一种用于引线电容的低频噪声测试夹具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种用于引线电容的低频噪声测试夹具，包括：底座以及安装在底座内的电路板，所述电路板包括用于测试所述引线电容低频噪声的测试电路，所述测试电路连接有供引线电容插接的测试插座；所述底座上安装有屏蔽结构，用于为所述电路板提供屏蔽测试电路干扰信号和外部干扰信号的空间。通过将电路板安装在底座以及屏蔽结构形成的屏蔽空间内，能够在测试过程中屏蔽夹具内部电路，以及外部干扰信号，提高测试结果的准确性。通过在测试电路上连接的测试插座，使引线电容的安装更加便捷，并且能够准确定位，可有效避免电源引入造成的衰减现象，实现测试过程的可重复性，并极大提高测试结构的准确性。大提高测试结构的准确性。大提高测试结构的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于引线电容的低频噪声测试夹具


[0001]本技术涉及电子元器件可靠性分析领域，尤其涉及一种用于引线电容的低频噪声测试夹具。

技术介绍

[0002]随着现代科技的发展，元器件中电阻、电容尺寸不断缩小、寿命不断增加。在这种背景下之前的高温老化试验等传统的可靠性分析方法所需时间在不断增加，随之带来的成本与时间也在不断增加，因此常常难以满足科研和生产工作的需要。
[0003]基于低频噪声测试技术的可靠性分析手段以其无损、快速的优势体现出重要的研究价值和应用意义，被广泛用于可靠性表征、失效分析、二次筛选，乃至样品性能指标的测试。
[0004]引线电容通常用于印制电路板插装，在电路中起到旁路、滤波、低频耦合等作用，是电子电路中用量最多的元器件种类之一。随着市场需求，人们对引线电容的可靠性提出了更高的要求，低频噪声测试是一种很好的研究手段，具有无损、灵敏度高等优点，可以有效反应器件内在质量和可靠性的优劣，用于诊断器件中的缺陷，因此研究引线电容的噪声测试及利用低频噪声进行缺陷诊断具有重要的意义。
[0005]电子器件内在的噪声，特别是低频噪声能够敏感的反映器件材料、结构及工艺等不同所导致的微观或缺陷差异。因而电子器件低频噪声也可应用于器件质量和可靠性表征的研究。由低频噪声理论可知，半导体器件中的不完整性可引起低频噪声。通过测试具有不完整性的器件的噪声，我们可以获得器件的深能级缺陷能级，俘获界面、缺陷的简并度，以及缺陷的空间分布信息与能量分布等信息。
[0006]由于引线电容的低频噪声与长期可靠性强相关，如果这种相关性在试验和理论上得到完全的确认，那么低频噪声测试就可以用于早期预估计器件的参数漂移失效，预测器件的潜在缺陷，从而成为引线电容长期可靠性评价以及可靠性筛选的新手段。与传统的高温老化评价试验方法比较，这种方法具有快速、经济、无损等突出的优点，因此低频噪声测试是研究引线电容可靠性的一种重要手段。
[0007]但是在低频噪声测试的过程中，经常会由于电源的引入造成衰减现象，以及在测试过程中容易受到外部信号的干扰，严重影响引线电容的测试结果。

