本发明专利技术公开了一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器，属于电子测量仪器技术领域。一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器，包括检测箱和设置在测量电路内的检测元件，还包括：温度传感器，设置在检测箱内；放置板，连接在检测箱内；电子元件本体，放置在放置板顶部；夹紧机构，设置在放置板的顶部；自动连接机构，设置在夹紧机构内，用于将电子元件本体连接到测量电路内；加热箱，设置在检测箱内；加热丝，连接在加热箱内；电机，连接在加热箱的侧壁；本发明专利技术可在对电子元件进行固定的过程中，将电子元件自动接入到测量电路内，操作方便，提高了测量的效率，同时可以清理电子元件上的灰尘，提高测量结果的准确率。提高测量结果的准确率。提高测量结果的准确率。
【技术实现步骤摘要】
一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器
[0001]本专利技术涉及电子测量仪器
，尤其涉及一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器。
技术介绍
[0002]电子元件是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点，电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路，例如：放大器、无线电接收机、振荡器等，电阻是电子元件的核心参数之一，电阻主要受到材质、温度等因素的影响，为了测量电子元件的电阻特性，判断出电子元件是否符合质量要求，需要使用电子测量仪器。
[0003]现有的用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器在测量前需要对待测量的电子元件进行固定处理，同时还需要工作人员手动将电子元件连接在测量电路内，操作繁琐，影响测量工作的效率，同时电子元件上可能残留灰尘，容易影响测量结果的准确性。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中的测量仪器在使用的时候操作繁琐、影响测量工作的效率的问题和电子元件上可能残留灰尘，影响测量结果的准确性的问题，而提出的一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器，包括检测箱和设置在测量电路内的检测元件，还包括：温度传感器，设置在检测箱内；放置板，连接在检测箱内；电子元件本体，放置在放置板顶部；夹紧机构，设置在放置板的顶部；自动连接机构，设置在夹紧机构内，用于将电子元件本体连接到测量电路内；加热箱，设置在检测箱内；加热丝，连接在加热箱内；电机，连接在加热箱的侧壁；抽气扇，连接在电机的输出端上；补气机构，设置在加热箱内；其中，所述电机的输出端连接有驱动补气机构的曲轴。
[0006]为了对电子元件本体进行夹紧，优选的，所述夹紧机构包括转轴和两组夹板，所述放置板的两端均固定连接有竖板，所述转轴转动连接在两组竖板之间，两组所述夹板对称的螺纹连接在转轴上，且两组所述夹板的外壁分别与电子元件本体的两侧外壁相抵。
[0007]为了在夹紧电子元件本体的同时将电子元件本体连接到测量电路内，进一步的，所述自动连接机构包括滑板、连接壳、连接板、第一磁铁、卡紧板、第二磁铁和导电片，所述滑板固定连接在夹板的侧壁，所述连接壳固定连接在滑板的侧壁，所述连接壳内设有第一滑槽和第二滑槽，所述连接板滑动连接在第一滑槽内，所述第二滑槽内固定连接有导向杆，所述卡紧板与导向杆滑动相连，所述电子元件本体的两端均设有导电柱，在所述的连接壳向所述的电子元件本体靠近时，所述的导电柱向所述的连接板靠近并可推动所述的连接板，所述第一磁铁固定连接在连接板上，所述第二磁铁固定连接在卡紧板上，所述导电片设置在卡紧板的侧壁，且所述导电柱与导电片相贴。
[0008]为了在将电子元件本体连接到测量电路内时对电子元件本体外壁进行清理，更进一步的，在所述的连接壳向所述的电子元件本体靠近时，所述的导电柱向驱动板靠近并可推动所述的驱动板，所述连接壳内转动连接有第一连接轴和第二连接轴，所述第一连接轴上固定连接有第一齿轮，所述第二连接轴上固定连接有第二齿轮，所述驱动板上设与与第一齿轮啮合相连的第一齿条，所述第一连接轴和第二连接轴之间连接有锥齿轮组，所述连接壳内转动连接有与导电柱位置对应的套环，所述套环的外壁设有与第二齿轮相啮合的第二齿条，所述套环内壁设有毛刷。
[0009]为了使滑板能够灵活滑动，更进一步的，所述放置板上设有运动槽，所述运动槽内固定连接有圆杆，所述滑板滑动连接圆杆上。
[0010]为了方便放置电子元件本体，更进一步的，所述检测箱的两侧内壁对称的固定连接有两组支撑板，两组所述支撑板上均设有插槽，两组所述插槽之间滑动连接有抽板，两组所述竖板对称的固定连接在抽板的顶部。
[0011]为了将加热箱内的热空气排入检测箱，优选的，所述加热箱的侧壁固定连接有壳体，所述电机固定连接在壳体内，所述电机的输出端固定连接有驱动轴，所述驱动轴远离电机的一端连接在加热箱内，所述抽气扇固定连接在驱动轴上，所述加热箱的侧壁设有透气孔。
[0012]为了向加热箱内补入空气，进一步的，所述补气机构包括集气筒和活塞，所述集气筒固定连接在加热箱内，所述活塞滑动连接在集气筒内，所述曲轴固定连接在驱动轴上，所述曲轴的外壁转动连接有活塞杆，所述活塞杆远离曲轴的一端转动连接在活塞的顶部，所述集气筒的侧壁分别连接有吸气管和充气管，所述吸气管远离集气筒的一端连接在检测箱外，所述吸气管置于检测箱外的一端连接有滤网。
[0013]为了方便电子元件本体的取出，更进一步的，所述连接壳内滑动连接有挡板，在所述的挡板向连接壳内滑动时可位于第一磁铁和第二磁铁之间，所述连接壳内固定连接有限位板，所述限位板上设有长槽，所述挡板的底部设有滑块，所述滑块滑动连接在长槽内。
[0014]为了便于观察检测数据，优选的，所述检测元件的侧壁连接有显示屏，所述检测箱的外壁设有转门，所述转门上设有与显示屏相配合的透明窗，所述检测箱的内壁设有密封条。
