本申请公开了一种屏体性能测试装置和屏体性能测试方法，屏体性能测试装置包括衬底和连接件，衬底上设置有沿第一方向排列的至少四个端子固定件，各个端子固定件包括沿第二方向排列的多个端子固定位，各端子固定件固定有多个连接端子，各连接端子可拆卸地安装于端子固定位；连接件具有多个连接部，每个连接部用于连接位于沿第一方向相邻的端子固定位的两个连接端子。该屏体性能测试装置可对多个不同屏体与多个不同芯片的不同组合进行测试，从而节省成本。省成本。省成本。
【技术实现步骤摘要】
屏体性能测试装置和屏体性能测试方法
[0001]本申请属于显示设备
，尤其涉及一种屏体性能测试装置和屏体性能测试方法。
技术介绍
[0002]显示装置的屏体包括显示区和至少部分围绕显示区的非显示区，在非显示区通常设置有用于对显示区的显示效果进行测试的屏体输入端子，可将芯片外接于待测屏体的屏体输入端子，以对待测屏体进行屏体性能测试，但是由于不同芯片的端子间距与待测屏体的屏体输入端子的端子间距不匹配，从而难以实现采用不同芯片对待测屏体的屏体性能测试。
技术实现思路
[0003]本申请实施例提供了一种屏体性能测试装置和屏体性能测试方法，该屏体性能测试装置可对多个不同屏体与多个不同芯片的不同组合进行测试，从而节省成本。
[0004]一方面，本申请实施例提供了一种屏体性能测试装置，包括衬底和连接件，所述衬底上设置有沿第一方向排列的至少四个端子固定件，各个所述端子固定件包括沿第二方向排列的多个端子固定位，各所述端子固定件固定有多个连接端子，各所述连接端子可拆卸地安装于所述端子固定位；连接件具有多个连接部，每个所述连接部用于连接位于沿所述第一方向相邻的端子固定位的两个所述连接端子。
[0005]根据本申请的第一方面，所述端子固定件包括沿所述第二方向排列的多个第一固定针组件，每个所述第一固定针组件的一端安装于所述衬底，另一端用于与所述连接端子固定，每个所述第一固定针组件包括至少一个第一固定针。
[0006]根据本申请的第一方面，所述端子固定件包括：
[0007]滑槽，所述滑槽沿所述第二方向延伸，沿所述第一方向、所述滑槽开口的宽度小于所述滑槽底壁的宽度，所述连接端子伸入滑槽的一端沿所述第一方向的宽度大于所述滑槽开口沿所述第一方向的宽度；
[0008]挡块组件，包括用于安装于所述滑槽内且位于相邻所述连接端子间的多个挡块，多个所述挡块中，一部分所述挡块安装于所述滑槽内后沿所述第二方向的长度相同、另一部分所述挡块安装于所述滑槽内后沿所述第二方向的长度不同。
[0009]根据本申请的第一方面，所述端子固定件包括用于与所述衬底压接的压接板，各所述连接端子压接于所述衬底与所述压接板之间。
[0010]根据本申请的第一方面，所述端子固定件包括固定于所述衬底的磁性吸条，所述连接端子与所述磁性吸条磁吸固定。
[0011]根据本申请的第一方面，所述磁性吸条为电磁铁。
[0012]根据本申请的第一方面，所述连接端子包括用于连接测试设备的输出端子的第一连接端子、用于连接芯片信号输入端的第二连接端子、用于连接芯片信号输出端的第三连
接端子以及用于连接待测屏体的屏体输入端子的第四连接端子，用于固定所述第一连接端子的端子固定件、用于固定所述第二连接端子的端子固定件、用于固定所述第三连接端子的端子固定件与所述第四连接端子的端子固定件沿所述第一方向依次排列，所述第一连接端子与所述第二连接端子之间通过所述连接部一一对应连接、所述第三连接端子与所述第四连接端子之间通过所述连接部一一对应连接。
[0013]根据本申请的第一方面，所述第一连接端子、第二连接端子、所述第三连接端子和所述第四连接端子均为替换件。
[0014]根据本申请的第一方面，所述连接部与所述连接端子之间压接固定。
[0015]另一方面，本申请实施例还提供了一种屏体性能测试方法，包括：
[0016]调节第一连接端子的间距与测试设备的输出端子的间距相同，并将所述第一连接端子与所述测试设备的输出端子一一对应连接；
[0017]调节第四连接端的间距与待测屏体的屏体输入端子的间距相同，并将所述第四连接端子与所述待测屏体的屏体输入端子一一对应连接；
[0018]调节第二连接端子的间距与芯片信号输入端的间距相同，并将所述第二连接端子与所述芯片信号输入端一一对应连接，将所述第一连接端与所述第二连接端通过所述连接部一一对应连接；
[0019]调节第三连接端子的间距与芯片信号输出端的间距相同，并将所述第三连接端子与所述芯片信号输出端一一对应连接，将所述第三连接端与所述第四连接端通过所述连接部一一对应连接；
[0020]点亮所述待测屏体并观察测试结果。
