一种金属材料检测用晶粒度测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种金属材料检测用晶粒度测试装置，包括支撑柱，支撑柱的顶端转动连接有金相显微镜，金相显微镜的底端套接有摄像头，支撑柱的内部电性连接有图像传感器，支撑柱的底端固定连接有转杆，支撑柱的外侧套接有副箱，副箱的顶部固定连接有套筒，套筒的顶部贯穿有金属软管，金属软管的顶端固定连接有喷嘴，套筒的内部安装有转动马达，转动马达的输出端套接有扇叶，本实用新型专利技术解决了现有的晶粒度测试装置在使用过程中使用者需一边转动结构调节载物台与物镜间的距离一边使用目镜观察使得调节距离的过程费时导致装置测试晶粒度的效率低、装置死角处的灰尘不同意被清理出使得装置清理不够干净影响装置后续使用的问题。问题。问题。

【技术实现步骤摘要】
一种金属材料检测用晶粒度测试装置


[0001]本技术涉及晶粒度测试装置
，具体为一种金属材料检测用晶粒度测试装置。

技术介绍

[0002] 晶粒度是表示晶粒大小的尺度，常用的表示方法有单位体积的晶粒数目，单位面积内的晶粒数目或晶粒的平均线长度，金属结晶时，每个晶粒都是由一个晶核长大而成的，因此晶粒的大小取决于晶核的数目和晶粒长大速度的相对大小，晶粒度数值的大小会影响金属冷却后所获得的产物的组织和性能。但现有的晶粒度测试装置在使用过程中，使用者需一边转动结构调节载物台与物镜间的距离一边使用目镜观察，使得调节距离的过程费时，导致装置测试晶粒度的效率低；另外还存在装置在对装置进行清灰时，位于装置死角处的灰尘不易被清理出，使得装置清理得不够干净，影响装置后续使用的问题，为此我们提出一种金属材料检测用晶粒度测试装置。