[0015]与现有技术相比，本专利技术提供了一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器，具备以下有益效果：1、该用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器，通过在转轴上螺纹连接两组夹板，可在测量前，通过转轴的转动带动两组夹板与电子元件本体的两侧外壁相抵，对电子元件本体进行固定处理，避免测量时出现晃动。
[0016]2、该用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器，在两组夹板与电子元件本体的外壁相抵的过程中，夹板侧壁的连接壳内的连接板产生滑动并使第一磁铁和第二磁铁靠近，推动卡紧板侧壁的导电片靠近电子元件本体上的导电柱，将电子元件本体接入测量电路，无需人工连接，提高测量效率。
[0017]3、该用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器，在两组夹板与电子元件本体的外壁相抵的过程中，导电柱挤压驱动板，此时驱动板滑动，从而驱动套环转动，套环内壁的毛刷也转动，将导电柱外壁的灰尘进行清理，可在一定程度上减少测量误差。
[0018]该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本专利技术可在
对电子元件进行固定的过程中，将电子元件自动接入到测量电路内，操作方便，提高了测量的效率，同时可以清理电子元件上的灰尘，提高测量结果的准确率。
附图说明
[0019]图1为本专利技术提出的一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器的立体图；图2为本专利技术提出的一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器的结构示意图；图3为本专利技术提出的一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器的图2中A部分放大图；图4为本专利技术提出的一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器的的图2中B部分放大图；图5为本专利技术提出的一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器的连接壳的内部侧视剖视图；图6为本专利技术提出的一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器的套环的结构示意图。
[0020]图中：1、检测箱；101、转门；102、透明窗；103、检测元件；1031、显示屏；104、温度传感器；1本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器，包括检测箱（1）和设置在测量电路内的检测元件（103），其特征在于，还包括：温度传感器（104），设置在检测箱（1）内；放置板（302），连接在检测箱（1）内；电子元件本体（4），放置在放置板（302）顶部；夹紧机构，设置在放置板（302）的顶部；自动连接机构，设置在夹紧机构内，用于将电子元件本体（4）连接到测量电路内；加热箱（5），设置在检测箱（1）内；加热丝（501），连接在加热箱（5）内；电机（503），连接在加热箱（5）的侧壁；抽气扇（504），连接在电机（503）的输出端上；补气机构，设置在加热箱（5）内；其中，所述电机（503）的输出端连接有驱动补气机构的曲轴（506）。2.根据权利要求1所述的一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器，其特征在于，所述夹紧机构包括转轴（303）和两组夹板（304），所述放置板（302）的两端均固定连接有竖板（301），所述转轴（303）转动连接在两组竖板（301）之间，两组所述夹板（304）对称的螺纹连接在转轴（303）上，且两组所述夹板（304）的外壁分别与电子元件本体（4）的两侧外壁相抵。3.根据权利要求2所述的一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器，其特征在于，所述自动连接机构包括滑板（305）、连接壳（306）、连接板（308）、第一磁铁（309）、卡紧板（312）、第二磁铁（313）和导电片，所述滑板（305）固定连接在夹板（304）的侧壁，所述连接壳（306）固定连接在滑板（305）的侧壁，所述连接壳（306）内设有第一滑槽（307）和第二滑槽（310），所述连接板（308）滑动连接在第一滑槽（307）内，所述第二滑槽（310）内固定连接有导向杆（311），所述卡紧板（312）与导向杆（311）滑动相连，所述电子元件本体（4）的两端均设有导电柱，在所述的连接壳（306）向所述的电子元件本体（4）靠近时，所述的导电柱向所述的连接板（308）靠近并可推动所述的连接板（308），所述第一磁铁（309）固定连接在连接板（308）上，所述第二磁铁（313）固定连接在卡紧板（312）上，所述导电片设置在卡紧板（312）的侧壁，且所述导电柱与导电片相贴。4.根据权利要求3所述的一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器，其特征在于，在所述的连接壳（306）向所述的电子元件本体（4）靠近时，所述的导电柱向驱动板（315）靠近并可推动所述的驱动板（315），所述连接壳（306）内转动连接有第一连接轴和第二连接轴，所述第一连接轴上固定连接有第一齿轮（316），所述第二连接轴上固定连接有第二齿轮（317），所述驱动板（315）上设与与第一齿轮（316）啮合相连...
【专利技术属性】
技术研发人员：姬煜，
申请(专利权)人：江苏振宁半导体研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：
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