限位块3上端用于锁紧位于晶体室5内的晶体。
[0020]底座1的整体形状可以为实现本技术目的的任一形式，如在本实施例中采用长方体或者方体形块状底座1，底座1为45钢材质，以保证整个治具的稳定性；底座1 上端设置有用于容纳转台2的圆弧形的限位卡槽11，转台2底部的凸台与底座1的限位卡槽11配合实现沿轴连续的滑动，圆弧形的限位卡槽11既固定了转台2，限定了转台2的位置，同样地，由于转台2可在限位卡槽11中左右转动(即在X
‑
Y轴形成的平面中滑动)，实现了位于转台2上的晶体位置的调节，具体地，转台2的截面(X
‑
Y轴平面)呈半圆形，限位卡槽11上表面(弧形曲面)与转台2的下端面之间具有一定的粗糙度，使得转台2和底座1之间存在阻尼，操作者可以轻松的旋转转台2并稳定的停在固定的角度上。
[0021]转台2上端面设置有用于容纳晶体的第一腔体室51，第一腔体室51为转台2上端面内凹形成，为了稳定的放置晶体，第一腔体室51的底面为平面，限位块3的下端面向上凸起形成第二腔体室52，第一腔体室51与第二腔体室52组成晶体室5，即本技术利用转台2和限位块3之间的空间作为晶体室5。
[0022]转台2上设置有用于固定限位块3的凹槽21，转台2和限位块3之间通过凹槽过盈配合。
[0023]锁紧机构4包括设置于限位块3顶端的螺纹孔41、穿过螺纹孔41的锁紧螺钉42，锁紧螺钉和限位块3通过螺纹配合，锁紧螺钉采用聚四氟乙烯材料，其与被测晶体直接接触，可防止镜片划伤；如图3和图4所示，被测件晶体00和晶体01放置在晶体室5 中，通过锁紧螺钉锁紧。
[0024]如图3
‑
6所示，大尺寸的晶体00放置在晶体室5中，调节锁紧螺钉的位置固定住晶体00，如图4所示，小尺寸的晶体01放置在晶体室5中，继续往下调节锁紧螺钉能固定住晶体
01，该装置对一定尺寸范围的被测晶体具有通用性。
[0025]大尺寸的晶体00和小尺寸的晶体01装好固定之后，转台2和底座1之间存在阻尼，操作者可以轻松的旋转转台2并稳定的停在固定的角度上，并能轻松的旋转晶体找到晶体光轴。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测量光学晶体的夹具，其特征在于，包括底座（1）、设置于所述底座（1）上可在底座（1）上转动的转台（2）、设置有所述转台上的限位块（3）以及设置于所述限位块（3）上的锁紧机构（4），所述转台（2）与所述限位块（3）之间形成用于容纳晶体的晶体室（5），所述锁紧机构（4）穿过所述限位块（3）上端用于锁紧位于所述晶体室（5）内的晶体。2.根据权利要求1所述的用于测量光学晶体的夹具，其特征在于，所述底座（1）上设置有用于容纳转台（2）的圆弧形的限位卡槽（11）。3.根据权利要求1所述的用于测量光学晶体的夹具，其特征在于，所述转台（2）上端面设置有用...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘凤鸣，胡芬，
申请(专利权)人：南京英特飞光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：