[0021]与现有技术相比，本申请提供的屏体性能测试装置中包括衬底和连接件，衬底上设置有至少四个端子固定件，各个端子固定件沿第一方向排列，从而便于将测试设备与芯片、芯片与待测屏体依次连接，各个端子固定件包括沿与第一方向相交的第二方向排列的多个端子固定位，且各个端子固定件上固定有多个连接端子，各个连接端子与各个端子固定位可拆卸连接，可通过调节各个连接端子与不同的端子固定位连接，从而调节不同的连接端子的间距，以适配不同的芯片、待测屏体和测试设备，在采用不同的芯片对待测屏体进行测试时，只需要调节用于与芯片连接的连接端子的间距即可，调节方便，且每个屏体性能测试装置可对多个不同屏体中的任意一个屏体与多个不同芯片中的任意一个芯片的组合进行测试，节省成本。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1是本申请实施例提供的一种屏体性能测试装置的结构示意图；
[0024]图2是图1中的屏体性能测试装置中的部分结构示意图；
[0025]图3是图1中的屏体性能测试装置的左视图；
[0026]图4是图1中的屏体性能测试装置的俯视图；
[0027]图5是本申请实施例提供的另一种屏体性能测试装置的结构示意图；
[0028]图6是图5中的屏体性能测试装置的左视图；
[0029]图7是图5中的屏体性能测试装置的俯视图；
[0030]图8是本申请实施例提供的又一种屏体性能测试装置的结构示意图；
[0031]图9是图8中的屏体性能测试装置的左视图；
[0032]图10是图8中的屏体性能测试装置的俯视图；
[0033]图11是本申请实施例提供的再一种屏体性能测试装置的结构示意图；
[0034]图12是图11中的屏体性能测试装置的左视图；
[0035]图13是图11中的屏体性能测试装置的俯视图；
[0036]图14是本申请实施例提供的一种屏体性能测试方法的流程图。
[0037]附图中：
[0038]1‑
衬底；2
‑
端子固定件；3
‑
端子固定位；4
‑
连接端子；41
‑
第一连接端子；42
‑
第二连接端子；43
‑
第三连接端子；44
‑
第四连接端子；5
‑
连接部；6
‑
第一固定针；7
‑
滑槽；8
‑
压接板；9...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种屏体性能测试装置，其特征在于，包括：衬底，所述衬底上设置有沿第一方向排列的至少四个端子固定件，各个所述端子固定件包括沿第二方向排列的多个端子固定位，各所述端子固定件固定有多个连接端子，各所述连接端子可拆卸地安装于所述端子固定位；连接件，具有多个连接部，每个所述连接部用于连接位于沿第一方向相邻的端子固定位的两个所述连接端子。2.根据权利要求1所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述端子固定件包括沿所述第二方向排列的多个第一固定针组件，每个所述第一固定针组件的一端安装于所述衬底，另一端用于与所述连接端子固定，每个所述第一固定针组件包括至少一个第一固定针。3.根据权利要求1所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述端子固定件包括：滑槽，所述滑槽沿所述第二方向延伸，沿所述第一方向、所述滑槽开口的宽度小于所述滑槽底壁的宽度，所述连接端子伸入滑槽的一端沿所述第一方向的宽度大于所述滑槽开口沿所述第一方向的宽度；挡块组件，包括用于安装于所述滑槽内且位于相邻所述连接端子间的多个挡块，多个所述挡块中，一部分所述挡块安装于所述滑槽内后沿所述第二方向的长度相同、另一部分所述挡块安装于所述滑槽内后沿所述第二方向的长度不同。4.根据权利要求1所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述端子固定件包括用于与所述衬底压接的压接板，各所述连接端子压接于所述衬底与所述压接板之间。5.根据权利要求1所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述端子固定件包括固定于所述衬底的磁性吸条，所述连接端子与所述磁性吸条磁吸固定。6.根据权利要求5所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述磁性吸条为电磁铁。7.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：王守坤，秦韶阳，刘达，
申请(专利权)人：合肥维信诺科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。