一种光学模组测试治具组件及测试装置制造方法及图纸

技术编号:30222936 阅读:11 留言:0更新日期:2021-09-29 09:43
本实用新型专利技术涉及一种光学模组测试治具组件及测试装置,属于指纹模组测试技术领域。光学模组测试治具组件包括治具和支撑板,支撑板安装在治具上;掩膜板和压紧件,掩膜板通过压紧件压紧在支撑板上,并且压紧件顶端与掩膜板背离支撑板的一侧板面之间的垂直距离小于或者等于0.4mm。测试装置采用上述光学模组测试治具组件。本实用新型专利技术提供的光学模组测试治具组件的P值小于1.2mm,从而满足常规超薄指纹模组进行MT1/MT2二合一测试时的P值要求,故而该光学模组测试治具组件以及测试装置能适用于最新超薄指纹模组进行MT1/MT2二合一测试。最新超薄指纹模组进行MT1/MT2二合一测试。最新超薄指纹模组进行MT1/MT2二合一测试。

【技术实现步骤摘要】
一种光学模组测试治具组件及测试装置


[0001]本技术属于指纹模组测试
,特别涉及一种光学模组测试治具组件及测试装置。

技术介绍

[0002]现有普通光学治具组件P值(芯片与掩膜板表面的最小距离)通常为1.6mm,然而,最新超薄指纹模组进行MT1/MT2二合一测试时的要求P值只有1.2mm,因此要求治具组件的P值最大只能是1.2mm,使用常用的掩膜板以及安装方式,现有的治具组件无法满足要求。具体地,现有技术中的治具组件中,常规光罩板100(也即常规掩膜板)上设置过孔,螺丝4从上至下依次穿过位于常规光罩板100上方的钢片200、常规光罩板100以及均光片300后再螺接于支撑板2上,从而利用钢片200将常规光罩板100以及均光片300压紧在支撑板2上,由于钢片200太薄,因此不能在钢片200上设置沉孔31,故而螺丝4头部只能凸出钢片200上表面。其中,芯片到常规光罩板100之间有治具1加工的最佳最薄厚度0.5mm,常规光罩板100要来回切换,切换预留最少间隙0.3mm,钢片200的厚度0.3mm,螺丝4头部的高度为0.5mm,所有的距离相加0.5+0.3+0.3+0.5=1.6mm,也即现有治具组件的P值为1.6mm,1.6大于1.2,因此现有治具组件不能满足最新超薄指纹模组进行MT1/MT2二合一测试。值得注意的是,本实施例中的P值为芯片靠近常规光罩板100一侧表面与常规光罩板100靠近芯片一侧表面之间的垂直距离。

技术实现思路

[0003]本技术提供一种光学模组测试治具组件及测试装置,用于解决现有技术中的治具组件P值不能满足使用需求的技术问题。
[0004]本技术通过下述技术方案实现:一种光学模组测试治具组件,包括:
[0005]治具和支撑板,所述支撑板安装在所述治具上;
[0006]掩膜板和压紧件,所述掩膜板通过所述压紧件固定在所述支撑板上,并且所述压紧件的顶端与所述掩膜板背离所述支撑板的一侧板面之间的垂直距离小于或者等于0.4mm。
[0007]进一步地,为了更好的实现本技术,所述压紧件顶端与所述掩膜板背离所述支撑板的一侧板面齐平。
[0008]进一步地,为了更好的实现本技术,所述压紧件为螺丝;
[0009]所述掩膜板背离所述支撑板的板面上设有沉孔,所述支撑板上与所述沉孔对应的位置设有螺孔;
[0010]所述螺丝穿过所述沉孔后螺接在所述螺孔中,并且所述螺丝的头部沉入所述沉孔中。
[0011]进一步地,为了更好地实现本技术,所述压紧件包括压块和连接块,所述压块连接在所述连接块的一端;
[0012]所述掩膜板背离所述支撑板的一侧板面两端均设有凹槽;
[0013]每个所述凹槽中分别压装一块所述压块,两块所述连接块均连接在所述支撑板上。
[0014]进一步地,为了更好地实现本技术,所述连接块的另一端连接有安装块,所述安装块通过螺钉连接在所述支撑板上。
[0015]进一步地,为了更好地实现本技术,所述掩膜板包括透明板以及镉粉,所述镉粉通过激光设置在所述透明板的一侧板面上形成若干间隔分布的条纹,相邻两条所述条纹之间的间距相同。
[0016]进一步地,为了更好地实现本技术,所述透明板为苏打玻璃制成的结构件。
[0017]进一步地,为了更好地实现本技术,所述条纹的宽度为a,相邻两条所述条纹之间的间距为b,|a