技术实现思路

[0008]针对现有技术存在的问题，本技术提供了一种用于引线电容的低频噪声测试夹具，能够有效屏蔽内部电路，避免电源引入的衰减现象，实现测试过程的可重复性，并极大提高测试结构的准确性。
[0009]本技术提供的用于引线电容的低频噪声测试夹具，包括：底座以及安装在底座内的电路板，所述电路板包括用于测试所述引线电容低频噪声的测试电路，所述测试电路连接有供引线电容插接的测试插座；
[0010]所述底座上安装有屏蔽结构，用于为所述电路板提供屏蔽测试电路干扰信号和外部干扰信号的空间。
[0011]进一步，所述测试电路包括用于向所述引线电容提供低噪声电压的电压通路以及用于采集引线电容低频噪声信号的微带线，所述测试插座安装在所述电路板上，并与电压通路及微带线分别连接。
[0012]进一步，所述电路板为PCB板，所述测试插座安装在所述PCB板的中部，所述电压通路与所述微带线均设置在所述PCB板上。
[0013]进一步，在所述电路板上所述电压通路与所述微带线的两侧均设置有接地孔，所述接地孔通过所述底座接地。
[0014]进一步，所述底座上设置有用于连接所述电压通路的输入接头，以及用于连接所述微带线的输出接头。
[0015]进一步，所述输入接头及所述输出接头均采用SMA阴接头。
[0016]进一步，所述测试插座包括主体，所述主体上设置有：
[0017]连接所述电压通路的输入管脚，其用于安装所述引线电容的输入引脚；以及
[0018]连接所述微带线的输出管脚，其用于安装所述引线电容的输出引脚。
[0019]进一步，所述微带线上连接有采样电阻，所述采样电阻为绕线电阻或金属膜电阻。
[0020]进一步，所述屏蔽结构包括金属盒盖，所述金属盒盖覆盖在所述底座上并与底座构成密闭的空间。
[0021]进一步，所述主体材质为塑胶，所述输入管脚以及所述输出管脚均采用金属材质；所述底座及所述金属盒盖的材质均为黄铜。
[0022]本技术中的用于测试引线电容低频噪声的夹具，通过将电路板安装在底座以及屏蔽结构形成的屏蔽空间内，能够在测试过程中屏蔽夹具内部电路，以及外部干扰信号，提高测试结果的准确性。
[0023]通过在测试电路上连接的测试插座，使引线电容的安装更加便捷，并且能够准确定位，可有效避免电源引入造成的衰减现象，实现测试过程的可重复性，并极大提高测试结果的准确性。
附图说明
[0024]在下文中将基于实施例并参考附图来对本技术进行更详细的描述。其中：
[0025]图1为本技术中用于引线电容的低频噪声测试夹具的整体示意图；
[0026]图2为电路板的结构示意图；
[0027]图3为底座的结构示意图；
[0028]图4为测试插座的结构示意图。
[0029]图中：1
‑
底座；2
‑
电路板；3
‑
测试插座；4
‑
引线电容；5
‑
SMA阴接头；6
‑
金属螺钉；7
‑
金属盒盖；8
‑
定位孔；9
‑
接地孔；10
‑
微带线，11
‑
电压通路；12
‑
采样电阻；13
‑
插座定位孔；14
‑
绝缘通道；15
‑
引脚。
[0030]在附图中，相同的部件使用相同的附图标记，附图并未按照实际的比例绘制。
具体实施方式
[0031]为清楚说明本技术的
技术实现思路
，下面结合实施例对本技术进行说明。
[0032]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“水平”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系均为基于附图所示的方位或位置关系，仅仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0033]本技术中引线电容的低频噪声测试，首先由低噪声电源为引线电容提供稳定的低噪声电压，低噪声电压经过电压通路施加在被测引线电容上，根据噪声测试的具体要求，提供偏置电压，使引线电容处于相应的待测状态。在引线电容工作状态稳定后，通过输出端采集低频噪声信号，信号经过低通滤波器滤除高频噪声信号，避免高频对低频信号的干扰，再经过低噪声前置放大器放大，放大后的噪声信号通过数据采集卡进行采集，经模数转换后由噪声分析软件实现噪声信号时域分析、频域分析，如实现数据时域到频域的转换、测量电压功率谱、分析噪声谱分量、点频噪声、宽带噪声、曲线拟合计算噪声信息的白噪声本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于引线电容的低频噪声测试夹具，包括：底座以及安装在底座内的电路板，其特征在于，所述电路板包括用于测试所述引线电容低频噪声的测试电路，所述测试电路连接有供引线电容插接的测试插座；所述底座上安装有屏蔽结构，用于为所述电路板提供屏蔽测试电路干扰信号和外部干扰信号的空间。2.根据权利要求1所述的低频噪声测试夹具，其特征在于，所述测试电路包括用于向所述引线电容提供低噪声电压的电压通路以及用于采集引线电容低频噪声信号的微带线，所述测试插座安装在所述电路板上，并与电压通路及微带线分别连接。3.根据权利要求2所述的低频噪声测试夹具，其特征在于，所述电路板为PCB板，所述测试插座安装在所述PCB板的中部，所述电压通路与所述微带线均设置在所述PCB板上。4.根据权利要求2或3所述的低频噪声测试夹具，其特征在于，在所述电路板上所述电压通路与所述微带线的两侧均设置有接地孔，所述接地孔通过所述底座接地。5.根据权利要求2或3所述的低频噪声测试夹具，...

【专利技术属性】
技术研发人员：何黎，
申请(专利权)人：武汉格物芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：