本实用新型专利技术涉及半导体测试技术领域，且公开了一种半导体测试装置，包括测试板，所述测试板的内壁顶部与内壁底部之间固定安装有数量为两个的滑轨。该半导体测试装置，通过设置第一触点、第二触点和第三触点，在进行测试时，将测试板的后侧置于桌面上，电源线接电，向左拨动活动板，在安装板上放置半导体被测物，然后缓慢松开活动板，活动板被弹簧推动向右移动，使橡胶块和右侧的移动块夹住半导体被测物，然后向后推动移动板，使第一触点与上方的第二触点接触，使第三触点与下方的第二触点接触，当半导体被测物具有通电性时，提示灯会亮起来完成检测，这样的方式可以加快测试时的安装效率，达到了测试效率高的效果。达到了测试效率高的效果。达到了测试效率高的效果。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试装置
[0001]本技术涉及半导体测试
，具体为一种半导体测试装置。
技术介绍
[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明和大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种，半导体元件一般都会对其通电性进行测试。
[0003]现有的半导体测试装置在进行测试时，操作繁琐复杂，耗时较长，在进行大批量测试时效率不高，这样的测试装置不适宜使用，故而提出一种半导体测试装置来解决上述所提出的问题。
技术实现思路
[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种半导体测试装置，具备测试效率高等优点，解决了现有的半导体测试装置在进行测试时，操作繁琐复杂，耗时较长，在进行大批量测试时效率不高的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述测试效率高的目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体测试装置，包括测试板，所述测试板的内壁顶部与内壁底部之间固定安装有数量为两个的滑轨，所述测试板的内壁顶部固定安装有第一触点，所述滑轨的外侧活动安装有移动块，两个所述移动块之间固定安装有安装板，所述安装板的前侧活动安装有半导体被测物，所述半导体被测物的顶部与底部均电连接有第二触点，左侧所述移动块的右侧固定安装有伸缩杆，所述伸缩杆的右侧固定安装有活动板，所述活动板的左侧固定安装有位于伸缩杆外侧且与左侧所述移动块的右侧固定连接的弹簧，所述活动板的右侧固定安装有橡胶块，两个所述滑轨的外侧均与移动板活动连接，所述移动板的顶部固定安装有第三触点，所述第三触点的底部电连接有贯穿且延伸至测试板底部的电源线，所述测试板的顶部固定安装有提示灯。
[0008]优选的，所述移动块的顶部开设有延伸至其底部的穿孔，穿孔的直径与滑轨的直径相适配。
[0009]优选的，所述橡胶块的数量为两个，两个所述橡胶块均呈对称分布，橡胶块的右侧与半导体被测物接触。
[0010]优选的，所述橡胶块的左侧为圆柱形，橡胶块的右侧为半球形。
[0011]优选的，所述伸缩杆有套杆和内杆组成，内杆活动安装于套杆的内侧，套杆与移动块固定连接，内杆与活动板固定连接。
[0012]优选的，所述滑轨的直径小于移动块前后之间的厚度，移动块前后之间的厚度与
移动板前后之间的厚度相等。
[0013](三)有益效果
[0014]与现有技术相比，本技术提供了一种半导体测试装置，具备以下有益效果：
[0015]该半导体测试装置，通过设置第一触点、第二触点和第三触点，在进行测试时，将测试板的后侧置于桌面上，电源线接电，向左拨动活动板，在安装板上放置半导体被测物，然后缓慢松开活动板，活动板被弹簧推动向右移动，使橡胶块和右侧的移动块夹住半导体被测物，然后向后推动移动板，使第一触点与上方的第二触点接触，使第三触点与下方的第二触点接触，当半导体被测物具有通电性时，提示灯会亮起来完成检测，这样的方式可以加快测试时的安装效率，达到了测试效率高的效果。
附图说明
[0016]图1为本技术结构示意图；
[0017]图2为本技术图1的结构A处放大图。
[0018]图中：1测试板、2滑轨、3第一触点、4移动块、5半导体被测物、6第二触点、7伸缩杆、8活动板、9弹簧、10橡胶块、11移动板、12第三触点、13电源线、14提示灯、15安装板。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]请参阅图1
‑
2，一种半导体测试装置，包括测试板1，测试板1的内壁顶部与内壁底部之间固定安装有数量为两个的滑轨2，滑轨2的直径小于移动块4前后之间的厚度，移动块4前后之间的厚度与移动板11前后之间的厚度相等，测试板1的内壁顶部固定安装有第一触点3，滑轨2的外侧活动安装有移动块4，移动块4的顶部开设有延伸至其底部的穿孔，穿孔的直径与滑轨2的直径相适配，两个移动块4之间固定安装有安装板15，安装板15的前侧活动安装有半导体被测物5，半导体被测物5的顶部与底部均电连接有第二触点6，左侧移动块4的右侧固定安装有伸缩杆7，伸缩杆7有套杆和内杆组成，内杆活动安装于套杆的内侧，套杆与移动块4固定连接，内杆与活动板8固定连接，伸缩杆7的右侧固定安装有活动板8，活动板8的左侧固定安装有位于伸缩杆7外侧且与左侧移动块4的右侧固定连接的弹簧9，活动板8的右侧固定安装有橡胶块10，橡胶块10的数量为两个，两个橡胶块10均呈对称分布，橡胶块10的右侧与半导体被测物5接触，橡胶块10的左侧为圆柱形，橡胶块10的右侧为半球形，两个滑轨2的外侧均与移动板11活动连接，移动板11的顶部固定安装有第三触点12，第三触点12的底部电连接有贯穿且延伸至测试板1底部的电源线13，测试板1的顶部固定安装有提示灯14。
[0021]综上所述，该半导体测试装置，通过设置第一触点3、第二触点6和第三触点12，在进行测试时，将测试板1的后侧置于桌面上，电源线13接电，向左拨动活动板8，在安装板15上放置半导体被测物5，然后缓慢松开活动板8，活动板8被弹簧9推动向右移动，使橡胶块10和右侧的移动块4夹住半导体被测物5，然后向后推动移动板11，使第一触点3与上方的第二
触点6接触，使第三触点12与下方的第二触点6接触，当半导体被测物5具有通电性时，提示灯14会亮起来完成检测，这样的方式可以加快测试时的安装效率，达到了测试效率高的效果，解决了现有的半导体测试装置在进行测试时，操作繁琐复杂，耗时较长，在进行大批量测试时效率不高的问题。
[0022]需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0023]尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体测试装置，包括测试板(1)，其特征在于：所述测试板(1)的内壁顶部与内壁底部之间固定安装有数量为两个的滑轨(2)，所述测试板(1)的内壁顶部固定安装有第一触点(3)，所述滑轨(2)的外侧活动安装有移动块(4)，两个所述移动块(4)之间固定安装有安装板(15)，所述安装板(15)的前侧活动安装有半导体被测物(5)，所述半导体被测物(5)的顶部与底部均电连接有第二触点(6)，左侧所述移动块(4)的右侧固定安装有伸缩杆(7)，所述伸缩杆(7)的右侧固定安装有活动板(8)，所述活动板(8)的左侧固定安装有位于伸缩杆(7)外侧且与左侧所述移动块(4)的右侧固定连接的弹簧(9)，所述活动板(8)的右侧固定安装有橡胶块(10)，两个所述滑轨(2)的外侧均与移动板(11)活动连接，所述移动板(11)的顶部固定安装有第三触点(12)，所述第三触点(12)的底部电连接有贯穿且延伸至测试板(1)底部的电源线(13)，所述测...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨加国，方鹏，
申请(专利权)人：无锡圣堂科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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