非恒包络调制信号的功率测量方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请公开了一种非恒包络调制信号的功率测量方法、装置、电子设备和存储介质。其中方法包括：对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；根据采样数据，计算采样时长内的采样功率值；通过采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；获取目标基带IQ数据段所对应的功率校准值；根据目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。本申请实施例可以在很大程度上降低了测量时间，同时保证了测量精确性，提高了功率测量效率，降低了测试成本。降低了测试成本。降低了测试成本。

【技术实现步骤摘要】
非恒包络调制信号的功率测量方法、装置及电子设备


[0001]本申请涉及无线终端设备性能测试
，尤其涉及一种非恒包络调制信号的功率测量方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前，针对非恒包络调制信号的功率测量而言，由于非恒包络调制信号在连续的周期内其峰值的幅度保持变化，短时间内测量功率会导致功率测量结果误差较大。因此，相关技术中，常用的测量方法就是通过长时间的测量来平均掉非恒包络测量带来的功率误差。但是，这种功率测量方法增加了测量时间，不适用于生产线上的快速大批量测试方式。

技术实现思路

[0003]本申请的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。
[0004]为此，本申请的第一个目的在于提出一种非恒包络调制信号的功率测量方法。该方法可以在很大程度上降低测量时间，同时保证测量精确性，提高功率测量效率，并降低测试成本。
[0005]本申请的第二个目的在于提出另一种非恒包络调制信号的功率测量方法。
[0006]本申请的第三个目的在于提出一种非恒包络调制信号的功率测量装置。
[0007]本申请的第四个目的在于提出另一种非恒包络调制信号的功率测量装置。
[0008]本申请的第五个目的在于提出一种电子设备。
[0009]本申请的第六个目的在于提出一种计算机可读存储介质。
[0010]为达到上述目的，本申请第一方面实施例提出的非恒包络调制信号的功率测量方法，包括：对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；根据所述采样数据，计算所述采样时长内的采样功率值；通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值；根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
[0011]根据本申请的一个实施例中，通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段，包括：以所述采样数据中采样值的数量为单元，将所述整个非恒包络的基带IQ数据划分为多个基带IQ数据段；通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段。
[0012]根据本申请的一个实施例中，通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段，包括：计算所述采样数据中各采样值与每个基带IQ数据段内各IQ数据之间的差值总和，得到多个差值总和；确定所述差值总和中的最小值，并将所述差值总和中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。
[0013]根据本申请的一个实施例中，通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段，包括：根据所述采样数据中各采样值和每个基带IQ数据段内
各IQ数据进行方差计算，得到多个方差；确定所述多个方差中的最小值，并将所述方差中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。
[0014]根据本申请的一个实施例中，获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，包括：基于所述目标基带IQ数据段，从多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值中，确定出所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值。
[0015]根据本申请的一个实施例中，通过以下方式获得所述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准：获取进行功率校准所需的整个包络的基带IQ数据样本；基于所述采样时长和多个采样时间点，将所述基带IQ数据样本划分为多个基带IQ数据样本段；计算所述多个基带IQ数据样本段的功率分别与所述所需的整个非恒包络的平均功率的差值；将得到的多个差值确定为所述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准。
[0016]根据本申请的一个实施例中，根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率，包括：将所述采样时长内的采样功率值减去所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。
[0017]根据本申请的一个实施例中，所述采样时长小于所述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
[0018]为达到上述目的，本申请第二方面实施例提出的非恒包络调制信号的功率测量方法，包括：对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以得到采样基带IQ数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；对所述采样基带IQ数据进行解码，得到采样二进制数据；根据所述采样基带IQ数据，计算所述采样时长内的采样功率值；通过所述采样二进制数据在所述被测件中发射机发送的二进制数据中进行匹配，得到目标二进制数据段；获取所述目标二进制数据段所对应的功率校准值；根据所述目标二进制数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
[0019]根据本申请的一个实施例中，获取所述目标二进制数据段所对应的功率校准值，包括：基于所述目标二进制数据段，从多个二进制数据样本段所对应的功率校准值中，确定出所述目标二进制数据段所对应的功率校准值。
[0020]根据本申请的一个实施例中，通过以下方式获得所述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值：获取进行功率校准所需的二进制数据样本；基于所述采样时长和多个采样时间点，将所述所需的二进制数据样本划分为多个二进制数据样本段；基于所述多个二进制数据样本段所对应的基带IQ数据样本段，计算所述多个二进制数据样本段对应的多个IQ功率；计算所述多个IQ功率分别与整个非恒包络的平均功率的差值；将得到的多个差值确定为所述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值。
[0021]根据本申请的一个实施例中，根据所述目标二进制数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率，包括：将所述采样时长内的采样功率值减去所述目标二进制数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。
[0022]根据本申请的一个实施例中，所述采样时长小于所述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
[0023]为达到上述目的，本申请第三方面实施例提出的非恒包络调制信号的功率测试装
置，包括：采样模块，用于对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；采样功率值计算模块，用于根据所述采样数据，计算所述采样时长内的采样功率值；数据匹配模块，用于通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；功率校准值获取模块，用于获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值；校准模块，用于根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
[0024]根据本申请的一个实施例中，所述数据匹配模块具体用于：以所述采样数据中采样值的数量为单元，将所述整个非恒包络的基带IQ数据划分为多个基带IQ数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种非恒包络调制信号的功率测量方法，其特征在于，包括以下步骤：对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；根据所述采样数据，计算所述采样时长内的采样功率值；通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值；根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段，包括：以所述采样数据中采样值的数量为单元，将所述整个非恒包络的基带IQ数据划分为多个基带IQ数据段；通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段，包括：计算所述采样数据中各采样值与每个基带IQ数据段内各IQ数据之间的差值总和，得到多个差值总和；确定所述多个差值总和中的最小值，并将所述多个差值总和中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段，包括：根据所述采样数据中各采样值和每个基带IQ数据段内各IQ数据进行方差计算，得到多个方差；确定所述多个方差中的最小值，并将所述方差中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，包括：基于所述目标基带IQ数据段，从多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值中，确定出所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，通过以下方式获得所述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值：获取进行功率校准所需的整个包络的基带IQ数据样本；基于所述采样时长和多个采样时间点，将所述基带IQ数据样本划分为多个基带IQ数据样本段；计算所述多个基带IQ数据样本段的功率分别与所述所需的整个非恒包络的平均功率的差值；将得到的多个差值确定为所述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率
校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率，包括：将所述采样时长内的采样功率值减去所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述采样时长小于所述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。9.一种非恒包络调制信号的功率测量方法，其特征在于，包括以下步骤：对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以得到采样基带IQ数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；对所述采样基带IQ数据进行解码，得到采样二进制数据；根据所述采样基带IQ数据，计算所述采样时长内的采样功率值；通过所述采样二进制数据在所述被测件中发射机发送的二进制数据中进行匹配，得到目标二进制数...

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊，于伟，漆一宏，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：发明
国别省市：