技术实现思路

[0003] 本技术提供了一种金属材料检测用晶粒度测试装置，调整方便、测试准确度高。
[0004] 为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种金属材料检测用晶粒度测试装置，包括支撑柱，所述支撑柱的顶端转动连接有金相显微镜，所述金相显微镜的底端套接有摄像头，所述支撑柱的内部电性连接有图像传感器，所述支撑柱的底端固定连接有转杆，所述支撑柱的外侧套接有副箱，所述副箱的顶部固定连接有套筒，所述套筒的顶部贯穿有金属软管，所述金属软管的顶端固定连接有喷嘴，所述套筒的内部安装有转动马达，所述转动马达的输出端套接有扇叶，所述扇叶的正上方粘接有滤网，所述副箱的侧面固定连接有主箱，所述主箱的顶部固定连接有平台，所述平台的顶部滑动连接有透明玻璃板.所述透明玻璃板的内部电性连接有灯管，所述主箱的内部安装有电动推杆，所述电动推杆的侧面电性连接有信号传感器，所述主箱的侧面电性连接有信号线，所述主箱的底部固定连接有底座。
[0005]进一步优选的，所述金属软管的伸缩长度范围在十厘米以内，所述金属软管的外表面涂有防腐涂料，所述金属软管贯穿于套筒的顶部。
[0006]进一步优选的，所述套筒的内部镂空，所述套筒的底部电性连接有蓄电池，所述套筒与副箱固定连接。
[0007]进一步优选的，所述透明玻璃板位于平台顶部的正中位置，所述透明玻璃板为可拆卸式结构，所述透明玻璃板的厚度与平台的厚度相同。
[0008]进一步优选的，所述电动推杆的顶端固定连接有卡块，所述电动推杆的底部与主箱内侧的底部齐平，所述电动推杆安装于主箱的内部。
[0009]进一步优选的，所述灯管的数量为三根，三根所述灯管的间距相等，三根所述灯管
均与透明玻璃板电性连接。
[0010]本技术测试装置，通过设置的透明玻璃板和电动推杆，使用前，将本装置接通外接电源，此时可将待测金属的薄片放置在平台顶部的透明玻璃板上，接着打开透明板底部的灯管，使得光线穿过透明玻璃板顶部的反光板照射在金属薄片的顶部，此时可通过金相显微镜观察放置在透明板顶部的金属薄片，同时可根据观察需要启动电动推杆，使得电动推杆带动透明玻璃板底部的卡块推升，带动透明玻璃板顶部的金属薄片推升，使得观察距离相对应发生变化，当达到较佳观察距离时，停止抬升透明玻璃板，此种结构设计能够减少调节观察距离过程的耗时，提高本装置测试的效率。该种金属材料检测用晶粒度测试装置，通过设置的套筒和金属软管，在完成本装置的使用后，先将金属薄片从透明玻璃板的顶部取下，接着启动套筒内侧的转动马达，使得转动马达带动套接在输出端的扇叶转动，使得扇叶将使得气流穿过滤网并吹向顶部套接的金属软管内，然后沿着金属管的内壁飘向顶端的喷嘴，此时使用者可握住金属软管顶端的喷嘴，将喷嘴对准装置上显微镜的目镜以及透明玻璃板与平台交接处等容易沾灰的地方，使得灰尘被喷嘴喷出的气流吹走，此种结构设计能够使得装置死角处的灰尘清理更加干净，避免对装置的后续使用产生影响。
附图说明
[0011]图1是本技术的整体结构示意图；
[0012]图2是本技术的主箱剖视图；
[0013]图3是本技术的副箱剖视图；
[0014]图中：1、金相显微镜；101、摄像头；2、支撑柱；201、图像传感器；202、转杆；3、金属软管；301、喷嘴；4、套筒；401、转动马达；402、扇叶；403、滤网；5、平台；6、透明玻璃板；601、灯管；7、主箱；701、电动推杆；702、信号传感器；703、信号线；8、底座；9、副箱。
[0015]本技术中的仪器均可通过市场购买和私人定制获得：金相显微镜：YPC
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x02；摄像头：RER
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USB8MP02G；图像传感器：AR0130CSSC00SPBA0；转动马达：HYX
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4230D24；灯管：NVC
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T5；电动推杆：TF
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12/24；信号传感器：E2E
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X1R5E1。
具体实施方式
[0016]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0017]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0018]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术
语在本技术中的具体含义。
[0019]请参阅图1
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3，本技术提供一种技术方案：一种金属材料检测用晶粒度测试装置，包括支撑柱2，支撑柱2的顶端转动连接有金相显微镜1，金相显微镜1的底端套接有摄像头101，支撑柱2的内部电性连接有图像传感器201，支撑柱2的底端固定连接有转杆202，支撑柱2的外侧套接有副箱9，副箱9的顶部固定连接有套筒4，套筒4的顶部贯穿有金属软管3，金属软管3的顶端固定连接有喷嘴301，套筒4的内部安装有转动马达401，转动马达401的输出端套接有扇叶402，扇叶402的正上方粘接有滤网403，副箱9的侧面固定连接有主箱7，主箱7的顶部固定连接有平台5，平台5的顶部滑动连接有透明玻璃板6.透明玻璃板6的内部电性连接有灯管601，主箱7的内部安装有电动推杆701，电动推杆701的侧面电性连接有信号本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金属材料检测用晶粒度测试装置，包括支撑柱，其特征是：所述支撑柱的顶端转动连接有金相显微镜，所述金相显微镜的底端套接有摄像头，所述支撑柱的内部电性连接有图像传感器，所述支撑柱的底端固定连接有转杆，所述支撑柱的外侧套接有副箱，所述副箱的顶部固定连接有套筒，所述套筒的顶部贯穿有金属软管，所述金属软管的顶端固定连接有喷嘴，所述套筒的内部安装有转动马达，所述转动马达的输出端套接有扇叶，所述扇叶的正上方粘接有滤网，所述副箱的侧面固定连接有主箱，所述主箱的顶部固定连接有平台，所述平台的顶部滑动连接有透明玻璃板.所述透明玻璃板的内部电性连接有灯管，所述主箱的内部安装有电动推杆，所述电动推杆的侧面电性连接有信号传感器，所述主箱的侧面电性连接有信号线，所述主箱的底部固定连接有底座。2.根据权利要求1所述的一种金属材料检测用晶粒度测试装置，其特征是：所述金...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾海伟，宋鸿印，李健，
申请(专利权)人：新疆八一钢铁股份有限公司，
类型：新型
国别省市：