b|<0.5μm。
[0018]进一步地,为了更好地实现本技术,所述条纹的宽度为0.15
±
0.05mm,相邻两条所述条纹之间的间距为0.15
±
0.05mm。
[0019]本技术还提供一种测试装置,用于测试光学模组,包括上述光学模组测试治具组件。
[0020]本技术相较于现有技术具有以下有益效果:
[0021](1)本技术提供的光学模组测试治具组件包括治具、支撑板、掩膜板以及压紧件,支撑板安装在治具上,掩膜板通过压紧件固定在支撑板上,并且压紧件顶端(也即靠近芯片的一端)与掩膜板背离支撑板一侧板面(也即靠近芯片的板面)之间的垂直距离小于或者等于0.4mm。通过上述结构,本技术提供的治具组件的P值为压紧件顶端与掩膜板背离支撑板的一侧板面之间的垂直距离加上芯片到常规光罩板之间有治具加工的最佳最薄厚度再加上切换预留最少间隙,也即本技术提供的治具组件的P值≤0.4mm+0.5mm+0.3mm=1.2mm,从而使得本技术提供的治具之间能够满足常规超薄指纹模组进行MT1/MT2二合一测试时的P值要求。
[0022](2)本技术提供测试装置采用上述光学模组测试治具组件,因此,该测试装置能够适用于最新指纹模组进行MT1/MT2二合一测试。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1是现有技术中的光学模组测试所用治具组件的结构示意图;
[0025]图2是现有技术中的光学模组测试所用治具组件切面结构示意图;
[0026]图3是现有技术中的螺丝的安装结构示意图;
[0027]图4是本申请中的光学模组测试治具组件的结构示意图(压紧件为螺丝);
[0028]图5是本申请中的光学模组测试治具组件切面结构示意图(压紧件为螺丝);
[0029]图6是申请中的光学模组测试治具组件切面结构示意图(压紧件为压板与连接板以及安装板组成的结构);
[0030]图7是本申请中的掩膜板的局部结构示意图。
[0031]图中:
[0032]1‑
治具;
[0033]2‑
支撑板;
[0034]3‑
掩膜板;31

沉孔;32

凹槽;
[0035]4‑
螺丝;
[0036]5‑
压块;
[0037]6‑
连接块;
[0038]7‑
安装块;
[0039]8‑
条纹;
[0040]100

常规光罩板;200

钢片;300

均光片。
具体实施方式
[0041]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将对本技术的技术方案进行详细的描述。显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式,都属于本技术所保护的范围。
[0042]实施例1:
[0043]本实施例提供一种光学模组测试治具组本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学模组测试治具组件,其特征在于,包括:治具和支撑板,所述支撑板安装在所述治具上;掩膜板和压紧件,所述掩膜板通过所述压紧件固定在所述支撑板上,并且所述压紧件顶端与所述掩膜板背离所述支撑板的一侧板面之间的垂直距离小于或者等于0.4mm。2.根据权利要求1所述的一种光学模组测试治具组件,其特征在于:所述压紧件顶端与所述掩膜板背离所述支撑板的一侧板面齐平。3.根据权利要求1所述的一种光学模组测试治具组件,其特征在于:所述压紧件为螺丝;所述掩膜板背离所述支撑板的板面上设有沉孔,所述支撑板上与所述沉孔对应的位置设有螺孔;所述螺丝穿过所述沉孔后螺接在所述螺孔中,并且所述螺丝的头部沉入所述沉孔中。4.根据权利要求2所述的一种光学模组测试治具组件,其特征在于:所述压紧件包括压块和连接块,所述压块连接在所述连接块的一端;所述掩膜板背离所述支撑板的一侧板面两端均设有凹槽;每个所述凹槽中分别压装一块所述压块,两块所述连接块均连接在所述支撑板上。5.根据权利要求4所述的一种光学模组测试治具组件,其特征在于:所述连接...

【专利技术属性】
技术研发人员:夏子阳王建胡波陈正伟魏闯
申请(专利权)人:昆山丘钛生物识别科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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