一种半导体发光板的检测平台制造技术

本发明专利技术公开了一种半导体发光板的检测平台，其结构包括支撑架、机体、控制面板、检测台，机体和检测台底面焊接在支撑架顶部，由于旋转板上方的发光板受到旋转板的甩力作用位置发生偏移，出现发光板脱离旋转板上表面而掉落在检测台的内底部，通过保护机构的推杆将发光板推动复位，能够对发光板保护，减少发光板受到旋转板的甩力脱离旋转板表面，减少发光板损坏，有利于发光板正常使用，由于旋转板与保护机构之间存在间隙，易出现发光板卡在间隙中的现象，通过在旋转板内部设有扩张板，扩张板受到离心力作用扩张与保护机构底部接触，能够减小旋转板与保护机构之间的间隙，减少发光板卡在间隙中，能够加快旋转板的转动速度。能够加快旋转板的转动速度。能够加快旋转板的转动速度。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体发光板的检测平台


[0001]本专利技术属于半导体发光
，更具体的说，尤其涉及到一种半导体发光板的检测平台。

技术介绍

[0002]半导体发光板具有工作时发热量低等特点，在LED照明领域中广泛应用，采用检测平台对加工完毕的半导体发光板的导电性进行检测，将发光板放置在旋转板上方，电机带动旋转板转动，通过检测器对发光板不断位置的导电性检测；现有技术中采用检测平台对半导体发光板的导电性检测时，当旋转板的转速加快时，旋转板上方的发光板受到旋转板的甩力作用位置发生偏移，出现发光板脱离旋转板上表面而掉落在检测台的内底部，造成发光板损坏，不利于发光板正常使用。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术采用检测平台对半导体发光板的导电性检测时，当旋转板的转速加快时，旋转板上方的发光板受到旋转板的甩力作用位置发生偏移，出现发光板脱离旋转板上表面而掉落在检测台的内底部，造成发光板损坏，不利于发光板正常使用，本专利技术提供一种半导体发光板的检测平台。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术是通过如下的技术方案来实现：一种半导体发光板的检测平台，其结构包括支撑架、机体、控制面板、检测台，所述机体和检测台底面焊接在支撑架顶部，所述控制面板设置在机体上表面，所述检测台位于机体右侧。
[0005]所述检测台包括台体、电机、旋转板、检测器、保护机构，所述电机设置在台体内底部中心位置，所述旋转板底面中部与电机顶端活动配合，所述检测器位于旋转板上方，所述保护机构安装在台体中部内壁，且处于旋转板上方。<br/>[0006]作为本专利技术的进一步改进，所述保护机构包括支撑环、开口、缓冲板、推杆，所述开口内侧面及内壁之间，所述缓冲板嵌套在支撑环内侧表面，所述推杆内端套在开口内部，所述推杆外端固定在支撑环内部靠外侧的内壁位置，且推杆设有十个，所述缓冲板为海绵材质。
[0007]作为本专利技术的进一步改进，所述开口包括套管、伸缩块、限位杆，所述伸缩块分别安装在套管中上位置两侧内壁，所述限位杆底端固定在伸缩块上表面，所述伸缩块为橡胶块材质。
[0008]作为本专利技术的进一步改进，所述推杆包括伸缩杆、支撑球、限位槽、缓冲块，所述支撑球中部嵌固在伸缩杆底端，所述限位槽分别由外往内凹陷在支撑球两侧表面，所述缓冲块上表面与支撑球底面相连接，所述限位槽设有两个，呈对称分布，为凹陷的半圆槽状。
[0009]作为本专利技术的进一步改进，所述缓冲块包括支撑块、底槽、反弹条、反推板，所述底槽凹陷在支撑块底面，所述反弹条顶端固定在底槽内顶部，所述反推板上表面与反弹条底端相连接，所述反推板为硅胶板材质。
[0010]作为本专利技术的进一步改进，所述旋转板包括支板、内腔、支撑条、扩张板，所述内腔由外往内开设在支板外侧表面，所述支撑条内端与内腔内壁相连接，所述扩张板内侧表面与支撑条外端活动配合，所述扩张板设有四个，围绕组成圆圈状，所述扩张板分别和支撑条三条相同的支撑条活动配合。
[0011]作为本专利技术的进一步改进，所述扩张板包括支撑板、配合板、滑动槽、滑动球，所述配合板左侧面固定在支撑板右侧面，所述滑动槽设置在支撑板内部，所述滑动球放置在滑动槽内部，所述滑动球设有两个，且为金属材质。
[0012]作为本专利技术的进一步改进，所述配合板包括伸缩板、连接板、转动环，所述连接板左侧面与伸缩板右侧面连为一体，所述转动环与连接板右侧面铰链连接，所述转动环设有三个。
[0013]有益效果
[0014]与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果：
[0015]1、由于旋转板上方的发光板受到旋转板的甩力作用位置发生偏移，出现发光板脱离旋转板上表面而掉落在检测台的内底部，通过保护机构的推杆将发光板推动复位，能够对发光板保护，减少发光板受到旋转板的甩力脱离旋转板表面，减少发光板损坏，有利于发光板正常使用。
[0016]2、由于旋转板与保护机构之间存在间隙，易出现发光板卡在间隙中的现象，通过在旋转板内部设有扩张板，扩张板受到离心力作用扩张与保护机构底部接触，能够减小旋转板与保护机构之间的间隙，减少发光板卡在间隙中，能够加快旋转板的转动速度。
附图说明
[0017]图1为本专利技术一种半导体发光板的检测平台的结构示意图。
[0018]图2为本专利技术一种检测台内部侧视的结构示意图。
[0019]图3为本专利技术一种保护机构俯视剖面的结构示意图。
[0020]图4为本专利技术一种开口内部俯视的结构示意图。
[0021]图5为本专利技术一种推杆俯视剖面的结构示意图。
[0022]图6为本专利技术一种缓冲块俯视的结构示意图。
[0023]图7为本专利技术一种旋转板俯视剖面的结构示意图。
[0024]图8为本专利技术一种扩张板俯视剖面的结构示意图。
[0025]图9为本专利技术一种配合板俯视的结构示意图。
[0026]图中：支撑架
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1、机体
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2、控制面板
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3、检测台
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4、台体
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41、电机
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42、旋转板
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43、检测器
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44、保护机构
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45、支撑环
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451、开口
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452、缓冲板
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453、推杆
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454、套管
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52a、伸缩块
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52b、限位杆
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52c、伸缩杆
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54a、支撑球
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54b、限位槽
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54c、缓冲块
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54d、支撑块
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d1、底槽
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d2、反弹条
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d3、反推板
‑
d4、支板
‑
431、内腔
‑
432、支撑条
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433、扩张板
‑
434、支撑板
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34a、配合板
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34b、滑动槽
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34c、滑动球
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34d、伸缩板
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b1、连接板
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b2、转动环
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b3。
具体实施方式
[0027]以下结合附图对本专利技术做进一步描述：
[0028]实施例1：
[0029]如附图1至附图6所示：
[0030]本专利技术提供一种半导体发光板的检测平台，其结构包括支撑架1、机体2、控制面板3、检测台4，所述机体2和检测台4底面焊接在支撑架1顶部，所述控制面板3设置在机体2上表面，所述检测台4位于机体2右侧。
[0031]所述检测台4包括台体41、电机42、旋转板43、检测器44、保护机构45，所述电机42设置在台体41内底部中心位置，所述旋转板43底面中部与电机42顶端活动配合，所述检测器44位于旋转板43上方，所述保护机构45安装在台体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体发光板的检测平台，其结构包括支撑架(1)、机体(2)、控制面板(3)、检测台(4)，所述机体(2)和检测台(4)底面焊接在支撑架(1)顶部，所述控制面板(3)设置在机体(2)上表面，所述检测台(4)位于机体(2)右侧，其特征在于：所述检测台(4)包括台体(41)、电机(42)、旋转板(43)、检测器(44)、保护机构(45)，所述电机(42)设置在台体(41)内底部中心位置，所述旋转板(43)底面中部与电机(42)顶端活动配合，所述检测器(44)位于旋转板(43)上方，所述保护机构(45)安装在台体(41)中部内壁，且处于旋转板(43)上方。2.根据权利要求1所述的一种半导体发光板的检测平台，其特征在于：所述保护机构(45)包括支撑环(451)、开口(452)、缓冲板(453)、推杆(454)，所述开口(452)贯穿支撑环(451)内侧面及内壁之间，所述缓冲板(453)嵌套在支撑环(451)内侧表面，所述推杆(454)内端套在开口(452)内部。3.根据权利要求2所述的一种半导体发光板的检测平台，其特征在于：所述开口(452)包括套管(52a)、伸缩块(52b)、限位杆(52c)，所述伸缩块(52b)分别安装在套管(52a)中上位置两侧内壁，所述限位杆(52c)底端固定在伸缩块(52b)上表面。4.根据权利要求2所述的一种半导体发光板的检测平台，其特征在于：所述推杆(454)包括伸缩杆(54a)、支撑球(54b)、限位槽(54c)、缓冲块(54d)，所述支撑球(54b)中部嵌固在伸缩...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴高峰，
申请(专利权)人：吴高峰，
类型：发明
国别省市：